VRIJBUIGEN Toetsing theoretisch model TUE/TNO aan de praktijk Bijlagen mei 1989 WPA0766 Afstudeerverslag: TU-Eindhoven Fac. der Werktuigbouwkunde WPA Lab. v. Omvormtechnologie In opdracht van: Ir. L.J.A. Houtackers Dr. Ir. J.A.H. Ramaekers Door: S. Arts,M. v. Haren.H. v.d. Wiel-F. Cardinaal Hogeschool: 's - Eindhoven Afd. Werktuigbouwkunde
165
Embed
Vrijbuigen : toetsing van het theoretisch model TUE/TNO ... · Vrijbuigen : toetsing van het theoretisch model TUE/TNO ... Vrijbuigen : toetsing van het theoretisch model ... net
This document is posted to help you gain knowledge. Please leave a comment to let me know what you think about it! Share it to your friends and learn new things together.
Transcript
VRIJBUIGEN
Toetsing theoretisch model
TUE/TNO aan de praktijk
Bijlagen
mei 1989
WPA0766
Afstudeerverslag:
TU-Eindhoven
Fac. der Werktuigbouwkunde
WPA Lab. v. Omvormtechnologie
In opdracht van:
Ir. L.J.A. Houtackers
Dr. Ir. J.A.H. Ramaekers
Door:
S. Arts,M. v. Haren.H. v.d. Wiel-F. Cardinaal
Hogeschool: 's Hert~genbosch - Eindhoven
Afd. Werktuigbouwkunde
INHOUDSOPGAVE
Bijlage 1: Keetvoorachrlften
- Plaatindeling. plaatcodering
- Proefnummer
- Meetvoorschrift trekproef
- Meetvoorschrift hoogtemeting
- Meetvoorschrift diktemeting
- Meetvoorschrift ruwheidsmeting
- Deformatiemeting mbv raster/replica
b1adzijde
1
2
3
5
12
lS
methode 19
- Meetvoorschrift hoekmeting 26
- Meetvoorschrift profielprojektor 1 27
- Meetvoorschrift profielprojektor 2 29
- Meetvoorschrift contourvastlegging 32
- Codelijst operators 33
- Codelijst meetapparatuur en machines 34
- Codelijst materialen 36
- Lijst van gereedschappen voor vrijbuigen 37
- Lijst van meetvoorschriften-meetbladen 52
- Opbouw database 54
- Meetblad 1 65
- Meetblad 2,3,4 66
Bijlage 2: Standaard meetrapport trekproef 67
Bljlage 3: Contourfoto's 72
Bljlage 4: Tekenlng meetstatlef 75
Blj1age 5: Tekening buiggereedachap 79
INBOUDSOPGAVE vervolg
Bijlage 6: Kracht-Veg gegevena
- Kracht-Weg karakteristiek
- Schema Kracht-Weg opneming pers
- Standaard meetrapport pers
Bijlage 7: In- en ultvoerlljaten computerprogramma
bladzljde
81
82
83
model TUE/TNO 85
Bljlage 8: Grafieken van de theoretische produkthoek
als funktle van So in vergelljklng met de
in de pro even gevonden waardes
Bijlage 9: Grafleken van de afwljking van het model
t.O.V. de proeven
Bij1age 10: Tabellen uitgeslagen lengte
Bljlage 11: Grafleken van de afwljking van de
uitgealagen lengte t.o.v. 10
Bijlage 12: Grafleken verkorting uitgezet t.O.V. de
onbelaste hoek
93
101
129
137
154
IOFM-buigen TUE
plaatlndeling In strookindel1ng in proefstrips stroken In drie rlchtlngen
!12 2.5 175 T 175
1 ,
2 I 2 3 4 5 6 7 8 9 0
3 4 IS
5 6 7 8 119 9 I
Trekproef De trekstrips worden gemaakt uit de stroken Van deze stroken worden de stripnr's 3,4 en
Piaatcodering T I
1,5 en 9. n0 A > "brulkt·U~ ~,
l.1 1 I J I I I I I I I I I J I I I I
I I I MATERIAALSOORT PlAATDIKTE PlAATNR. STROOKNR. PROEFSTRU RICHTING
F .. - staal 20 - 2 mrn T-trekprf 9 _ 90° A .. - alwninlwn K .. - koper 11 .. - messing R .. - r.v.s. D .. - dlversen
Oplllerking De plaatcode dient aan de linker onderkant (braarnzljdeblnnen-voor) van de proefstrip geplaatst te worden.
D I~ 1 '2. ~
laboratoriull voor Ollvorlltecbnologie-tue 1
lOPH-BUIGEN-TUE
Proefnummer
v- Vrijbuigen · 5 -• 0,5 mm S - Strijkbuigen · 8 -• 0,8 mm u- U-buigen 1 · -• 1,0 mm M- Matrijsbuigen E 5 ... • 1,5 mm
2 · -• 2,0 mm 3 · -• 3,0 DIm 5 · ... 5,0 DIm 1 0 .. • 10,0 DIm
6 - 60 mm • 8 -• 0,8 mm 5 - 50 mm · 8 -~ 0,8 mm 4 -40 mm 1 · II: ~ 1,0 mm 3 II: 30 mm E 5 = • 1,5 mm 2 = 20 mm 2 · = ~ 2,0 mm 1 "" 10 DIm 3 · -. 3,0 mm
5 · -~ 5,0 mm 1 0 -~ 10,0 DIm
5 0 = 50 DIm 4 0 = 40 DIm 3 0 == 30 DIm 2 5 = 25 DIm 1 0 = 10 DIm 0 5 "" 5 DIm
laboratoriull voor ollvor.technologie-tue 2
HEETVOORSCHRIFT: TREKPROEF
Merk: Monsanto (trekbank). Type: Tensometer type 'W', serie nr: 9817. Locatie: TUE-Lab. v. Omvormtechnologle Methode: Induktieve opname, wordt versterkt, waarna de gegevens verwerkt
• worden met behulp van software.
Heetopnemers: Kracht Sreedte Dikte
Werky11ze:
Kistler type 902A, SN60699 (35 kN). HS indo verplaatsings opn. type WIT2. HS indo verplaatsings opn. type WIT2.
Er wordt van ultgegaan dat de computer en andere verwerkings-apparatuur reeds aangesloten zijn.
1. De meetapparatuur moet vroegtljdig aangezet worden om de elektronlsche circuits op bedrijfstemperatuur te brengen voordat de meting gestart wordt. Hiervoor moet ongeveer 20 minuten gerekend worden.
2. Afmetlngen trekstaaf:
10 ....
~---------- .. in: 160 .... --------~
3. De beginbreedte (bo) en de beglndikte (so) moeten gemeten worden met een micrometer. Dit moet zo nauwkeurig mogelijk gedaan worden.
4. Om de trekstaaf in te kunnen zetten moet eerst de rechtse bek verplaatst worden met behulp van het handwiel. Wanneer de opnemers ver genoeg van elkaar afstaan t kan de trekstaaf In de spanbekken geplaatst worden. Let hlerbij OPt dat de trekstaaf aIleen op het verbrede gedeelte van de trekstaaf klemt en niet op het smalle gedeelte.
5. WanneeT de trekstaaf nog geen voorspanning heeft, moet het krachtsignaal op nul gezet worden door mlddel van een reset. De Rreaet--knop bevindt zich op de ladingversterker. Deze is verbonden met het piezokrlstal.
6. Wanneer de trekstoaf recht 1s ingezet, dan kan met behulp van het handwlel een voorspanning aan de staaf gegeven worden. Deze voorspanning moet ongeveer 200 N (- 20 mV) zijn.
laboratodulII voor Olllvorlltec:bnologie-tue 3
7 .. Voor de verplaatsingsopnemers gelden de volgende handelingen:
* Alle vier de opnemers moe ten eerst vrij 11ggen en geen contact maken met de staaf.
* Neem ~cn van de twee dikte-opnemers en draai met de schroefspindel de opnemer nssr de trekstaaf toe, totdat de millivolt-meter ongeveer -1500 mV aangeeft (~ 25 mV).
* Neem nu de andere dikte-opnemer en draai deze eveneens nsar de staaf toe, totdat de millivolt-meter exact 0,000 mV aangeeft,
* Volg deze1fde procedure voor de breedte-opnemers,
Let. OPI 1>oorloop d • • pdh" va d. ac:hroetdnad elt.ljd op allll .... hr. -s.t. u .... der •• t.djUna_ .uUn ant.ta. 11l de al.t.dUnl.
8. De voorbereidingen van de proef zljn nu getroffen. zodat het datataker trekproef-programma opgestart kan worden. Hen klest voor de atandaard proef. Dit programma moet doorlopen worden totdat de melding ·computer + datataker standby· op het beeldscherm verschijnt. Dan kan de trekbank worden aangezet. De computer werkt nu ·stand alone w,
9. Voor aan verdere verwerklng van de gagevens moeten de commando's (vragen) van het programma gevolgd worden.
laboratoriull voor OJlvormteebuologie-tue 4
MEETVOORSCIIRI FT: nOOGTEI1ETl tiC
Merk: TESA Type: MICRO-lUTE I, Loclltle:
fabr.mod.nr: 9J 0126, type nr: 07.60018. HSE-Meetkamer.
M!'thode: Mechanisch met digi tale weergave. Mcetonnauwkeurigheld: Maximale afwijking van de maat, met gebruikmaking
van standaard onderdelen - (3 + 0,006*1) pm met 1 in millimeters. Imar- 200 mm • max. afw. < 5 pm. Maximale afwijking in de haaksheid • 3 pm, bij een hoogte van 500 Mm.
\lerkwi]ze:
1. Z~t de MICRO-HIlE aan met de ·ONft-knop aan de zijkant van het apparaat.
2. Door op de zwarte drukknop aan de voorkant te drukken kan de MICRO·IIITE vcrplaatst worden. Dit gebeurt door middel van een kleine compressor die een luchtkussen vormt.
3. Met behulp van de grote knop onderaan het apparaat kan de meeteenheid verplaatst worden. Deze knop kan men blokkeren met behulp van de zwarte ring.
4. Reweeg de meetccnheld nu zo dat de zwarte piji (midden op de meeteenheid) de twee I1jnen halverwege passeert.
5. Op het display verschijnt nu "-·11···.
6. Vervolgens moet de meter geijkt worden.
7. Tlk nu "20" in en druk vervolgens op de toets "SP".
8. Pak nu de callibratie-standaard en zet deze voor de taster (kies een geschikte taster). Taster 1: nr: 07.60061, (srQndplut ala nfe • ..,t.h)
Taster 2: nr: 07.60066.(vlllk ala referent.h)
T .. t.er 1, t •• ~er Z:
9. Raak met de taster het ondervlak aan en draai voorzichtig door totdat men een pieptoon hoort. Reweeg nu de taster omhoog tegen het bovenvlak. Draa1 nu weer door tot de pieptoon. Ga vervolgens weer naar beneden en herhaal deze hande11ng nog een keer (de afmeting van de 1nkeplng vordt nu vergeleken met de ingetikte maat).
De MICRO-HITE heeft nu een correctiefaktor berekend aan de hand van de lngetikte waarde.
laborat.oriull voor ollvor.tecbDologie-t.ue 5
Bet meten:
Met de MICRO-HITE I kan op de volgende manteren gemeten worden. Hlervoor heaft men twee mode's.
* Mode 0: Dlt Is de callibratle-mode. Hen tlkt eerst een "0" In, om aan te geven dat men in "mode 0" viI gaan werken. IIlerna moet de callibratie-maat ingetlkt worden, vaarna men twee keer deze maat meet.
Schematisch:
I 20mm 1
bb. a~
I
'/ '//', ",
Aantasten van meetplaats
Handeling Aandulding
MICRO-HITE Inschakelen met "ON"·knop • -11·-
Meeteenheid met referentiepljl langs twee pijlen bewegen Data 0
Rererent1emaat intikken: 20 rom
2 0 Data 0
SP 20,000 0
a 0 b 0 a 0 b st
laboralOtium VOOl omvorlDtechnologie-tue 6
* Hode 1: Hen tikt eerst "I" in om aan te gevp.n dat men In "mode 1- wil gaan werken. De mnst die men nu het eerste meet wordt de oorsprong. Als men nu aantast (tot pieptoon) verschijnt de lengte, gemeten vansf de oorsprong, op het display.
Schemntisch:
b
Anntllsten van IIsndel1ng Aanduiding meetplaats
1 1
a 0,000 1 b hI 1 c hz 1 d h3 1
Voor het automatisch uitprinten van de meetwaarden, moet de volgende handeUng gedaan worden: ISHII CD . Om het automatisch uitprinten te stoppen, moet men deze handeling nogmaals uitvoeren.
laborat.oriull voor OllvorllttChDologie·tue 7
Heetopste11ing voor het meten van de 1engte (10) van de p1aat:
1 3
1: Baulblol< ( .. mu)
2: t. _tan plaatj.
3: t .. t." van d. hoo,t_tu
!!retopstelling vogr het meten van de benen na de bulglng (buLghoek: p ~ 90 ):
1 2 3
1, Baulblok (m.mer)
2: t. maten (,.boll.n) plntj.
,: t .. t. ... van d. hoolt"",.t.U
Neetopstell1ng vogr het meten van de benen na de bulging (bulghoek: p > 90 ):
.tend .... d
laboratoriull voor ollvonltec:hno)ogie-tue 8
Opmnrking: 10 en a en b worden gemeten over het midden van de plaat.
I Ifrl.4!9TCQl'£ I
~ I r{fir!; tD
I a. ,
I I
laboratoriU1D V001 olivorlDt.ecbnologie-t.ue 9
net be palen van de uiteeslaeen lengte voleens DIN 6935:
Bcrekenlng van de uitgeslagen lengte.
Gcstrekte lengte 1 - a + b + v (v is een corrrectiefactor. die afhankel1jk is van de buighoek).
o 0 * Openingshoek (3: 0 tim 90
v - • ( '8::/). (<+ -i . k) -2 ( r .. )
* Openlngshoek (3) 900
tim 165 0
v _ 7f (_1_8_0_0 _-_(3_). (r + -2s
1800
a
laborat.oriUID voor olDvorlDt.ecbuologie-tue
(180
0
• fJ) tan
2
10
o 0 * Openingshoek /1'> 165 tim 180
v - 0
DP correctiefactor k geeft de ligging aan, van de neutrale I1jn ten opzlchte van de mlddellijn.
1 k - 0,65 + ~ log
r s
> 5
k - 1
De norm bevat verder:
r s
~·k 2
- Een grafiek waaruit k af te lezen is als funktie van r s
- Een tabel met afgeronde r waarde van k, bij verschl1lende ----verhoudingen. s
- Een grafiek waarmee als k bekend is, v bepaald kan worden.
o 0 - Tage11en waarin voor ledere buighoek van 15 tot 180 oplopend met IS , v is uitgerekend blj verschillende plaatdlkte en bulgradlus.
laboratorium voor OllvoflDtechoologie-lue 11
lOre bulgeD TOE
MEETVOQRSClrnlfT BETBEFFENDB DE OIKTEMETlNG
Gebrulkte apparatuur
Mitutoyo Digimatic Indicator, 10-130 H, serie No. 505929 Verwerkingseenheid, Mitutoyo mini-processor, DP-l, serie No. 602388 Lokatie: TUE-Lab. v. Lengtemeting. Nauwkeurigheid: ± 1 ~m.
Korte beschrijving van de meetopsteiling.
Het geheel bestaat uit een diktemeter en een verwerklngseenheid met papierrol. De diktemeter is aan een meetstatief gemonteerd.
Heetopstelling.
DlGIMATI[ INDICATOR D DP - 1
0 0 o 0 DO
CJ CJ
laborat.oriull voor olllvormttchnologit-tue 12
De diktemeter.
Als de diktemeter en de verwerkingseenheid is aangezet
( modeschakelaar op 1 ) verschljnt er in het venster :
It 0.0000\
Als t getoond wordt, dan is een verplaatsing naar boven posltief. Wordt er ~ getoond, dan is het net andersom. Met de t-knop aan de zijkant kunt U dit eventueel omwisselen.
Met de I zero I )tnop stel t U het nulpunt in.
Het meten
Er worden 3 • 3 metingen gedaan
en weI over de A, B en C lijn
volgens nevenstaand figuur.
Werkwijze ;
We gaan nu meten • Plaats het
plaatje onder de diktemeter en
manoeuvreer het plaatje zodanig
dat punt Al onder de taster
komt te 1iggen en laat de taster
zakken. Ais de uitlezing stablel
is drukt U op Idatal.
PLAAT-CODE
c---------------B---------------A---------------
1 2 3
Na de drie metingen op de A-lijn drukt U eerst op I STAT I om de
statische verwerking te krijgen (v.b. zie laatste blad) en daarna
op ~ om het geheugen 1eeg te maken • Dit alles
herhaalt U voor de punt en op de 1ijnen B en C.
laboratoriull voor ollvorlltechnologie-tue 13
Een voorbeeld
le,2e en 3e meting over lijn A
Plaatcode nummer + letter van de te meten lijn
Datum proefneming
Nummer operator
Aantal metingen
De grootste gemeten waarde~ De kleinste gemeten waarde-, L-________________ __
Herk: Hitutoyo. Type: Surf test 401, serie nr.: 600601.
Hethode: Heehani.eh, met electronische verwerking en digitale weergave. Leeatie: HSE-Heetkamer.
Werkwijze:
1. Zet de Surf test met randapparatuur aan aat behulp van de -ON--knoppen.
2. Vervolgens wordt de tastararm op da volgende vijza op bet ta meten oppervlak gaplaatst:
a) Werkstuk in meetposltle brengen. b) Klambout voor bet roteren losdraaien (fig. 1):
aronnet-.lll",
fla. 11 Inat.elJr;noppen.
c) Draai met bebulp van de fijninstelling de detector op het werkstuk, totdat de tasterarm zich parallel ten opzichte van bet meetvlak bevindt (fig. 2):
d) Verstel de tasterarm nu zodanig, met de draaiknop, totdat er in de display de volgende ddehoekjes verschijnen X (X en.x. zlJn ook goed, fig. 3):
' .... I: Dnall<nop lanas h.~ d1.pl.,..
laboratoriull voor ollvorlltechooloBie-t.ue 15
3. De meetwaarden moe ten ingesteld worden (fig. 4):
Ra T •
- Parameter:
- Heetbereik:
DODD
Hier wordt de ia-waarde gekozen. Druk de parameter-knop in, die overeen komt met de ia-vaerda.
Dit is het bereik van de ia-vaarde. Druk op de Wrange"-knop en stel het bereik op 10. Als dit te klein is lichten aIle eijfers op (fig. 5):
[n" 100 IS
001")00 .... '.0.0 ..... '.'-·
fl,. 5: Dlapl.,..
O.lI
JJm
- Cut-off lengte: Dit is de lengte vaarover "gemlddeld" vordt (lc).
- Heetlengte:
Druk de ·lc"-knop in en stel deze op 0,8 mm.
n·le, hiervoor moet de "n'lc"-knop ingedrukt vorden en n ingestel worden op 3 of 5.
4. De meting kan, na het instellen van aIle parameters gas tart vorden met de "start/stop"-knop. De taster beweegt dan over het oppervlak en berekend dan de ia-vaarde. De gemeten vaarde verschijnt op het display.
5. Het automatiseh printen van de gemeten vaarde kan op de volgende wijze lngesteld worden:
Druk serst op de " break • -knop, daarna op de ·print"-knop en set/reset
vervolgsns op de ·L"-knop.
laboratoriua voor oavoratecboologitH,ue 16
Deze methode wordt gebrulkt voor het meten van de Ra-waarde van: .
a) net plaatje voor het buigen (aan de bultenkant, codering i. blnnenkant).
1. Voor het kalibreren gebrulkt men het bljgeleverde ijkplaatje.
2. De Surf test wordt op het plaatja ingestald zoals in de meetvooraehriften omsehreven Is.
3. De installing van de parameters lulden als voIgt:
- Parameter: - Range - n·>.e - >.c
Ra 10 pm '* 5 0.8 DII1I
4. Druk op de ·start/stop"-knop. De meting wordt nu ultgevoerd.
S. Nu moat geeontroleerd worden of de gemeten Ra-waarde overeenatemt met de waarde op het ijkplaatje. Komen belde waarden nlet overeen, dan moet deze waarde bljgesteld worden met behulp van de "GAIN"-instelsehroef (fig. 1).
G"'" @-~~:I4--J
ACaolll'Pftft 0Cty.1IC:Iow..
@4:·0 @
1'1&. 1: GAll v.nt..1Una
GAIN
~
GAIN
~ eat(]) V.r1 ... I.II& 111 due dcllt,lna
6. Deze handeling moet %0 vaak ~erhaald worden totdat beide waarden overeensteramen.
laboratorh'D voor oavor.uehDologie-t.ue 18
DEFORHATIE HETING mby DE BASTERIREPLICA HEnIODE TUE-Lab. v Omvormtechnologie.
WAT ZIJN RASTERS ?
Een raster is een lijnennetwerk dat op een materiaal vordt
aangebracht om de deformatlecomponenten te kunnen meten die
ontstaan door een omvoraende bewerking. De belangrljkate
toepassing is de bewerking van plaatmateriaal.
Het is slechts nodig twee deformatiecomponenten te meten,
omdat bij plaatische omvoraing de volume invariantie van
toepassing la. Er geldt namelijk i!l + U + U - o.
Om twee componenten te kunnen meten moet een gunstig gekozen
lijnennet op het oppervlak van het plaatmateriaal .angebraeht
worden.
EEN RASTER MOET VOLDOEN AAN
1 Het moet goed op het materiaal hechten.
2 Het moet aIle deformaties volgen zonder te bars ten of te
verdwijnen.
3 De I1jnen moeten duidelijk zlchtbaar zljn.
4 De lijnen moe ten zeer scherp begrensd zijn en bij
deformatie ook blijven.
S Het netwerk moet maatvaat zljn en zeer nauwkeurlg op het
materisal overgebracht kunnen worden zodat de diver ••
afmetingen niet steeds opnieuw gemeten moe ten worden.
voordat er deforaatie plaats heeft gevanden.
6 De lijnen moe ten geen kerfwerking veroorzaken.
1 De methode van het .anbrengen van het netwerk mag geen
corrosie van het oppervlak veroorzaken.
8 De laagdikte van het netwerk moet klein zijn ten opzlchte
van de plaatdlkte.
9 Het netwerk moet %0 eenvoudlg mogelijk zijn aan te
brengen.
19
5 Kleuren.
Dompel het proefproduct ± 10 aec. In Cllchodur
(kleurstof) • daarna afapoelen en drogen De
rasterlljnen zljn nu blauw of rood gekleurd. afhankellJk
van de gebrulkte kleuratof.
6 Ulthard~n gevoelige laag.
Het opgebrachte rooster moet mlni .. a1 24 uur uitharden 0.
voldoende slljtva.t te zljn.
Cebruikte materlalen
1 Fotovloelstof (vi81ijm).
Cllehosol Kopieerloaaung.
2 Cromeervloelataf. die na menging het cllcho.ol
llehtgevoelig maakt.
Cromierung fur Clicho.al und Heli0801.
3 Blauwe kleurstof.
Clichodur Hartearblad.
Chemicalieen.
Fa Kllmsch en Co Frankfurt/Haln
Nederlandse vertegenwoordlg1ng WIFAC Nljverheidsweg 6·9
Poatbus 175
HET HElEN VAN RASTERS NA DEFORHATIE
3640 AD Hljdreeht
Tel. 02979·89691
Na het vervormen van berasterde p1aat door b.v. te bulgen
hebben de oorspronkelljke elkelraaters de elip.vora
gekregen.
Om een julst inzlcht te krijgen van de optredende rekken In
de vervormde plaat. moeten de aasen van de ellpsen worden
gemeten. (Hoofdasaen van de deforaatie)
Het meten direct vanaf het vervorade buigdeal ken uitgevoerd
worden met aen Kleine handmieroacoop.
fl' .1.1
20
HET AANBRENGEN VAN RASTERS M.B.V. DE KOPIEERMETHODE
Dlt is een methode die aan aIle gestelde eisen voldoet en die
door ons veor de proeven wordt toegepast.
Het principe van het procede.
Op het metaaloppervlak wordt een dunne regelmatige laag van
een emulsie aangebracht die lichtgevoelig ia. Hiervoor wordt
een mengsel van ammonium-bicromaat en bljvoorbeeld vl.1ljm,
elwit, polyvinyl. alcohol of achellak gebruikt. Dlt
blcromaat vorat onder invioed van ultravioletllcht een oxide
dat onoplosbaar la in water en dat goed hecht aan bet .. taal.
De bewerking om een raster op bet materiaal aan te brengen.
1 Materiaal ontvetten en reinigen met VIM.
D ••• v. vochtlge watten de oxidelaag afscburen.
2 Opbrengen geveelige laag.
Keng ammonium-bicromaat en vis11jm in de verhoudlng 1:50
Bevochtlg het materiaal met water breng de
fotov10eistof %0 dun en %0 gelljkmatlg moge1ljk op en
droog daze daarna gelijkmatlg met warme 1ucht (fohn).
3 Bellchten.
Rasternegatlef aanleggen
glaap1aat) . Gevoellge
kwlklamp (tljd 1 min. 10
en overal goed aandrukken (met
laag belicbten met hogedruk
sec.).
• ... t.. ,l.-plut.
:r •• t..me,et.ler , .... o.U •• lee,
ft,.l.l beUeht.a ..... relten.
4 Afspoelen.
Het bellchte opperv1ak onder
aIle onbelichte gedeelten
verwijderd zljn.
laboratoriu. voor o.vo,..t.eebDololie-t.ue
atromend water afspoelen tot
van de gevoelige laag
21
A
Voor naukeurig meten 1. de bandmlcro.coop niet geacblkt. Er
vordt namelijk niet lang. bet gekromde oppervlak gemeten
volgens de gebogen piJl • maar men meet de directe afstand
tussen bet begin en bet elnd van de elips-as zoals de
reebte pljl aangeeft (fig 1.2). Bovendien wordt de
aeetnauwkeurigbeid k1elner naaraate de clreeldiameter groter
wordt.
Ook _en starkere kroaalng belnvloed de meetnauwkeurlgbeid
ongunstlg (fig 1.3).
De proeentue1e aeetfout 1. afbankelijk van de kromming (fig
1.4 ).
fll. 1 . 3
1.0
- .. 1001 r: .1(>
0.' 0.' alii 1/2!,
1/2q> 0.4
0.2
0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 r: ....
fll 1.4
Er komt nog een meetfout blj als de bandmleroseoop nlet
loodreeht op het te aeten oppervlak ataat (fig 1.S + fig
1.6) •
A --. L 1001
f11. 1.5
laboratoriua voor omvor.tec:bDolocie-lue
3.5
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
~
a 4 • • 10
fll. 1.'
14 GO
22
De nadelen van de direete aeting aet de handmicroscoop
kunnen worden voorkomen door een afdruk van het raster te
maken een zogenaamde replica • vaarblj een atrook maatvaat
materiaal de te aeten vorm voIgt en een afdruk van het
raster opneemt.
De door4
ons gebruLkte replica aethode verkt als voIgt:
Reinig vooraf het te aeten opperv1ak met .en
ontvettLngsmiddel.
Het te meten oppervlak vordt bestreken met een gekleurde
striplak •
Voor een goed resultaat is het nodig daze lak zonder fohn of
andere hulpmiddelen te laten drogen.
Na het drogen vordt een transparante tape op de atriplak
gebraeht en goed aangedrukt. Van de tape vordt dat deel
uLtgesneden dat de te aeten vora bedekt.
Na het uitsnijden laat de tape met de daaraan klevende
striplak na lLchte aanraking uLt ziehzelf los en moet dan
voorzlchtig van de plaat vorden genomen. Op de tape i. nu
een afdruk van het raater zichtbaar.
De afgenomen tapes vorden san de uLteinden op een
kunstofplaatje geplakt. M.h.v. een meetmLcroscoop kunnen d.
cirkels met voldoende nauwkeurLgheLd vorden opgemeten.
Deze replica methode i. de snelste en de eenvoudigste.
Bovendlen ken dezelfde meetplek meerdere malen op dezelfde
wLjze worden bewerkt.
Te gebruiken replica materLaal:
Striplak blauw S 42/1
Slkkens lakfabrieken N.V.
Sassenheim Holland.
Literatuur
DE GROOT M.Th. de Groot Het fptpchemLsch aanbren&en
van deformatierastera.
Rapport Hr 0223 TUE. Eindhoven.
laboratoriu. voor omvormtecbnololie-tue 23
HEETPLAATSEN + CODE DEFOBATIEMMETINGEH
I = binnenzijde I Os buitenzijde)
C,H,J,L,M(idden),N,p,R,W (rij)
1,2,3,4,5,6,7,8,9 (kolom)
BUITENZIJDE ~
987 654 Ilf
321
I I I 30QOTAAJQ
10 10
32.5 32.5
W( 10) R( 5) P( 3) N ( 1)
M(idden} (0) L{- 1) J(- 3) H(- 5) C(-10)
y
b.v. I M 1
BINNENZIJDE ~
123 456 789 III In
PLAATCODE
N.B. De qetallen 1 tIm 9 (kolom) en de qetallen tussen haakjes na de letters (rij) hebben betrekkinq op de onderlinqe afstand tussen de meetplaatsen en qeven aan in welke baan in X of Y richtinq in het cirkelraster wordt qemeten. De metingen hebben betrekking op de buitendiameter van het cirkelraster.
laboratoriu. voor o.vor.t.ecbDologie-t.ue 24
IOFM bulgen TUE
m:EtBUD DEFORHATIEMEl'INGEU m.b.y, rasters
Plaatcode I I I I I I I I I
operator 0
Meetblad rn [!] m
Uitqanqsdiameter onvervormd raster
d. qem.
* alle maten in mil.
1
2 3 4 5 6 7 8 9
1 2 3 4 5 6 7 8 9
1 2 3 4 5 6 7 8 9
X-richting Y-richtinq ITJ_
.1--"-1-1
.1--1-11-1 • "-"1-11-1
datum I I I I
apparaat 0
§:/!§ §:/!§ . . X --------~-- Y --~~-~-~---
0,1 I I 1_. 0 I I I 'mm.
X-richtinq Y-richtinq ITJ_
.1--1--1-1
CD_
• "-"1-11-1
• "-""-"1--1
• I--I-I~ .I-I-IH
25
MEETYOORSCHBIFT HOEIOO:TING
Meetapparaat
Werkwijze
: Mitutoyo universele hoekmeter type 187-908
:
TUE Lab. voor omvormtechnologie Lokatie: 1-TUE Lab. voor omvormtechnologie
2-HSV Lab. voor Produktietechniek
1- Controleer of het plaatje haaks gebogen is, d.w.z. of de buiglijn loodrecht op de hartlijn van het plaatje staat.
2- Leg de benen van de hoekmeter langs het uiteinde van de benen van het plaatje.
3- Lees de hoek af.
Nauwkeurigheid
Opmerking . .
De hoekmeter is tot op 5' nauwkeurig.
1- De hoekmeter serie 187-908 wordt uitgevoerd met verlengde benen om de meting te kunnen realiseren.
2- Gemeten wordt p aan de buitenkant,zowel in belaste als onbelaste toestand, aan de "voorzijde" van de plaat.
laborat.oriu. voor o.vonatechDolocie-t.ue 26
MEETYOORSCHRlfT PROFIELPROJECTQR 1
Meetapparaat Profielprojector ISOMA
Methode
Werkwijze
+ bijbehorende hoekmeter nr.: WT0008 TUE Lab. v. Lengte meting
optische vergroting m.b.v. een lenzenstelsel.De contour wordt op een glasplaat geprojecteerd. Vergroting: lOx.
1- Controleer of het plaatje "haaks" gebogen is d.w.z. of de buiglijn haaks op de hartlijn van het plaatje staat.
2- Zet de projector aan met de voorste on-knop. Er valt nu licht van boven op het oplegtafeltje.
3- Plaats het op te meten plaatje/replica op het oplegtafeltje.
4- Stel scherp m.b.v. het scherpstelwiel.
5- Het contour staat nu scherp op het projectiescherm. Er kan nu gemeten worden.
6- V~~r hoekmeting gebruikt men de bijbehorende hoekmeter.
7- V~~r lengte meting kan men de oplegtafel verplaatsen, de verplaatsing is dan op het wiel af te lezen. Dit kan zowel in de langs (y) als in de dwars (x) richting (z1e ook tekening).
Draal het beginpunt van de te meten lengte m.b.v. het wiel tot tegen een referentielijn op het projecteischerm. Lees de waarde op het wiel af. Draai vervolgens het elndpunt ~an de te meten lengte tot tegen de referentielljn en lees de waarde weer af, het verschil van deze twee waarden is de uiteindelijke lengte.
laboratoriu. yoor omvor.techuolosie-tue 27
Nauwkeurigheid: De nauwkeurigheid waarmee gemeten wordt is onafhankelijk van de vergroting, maar weI afhankeIijk van het meetinstrument.
V~~r hoekmeting is dit de nauwkeurigheid van de hoekmeter. Daze is tot op 5' nauwkeurig (zie voorschrift hoekmeting).
Voor Iengte meting is dit de nauwkeurigheid van het verplaatsingsmechanisme. Deze is tot op 0,01 mm nauwkeurig (zie punt 7-werkwijze).
Meetapparaat: Profielprojector ISOMA "ll9.N met oplegtafel Zlll. HSV - lab. v Produktietechniek
Meetmethode: Optische vergroting m.b.v. een lenzenstelsel. Het contour wordt met behulp van doorvallend licht op een glasplaat geprojecteerd. Vergroting 20x.
Werkwijze
1- Controleer of het plaatje "haaks" gebogen is, d.w.z. of de buiglijn baaks op de bartlijn van het plaatje staat.
2- Zet de profielprojector aan met de bovenste draaiknop rechts van het apparaat.
3- Plaats het op te meten plaatje/replica op de oplegtafel.
4- Stel scherp m.b.v. het Bcherpstelwiel.
5- Het contour staat nu scberp op het projectiescherm. Er kan nu gemeten worden.
6- Voor de hoekmeting wordt een van de benen van het gebogen plaatje in beeld gedraaid (met de langs- en dwarsverplaatslng van de oplegtafel) tegen het middelpunt op het projectiescherm. De buitenste 40 mm van het been wordt in beeld gebracht. De hoek wordt afgelezen op het projectiescherm. Vervolgens wordt op de zelfde manier het volqende been in beeld qedraaid. Oak biervan wordt de hoek afqelezen op het projectiescherm. Het verschil tussen de twee hoeken is de openingshoek P onbelast van het qeboqen plaatje.
laboratoriull yoor olivorlitechDolosie-tue 29
Nauwkeurigheid: V~~r de hoekmeting is dit de nauwkeurigheid van het meetvel op het projectiescherm. Dit is op 15 1 nauwkeurig afleesbaar.
De oplegtafel kan in de langsrichting (y) 200 mm en in de dwarsrichting (x) 50 mm worden verplaatst. De nonius is afleesbaar op 0,001 IIIJD.
Norrn-Messplallen-Relerenzzelchnungen PO Llnlennelz-polar
RIIdlus·Abslufung 1 mm
.rgibt bel Vergrosserung
mm
Messwinkel
5x 0.2 "1---:':-1 --~~I·--=50=x _I 100x I 200 x
0,04 0,02 0,01 0,005
1m Zenlrum fO-Punkll schneidend, Inlerval! 30' belm Formal 300 x 400, andere Formate je nach Grosse 15' bls 10
Mil den Unlen der Nelzlellung sind rechtwlnkllge, parallele, krelsbogenlormige Formen und Winkel zu messen; weilerhln Kurven In Winkel- und Rlldlus·VermAssung. Zwlschenwerle kOlmen geschatz! werden oder mit elner Messlupe bezw. durch Ausmessen mil dem Messlisch d81l Profll-Projektors ermlllelt werden
B"schrlflung Radienteilung beziflerllur VergrOsserungen 10x. 2Ox, 125xl, 5Ox. lOOx Winkelleilung belilfert von 10· zu 10' rechtslaulend
1 Prollle mit parallel und rechtwinklig zueinander verlaulenden llnlen 2 Profile mit winklig zueinander verlaulenden lInien 3 Profile mit krelsbogenf6rmlg verlaufenden lInien .. Profile mil Kurven In Winkel. und Radius-Vermassung (Polar-Koordinalen) 5 Absliinde und Teltungen,ln Winkel· und Radlus·Vermassung (Polar-Koordinalen)
FOI'ma' Type POl 30011400 mm; endere Messplallenabmessungen nach GrOne ft, Blldschirmes erhIllllch
Mate,lal Au.fi.itlrung der Messplatlen In Ota. fur hothsle Anspriiche. Spezlalkunstatoff fur weniger grosse Genaulgkel\
laboratoriu. voor o.vormt.echaologie-tue 31
MEE1'VOORSCHRIFT CONTQURvASTLlGGIHG
Apparatuur: A) Fotocamera merk: Hikon type: F2 + macro object!ef + motordrive flitser merk BRAUN type 37 Bve film: AGFA ORTHO ASA 25 TUE-WFW Lab. v. Biomechanica
B) Fotocamera merk:· Polaroid Type: SLR 680 TUE Lab. v. Ollvormtechnol09ie
Werkwijze: 1) Aan de voorzijde van de pers wordt vlak tegen het buiggereedschap een plexiglasplaat geplaatst. Aan de achterzijde van deze plaat is een raster en een vel tekenpapier geplakt.
2) Op ongeveer 30 CII afstand, voor de plexiglasplaat, wordt de camera op een statief geplaatst.
3) De achterbeschermplaat van de pers wordt verwijderd en vervangen door een lIatwitte plexiglasplaat. De flitser wordt op ± 20 em achter deze plexiglasplaat opgesteld.
4) Na het maken van opnamen van de gebogen contour van het buigplaatje in diverse buigst~dia worden deze uitvergroot of als dia geprojecteerd. •
5) De contour wordt vervolgens langs de buiten kant van het gebogen produkt in het raster opgemeten en en eventueel via een curve-fitting programma vastgelegd.
Specificaties voor apparatuur A: Flitser stand: VARIOPOWER 1/2 camera asa 25
Schematische opstelling:
sluiter I (rode streep) diafragma 8 cq 11
_--I----pers
roven s t empet
proefstrip
.,.------r-.---- mat papier ------; ra~~
I~ ____ ptex iqtas
flilser '-CJ ~;....:0'--to,",,1 -camera
t) ~ 300
mat pexigtas--~ ktem
matrijsb\okken--- --------"'
laborat.oriu. voor omvormtecbnologie-t.ue
-afstandbediening
32
IQ~lHWlt!EH lYE: CODELIJST OPERATORS
1 S. Art. HSB 2 H. v Haren USB 3 U. v.d. Wlel HSB 4 F. Cardinaal USE 5 P. Dings HSV 6 H. Tran HSV 7 J. Kempen HSV 8 P. Boonen HSV 9 H. Smeets TUE
Hel AL.1S t AL99.5 J zacht dleptrekkwalltelt Werkatofnr. 30255
Herko.at:
.36
IOPB-BUIGEN-TYfi
LIJST VAN GEREEDSClIAPPEN YOOB RET VRIJBUIGEN
Voor het vrijbuigen worden er drie identieke setje's gereedschappen gemaakt. Een setje met de aanduiding TUE (Technische Universiteit Eindhoven), een setje met de aanduiding RSE (Rogeschool Eindhoven) en een setje met de aanduiding HSV (Hogeschool Venlo). Elk setje bestaat uit 8 stempela, 4 paar matrijsblokjea en 6 matrijswijdteblokjes. De stempels en matrijablokjes worden gemaakt van gereedschap.taal 42 Cr No 4 en de matrijswijdteblokjes van st 37.
Heetblad yoor bot bepalen yan de y maat yan de matrijswijdteblOkjel~
mzD ~DDG
aanduidinq meetplaats
A B C
TUE 10 TUE 20 TUE 30 TUE 40 TUB SO TUE 60
aanduidinq meetplaats
A B C
HSV 10 HSV 20 HSV 30 HSV 40 HSV 50 HSV 60
aanduidinq meetplaats
A B C
HSE 10 HSE 20 HSE 30 HSE 40 HSE SO HsE 60
Wqem
Wqem
Wqem
41
lOPlS-BUIGER-TUE
Het bepalen van de grootste atwi1king van de YD aaat.
* Bepaal de gemiddeide dikte van elk matrijsblokje. * Tel In elk setje (bv setje TUE) de diktes van de bij elkaar
borende blokjes op.
t grootste positieve afwljking -[grootste Y maat matrijswijdteblokjes kleinst som van de diktes van de matrijsblokjes - wD]
• grootste negatieve afwijking -[kleinste w maat matrijswijdteblokjes -grootste som van de diktea van de matrijsblokjea - YD]
conclusie; De wD maat kan met een nauwkeurigbeid van - 0,1 am worden ingeateld.
Opmerking: De wD maat kan ook afwijken ten gevolg van apeling in de machineklem. Ala gevolg van deze apeling kunnen de twee bekken gaan schranken doordat de matrijawijdteblokjes asymetriach worden ingeklemd. Om dit schranken zoveelmogelijk tegen te gaan mag men de klem niet met de zwengel dicht draaien. Hen dient de klem met de band vast zetten. De maximale schuinstelling over de breedte (b - 76 am) van de matrijsblokjes is dan nog maximaal 0,1 am.
(Deze afwijking is bepaald met een micrometer voor het meten van binnenmaten, merk Barletti Milano.
laboratoriua voor oavoratechDolosie-tue 42
IOPH-buhen-WE
Heetblad ruwheld bulgstempel:
Bulgatempel: D leOperator D
mm
DatUil D D 11.oj..1_--, Apparaat D
Ra(J..ua) A B
1
2
3
laboratoriua voor oavorat.ecbDolocie-t.ue
C
43
Meetblad ruwheld matrljs:
1
Matrijs : DILP- I I R~- 10 ILe- I I Re- I-Operator: 0 0 Datum DD Ij DDlj Apparaat: 0 0
Ra(lJ,III) A B C RaJl.i!r!1 A B C
1 1
2 2
3 3
laboratoriua yoor o.von.techDololie-tue 44
IOPK-bulgen-TUE
-"
r1 I illi QY(} SLI~'= i E S ~ O(HE "4-o~-ltte9 r-p.4 ""'''\1'1£ trio (f 4S'" Bz
Ra
...---
SOu III 9 •. SmlU
)(S
1. ;>um
fiB: Het graflseh gedeelte wordt aIleen ultgeprlnt voor elk. ,- strip' van .en strook.
45
IOPB-BUIGEN-TQE
DIKTEMEtING VAN DE MATRIJSBLOKJES
Bij deze meting wordt op 8 plaatsen de dikte van de matrijsblokjes gemeten (zie fig. 4). Van elk setje matrijzen worden de meetgegevens in een matrix ingevuld (zie matrix 1, 2 of 3). Hen kan nu van elk setje de gemiddelde dikte egem berekenen. Deze dikte is van belang bij het maken van de matrijswijdteblokjes (zi. fig. 3). Als deze blokjes nauwkeurig zijn gemaakt kan men ook de matrijswijdte wD nauwkeurig ins tell en.
fig. 4
Meetyoorschrift;
meettoestel: diktemeter merk : mitotoyo type : digimatic ID - 130M (met presetter en een DP - 1
verwerkingseenheid) plaats : TUE lab. v. lengtemeting methode : mechanische opnemer en een weergave d.m.v •• en print
uitdraai nauwk.urig-heid : ± 1 pm
laboratoriu. voor o.vor.t.ecbDologie-t.ue 46
IOFH-BUIGEN-TVE
Meetblad voor het bepalen van de gemiddelde ditte ega. (zie fig. 1) van de mat~i1sblokjes.
op 0 dat EJ EJ G ap 0
matrix 1
"'matrijs
rDl roa A1 A2
10 0.5
0.5 10
5 0.8
0.8 5
3 1
1 3
2 1.5
1.5 2
meetplaatsen
A3 81 82 83 C1
/
/
/
/
/
/
/
/
83 is niet te meten inverband met een boutgat. AIle maten in mm.
totaal egem - ----------61
-> 8 gem - ••••••
laboratoriu. voor o.vorat.ec:haoJocie-f,ue
C2 C3
totaal
tot.
47
lOrK-BUIGER-ruE
Meetblad voor het bepalen yan de gemiddelde dikte eg8m (zie fig. 4) yan de matrijsblokjes.
op 0 dat EJ EJ G ap 0
matrix 2
matrijs
PDl PD2 A1 A2
10 0.5
0.5 10
5 0.8
0.8 5
3 1
1 3
2 1.5
1.5 2
meetplaatsen
A3 B1 B2 B3 Cl
/
/
/
/
/
/
./
/
B3 is niet te meten inverband met een boutgat. AIle maten in mm.
totaal egem - ----------
64 egem - ••••••
laboratoriua voor oavoratechDololie·tue
C2 C3
totaal
tot.
48
IOPH-BUIGEN-'.1VE
Meethiad voor bet bepalen van de gemiddelde dikte egem (zie fig. 4) van de matrijsblokjes.
op 0 dat E1 EJ G ap 0
matrix 3
1Datrijs
r01 P02 A1 A2
10 0.5
0.5 10
5 0.8
0.8 5
3 1
1 3
2 1.5
1.5 2
meetplaatsen
A3 B1 B2 B3 C1
/
/
/
/
/
/
/
I
B3 is niet te meten inverband met een boutgat. AIle maten in Mm.
totaal egem - ----------
64 -> egem - ••••••
laboratoriu. yoor o.vor • .,ecbDologie-tue
C2 C3
totaal
tot.
49
-lit f:1' o ... ! ... c· • g ..
01 o
~
-f.QIl-
) 1 ~
J ·"-2 ·c ;;
I " ~3
:: .. .. 1-4 _Ii
~luUJ~~~~ SJ
1~ ~~~;:-:76 ,
I I
) -60- ~ I 1 ! I
r--' ! J .... f! I ,
I ; I I I . I W I4J
] 111 I 6,.-'''p'''jUr'tlOljl'S 1St 31 I I 110 , 4 1~""""';::1t:""~."'" -lII,r 1St 88 :::lIN~2 /M6. 25 I
I -9t1.
, 1 *AFHAN<EUJK VAN
~'f_!IJ~ INBOMHOOOTE '( 0. PERS
ALLE ,..ATtN IN mm
~!~~.~I' (;
~j~l~ ~t~,~ ~ i~T~ ., ~>r~ ~,~ ~~~l ~~~#J~4i~ 9 ~"I I ij ~.Vff'//l IV
• • S r .. -- r 1 TUE30 104 13" .! o.oS / / ;0.05 t----< 710,OS~ 1 TUE40 ttl. 83,91 ! 0.D5
8 ..
... f7
i .. ci" •
t TUlSO 120 939'1 ! O.OS ... ... f"T', t'7'\ t TUE60 134 03,91 ! O,OS "'YA '-.;./A
I I I ~
I
;},
~ I f-- i !--
hf .! 0,1 h,Y, h.t midden All. Mat.n in lit.
(1) e1> I:' I~ x v ~ d~~ I W
1 HSVlO 14 1 HSE10 114 . 1 HSV20 9'" t HSE20 94
1 HSV30 104 1 HSE 30 1Ot.
1 HSV40 ttl. 1 HSE40 114
1 HSVSO 120 1 HSESO 120 6 2 matriJSIotildt. blokJ,$ st~ to 036 MrA 1 HSV60 131. 1 HSE60 134 12 1 INtrijswiJdt. blollj.s St 37 1J1036 Hea
~ FJrt.! bll'lilminO m.attrlul Wtf1cstnr: HtrlrlllMt ....... ---- - -..... a ••••• .LS:.. ...... _u AM t----_. ,- I. -...... - 1 ... -~=(~~ _~n I -"POi I,Al -..
01 .... ,
IOPH-bulgen TUE
LIJST HEETVOORSCHRIFTEN-HEETBLADEN
1. Heetvoorschrift Ruwheidsmeting:
* Hitutoyo Surftest-401 nauwk: ± 0,1 ~m - Ra meting strip over B-l1jn op ptn 1-2-3. - Ra meting stempeis over A, B, C I1jn op ptn 1.2.3. - Ra meting matrijsblokjes over At B, C lijn op ptn 1·2·3. • Voorbeeld meetbladen ruwheidmeting gereedschapsdelen.
2. Heetvoorschrlft lIoogtemeting:
* Tesa Hlcro-Hite I nauwk: < 0,05 ~m · 10 meting strip over midden.langsrichti~. • 1 meting strip-benen a en b voor ~ ~ 92 over midden-langsrichting. • 1 meting strip-benen a en b voo ~ > 90 over midden-1angsrichting.
3. Heetvoorschrift Profieiprojektor 1:
* ISOHA WT0008
• p onbelast via contourblad + hoekmeter.
nauwk: lengte < 0,01 ~m hoeken < 5'
- Raster metingen x-y ri via verplaats1ngsmechan1sme.
4. Heetvoorschr1ft Diktemeting:
* Hitutoyo Digimatic ID-130H nauwk: ± 1 ~m - Diktemeting van strip so op ptn (A,B,C-l,2,3). 0
· Diktemetlng van strip s op ptn (A,B.C-l,2,3] voor p ~ 900
,
• Diktemetlng van strip S op ptn [A,B,C-1.2,3) voor ~ < 90 • • Diktemeting gereedschapdelen (bepa11ng .). • Voorbeeld meetbladen diktemeting gereedschapsdelen.
5. Heetvoorschrift lIoekmeting:
* Hltutoyo Universele hoekmeter type 187.908 met verlengde benen · P belast . onder pers. • ~ onbelast - onder profielprojektor.
- Wat zijn rasters / Waaraan moeten ze voldoen? • Aanbrengen rasters / Haken van replica's. · Heten aan rasters in x en y ri mbv proflelprojektor. • Heetplaatsen en code deformatiemetlngen. • Voorbeeld meetblad rastermetingen.
laboratorium voor omvormtechoologie-tue 52
IOPM-bulgen ruE
LIJ ST HEETVOORSClIRI FTEN -MEETB LADEN
7. Heetvoorschrift Trekbank:
* Honsanto Tensometer W nauwk: kracht ± 140 N
- WerkwIjze uItvoerlng van de trekproef. - Standaard ultvoer trekproef,
weg ± 0,7 pm
bepaiing van C, n, .0 en r.tIO (apart rapport).
8. Meetvoorschrlft F-S metIng ruE:
* Schoenpers SH/LF 100/15 - Standaard ultvoer persproef voor de F-S kromme en de bepallng van
F ..... , SII, hoop en St.ot (apart rapport).
9. Heetvoorschrift F-S meting HSV:
* Huller C frame-2S - Standaard ultvoer persproef voor de F-S kromme en de bepaling van
F .... , SI! f hoop en Stct (apart rapport).
10. Heetvoorschrift Contourmetlng ruE-B:
* Polaroid Camera-SUR 680 - Vastleggen van de contour dmv opnamen door een rasterfolie.
11. Heetvoorschrlft Contourmetlng TUE-A:
* NIKON fotocamera. type: F2 + macro objectief + motordrlve Flltser merk: BRAUN. type: 37 BVC Film: AGFA ORTHO ASA 25 - Vastleggen van de contour dmv opnamen door een rasterfolle.
12. Heetvoorschrift Profielprojektor 2:
* lSOHA Hl19 N + op1egtafel Zlll
- p onbelast via contourblad + meetraster.
nauwk: lengte < 0,01 pm hoeken < 5'
- Raster metingen x-y ri via verplaatsingsmechanisme.
DATABASE MANAGEMENT SYSTEEM: DBASEIII PLUS + APPL.PROGRAMMA Invoer:
1t Menuscherm .. GEBRUIKER Uitvoer:
r Scherm/Printer
t vb: Uitvoergeg_ experimenten (ascii) (2) I VERGELIJKEN~ORM I
1 - 2 < N I< ) ( )j
laboratorium voor olD\'OrmtechDologie-tue 54
DATABASE ALGEMEEN
Een database systeem is een systeem t.b.v. het opbergen en onderhouden van gegevens. Een database systeem is samengesteld uit de volgende componenten.
a- Een database: een verzameling van verschillende soorten gegevens die onderling verbanden hebben en opgeslagen zijn in een of meer gegevensbestanden. ~: De gegevensbestanden waarin de meetstaten van aIle
buigproeven wordt opgenomen is een voorbeeld van een database
b- Een database management systeem: dit is software waarmee databases gedefinieerd kunnen worden en waarmee, op een gecontroleerde manier gegevens kunnen worden bewerkt. ~: Een databasebewerking zou kunnen zijn: de begindikten
van een proef uit de database halen en daar het gemiddelde van bepalen.
c- De gebruikers-software: dit zijn programma's of interactieve bewerJdngstalen waarmee gegevens op een eenvoudig manier door de gebruiker bewerkt kunnen worden. l12: Het zou natuurlijk heel mooi zijn als men gewoon tegen
een database kan zeggen: Haal de begindikten van een proef x uit de database en geef de gemiddelde dikte op een duidelijke manier op het scherm weer! De gebruikers software die met een programmeertaal wordt geschreven maakt dit mogelijk.
De bovenstaande begrippen vertalen naar de eindopdracht kunnen we het volgende onderscheiden:
Database: Dit is de informatie die wordt opgeslagen. Tot deze groep behoort o.a.: de meetstaat van de buigproef: de meetvoorschriften, de meetmachines enz •••
Het database management systeem: Deze is in dit geval het DbaseIII Plus softwarepakket. Hiermee kan men gegevensbestanden definieren. Tevens stelt het pakket een stel commando's ter beschikking waarmee de gegevens op een gecontroleerde manier kunnen worden verwerkt.
De gebruikerssoftware: dit zijn programma's waarmee de gebruiker in staat wordt gesteld om de gegevens te verwerken.
Er wordt onderscheid gemaakt tussen 2 soorten gebrulkers:
1- De toepassingsprogrammeurs: deze groep gebruikers maakt gebruik van de systeem software om programma's te schrijven. Deze programma's voeren bewerkingen uit op de opgeslagen gegevens.
2- De eindgebruikers: deze maken gebruik van de programma's welke door de toepassingsprogrammeur zijn gemaakt, zij hoeven dus nlets over de systeem software te weten.
laboratoriuDI voor olDvorlltecbnologie-t.ue 55
De eindgebruiker heeft aIleen toegang tot de gegevens welke door de toepasaingsprogrammeur beschikbaar zijn gesteld en niet meer dan dat. Tevena zijn de bewerkingen die de eindgebruiker met de database wil uitvoeren afhankelijk van de toepassingsprogrammeur, die deze bewerkingen toelaat of niet.
laboratorium voor olDvormtechnologie-Lue 56
DE GEGEVENSSTRUCTUUR
Het inventariseren van de informatiebehoefte van de eindgebruiker, dus wat de eindgebruikers met de database willen doen, Is de eerste stap die gevolgd moet worden bij het bouwen van de database. oat vereist veel overleg tussen de databasebouwer en de uiteindelijke gebruiker. Dit blijkt in dit project niet mogelijk te zijn. Daarom is besloten om zoveel mogelijk basisgegevens op te slaan. Er worden programma's gemaakt, die de gebrulker een beperkt aantal databasesbewerkingen beschikbaar stelt. Mocht de eindgebruiker nog andere bewerkingen op de database willen uitvoeren of gegevens willen opvragen die weI opgeslagen zijn maar nog niet opvraagbaar zijn doordat deze bewerking nog niet is geprogrammeerd, dan kan dat nog altijd, mits men over enige kennis van dBaseIII beschikt.
Hieronder wordt een opsomming gegeven van de hoeveelheid gegevens die beschikbaar bij het vrijbulg project. Tevens wordt de aard en de essentie van deze Informatie aangegeven.
1- Het vrijbuigproject
Het vrijbuigproject bestaat eigenlijk ult twee gedeelte:
1.1- Het theoretische gedeelte
Het buigproces wordt hierbij beschreven aan de hand van plasticiteitsmodellen. Bij dit gedeelte is er een computer programma dat aan de hand van enkele invoerparameters de uitvoer berekent. Een lijst van invoerparameters en uitvoerparameters van het computerprogramma is in bijlage 1 opgenomen.
1.2- Het experimenteel gedeelte
Bij dit gedeelte worden buigproeven uitgevoerd. De verkregen meetresultaten dienen ter ondersteuning van het theoretische model. Deze meetresultaten worden in de database opgeslagen.
Per buigproef zijn de volgende informaties, die in aanmerking komen om in het database te worden opgeslagen, beschikbaar:
1.2.1 De experimentele meetgegevens.
Deze zijn afkomstig van de meetbladen 1 en 2 (zie bijlage 2a en 2b). Op het meetblad zijn diverse metingen zoals: dikte, lengte, hoek, enz ••• weergegeven. Bij deze metingen zijn tevens de codenummers van de meetapparatuur, operator en de datum van de proef vermeld.
laboratorium voor om"ormtechnologie-tue 57
1.2. 2 De meetgegevens ui t het atandaardmeetrapport Pers: (z ie bijlage 3).
Per materiaalsoort en per proefstrip worden eventueel in 3 richtingen persproeven uitgevoerd en in een meet rapport Pera vastgelegd. Deze bestaat uit:
- Een file met de meetwaarden van de kracht_weg kromme van het buigproces. - Een overzicht van de belangrijkste meetwaarden van de kracht_weg kromme. - Enkele vaste ingestelde gegevens van de pers. - Enkele proefgegevens.
1.2.3 De meetgegevens ui t het atandaard meetrapport trekproef; (de bijlage 4).
Per materiaalsoort en per plaat worden drie trekproeven in 3 richtingen uitgevoerd en in een meetrapport trekproef vastgelegd. Deze bestaat uit:
- Een file met meetgegevens van de trekproef. - Een file met meetwaarden van de kracht_weg kromme van de trekproef «codetrek>.FBS). - Twee files met berekende waarden waarmee diverse grafieken kunnen worden getekend.
1.2.4 Lijsten. - Er zijn ook enkele lijsten met meetvoorschriften en andere statische gegevens; (zie bijlage 5).
Er worden vrij veel buigproeven uitgevoerd, dus het ia een gigantisch grote hoeveelheid informatie, die opgeslagen moet worden. V~~r dit doel is zelfs dBaseI!! niet krachtig genoeg. Daarom wordt uit de eerdergenoemde informatie de eaaentiele gegevens geselecteerd en in de database opgeslagen.
OPGESLAGEN GEGEVENS
We onderscheiden eigenlijk twee soorten gegevens:
statische gegevens; onveranderlijk blijven.
Dit zijn gegevens die per proef
yQ: de vaste gegevens van de pers uit het standaard meetrapport pers is een voorbeeld van "statische gegevensll; (bijlage 3).
Dynamische gegevens: Dit zijn gegevens die per proef veranderlijk kunnen zijn. vb: de meetresultaten op de meetstaat zijn een voorbeeld van
"dynamische gegevens" (bijlage 6).
Het verdient aanbeveling dynamische deel van de gegevens worden in het opgeslagen.
aIleen de dynamiache gegevens in het database op te slaan. De atatische "statische deel"* van de database
It Dit deel is aIleen geschikt voor naslag werk. Er kunnen dus geen bewerkingen op worden uitgevoerd.
laboratorium voor 01DvofllltecbnoJogie-tue 58
Afhankelijke en onafhankelijke gegevens
onafhankelijke gegevens zijn gegevens die zich niet laten herleiden uit andere gegevens. Afhankelijke gegevens kan men uit de onafhankelijke gegevens afleiden.
~: De uitgeslagen lengte 1 kan men m.b.v. de lengten a en b en hoek p, bepalen en is dus een afhankelijk gegeven.
Ook hier het voorstel om aIleen onafhankelijke gegevens in de database opslaan.
Volgens de voorgaande richtlijnen worden per proef de volgende gegevens ultgefilterd en in de database opgeslagen:
1 De meetbladen 1 en 2.
Van deze meetbladen worden aIle gegevens in de database opgeslagen behalve de gemiddelde dikte en de standaardspreiding. De laatste twee zijn afhankelijke gegevens.
2 Het standaard meetrapport Pers.
uit het meet rapport worden opgenomen: De plaatcode, de perscode, de maximum kracht, de nominale procesweg, de afstand tot het ODP, de totale procesweg, en de opgenomen arbeid. Andere vaste gegevens (statische gegevens) worden via het programma " Datataker Pers" opgeslagen op floppies. Via de perscode zijn deze gegevens terug te vinden.
Het standaard meet rapport Trekproef
Ook bij de trekproef worden de trekproefcode, de datum, C, n, epsO ,r in de databases opgenomen. Andere gegevens worden via het programma "Datataker trekproef" opgeslagen en via de trekproefcode opgevraagd.
Lijsten met voorschriften. apparaten en operators
De meetvoorschriften zijn statische gegevens die in het statische dee 1 van de database worden opgeslagen. De lijst met apparaten, operators worden als dynamische gegevens opgeslagen, want in de meetbladen worden bij elke meting het meetapparaat-, het operatornummer en de datum vermeld. Ze behoren dus indirect tot de dynamische gegevens.
De lijst van gereedschappen voor het vrijbuigen is weer een lijst met statische gegevens. Via het proefnummer, het apparaatnummer en/of het operatornummer kan men het gereedschapnummer en daarmee het gereedschap waarmee de proef wordt gedaan achterhalen; (HSV,HSE of TUE).
laborat.oriulII voor olll\'orllltechnologie-tue 59
Bovenstaande wordt hieronder in een schema samengevat.
Gegevens In database Reden
Meetstaat ja dynamisch
Lijst met ja indo dynamisch apparaten
Trekproef gedeelte dynamisch
Buigproef gedeelte dynamisch
Lijst met ja indo dynamisch operators
Lijst van nee atatisch gereedschappen
Lijst meet_ nee statisch voorschriften
Lijst van ma - ja dynamisch terlalen
Er is vastgelegd welke gegevens in de computer worden ingevoerd.
Oe volgende fase van het database ontwerp is het normaliseren van de meetgegevens. Oit is een techniek om structuur in gegevens te brengen. oit wordt gedaan om:
1) De gegevens zo efficient mogelljk op te slaan. 2) Bewerkingen op deze gegevens op een eenvoudige manier uit te
kunnen voeren.
Na het normalisatie proces benadert de database het relationele model. oit is een model dat het meest wordt gehanteerd bij het bouwen van een database. Het dBaseIII software pakket maakt ook van dit principe gebrulkt, dUB het is geen overbodige luxe om de gegevens zo te structureren dat deze het relationele model omvat of minimaal benadert.
laboratoriUIII voor ollvormtecbaologie-tue 60
Het relationele databasemodel
Eerste vereiste is dat de gegevens in tabelvorm zijn opgeslagen. Een buigproef is in die tabel een rij • Onafhankelijke gegevens zoals proefcode, beginlengte enz zijn dan kolommen in de tabel. Vervolgens wordt deze grote tabel in kleinere tabellen gesplitst volgens vastgelegde regels. Na het normaliseren ziet de structuur er als voIgt uit:
TREKPROEF (plaatcode, Trekcode, C, n, epso, r_gem)
laboratorhllll voor olll\'orlltechnologit-tue 61
•
voorbeeld:
APPARATUUR
OPERATOR
SOORTMETING
PLAATCODE
APPNR
1 2 3 4 5
OPPNR
1
10
SRTMC
LO RAl RA2 RA3 TOA TOB TOC TA TB TC B PR B WR L-A (::B
PL7I.ATCODE
Fl071119 A2101110
APPNAAH OMSCHRIJV
OPERATOR
Mother Goose
Cudly Bear
SOORTMETING
BEGINLENGTE RUWHEIDl RUWHEID2 RUWHEID3 BEGINDIKTEA BEGINDIKTEB BEGINDIKTEC EINDDIKTE A EINDDIKTE B EINDDIKTE C HOEK BE LAST HOEKONTLAST BEENLENGTEA BEENLENGTEB
PLAATCODE I I I I I I I I I PROEFNR. I I I I I I I I I Lengte voor buigen: 10 (mm)
Ruwheid voor buigen: R. (~m>
lO.[IJ 2D.[IJoprUlt; 3D.[IJ Dikte voor buigen So (mm)
1 D. :=1 ::!=I ~ 2D.I~I~ 3 D . IL.-...&.-l ~
R •••••••••••••• C············· --. x
171'·1
x D.I~I~ Dn-l D .IL..-.L...I ~
Dikte na buigen s (mm) APO OPO DatI - -'811
1 D.I 1 D. 10. 2 D.I 2 D. 2 O. I 3 O. 3 O. 3 O. I
A ----------._.- ... R C ------ -- .- --_. D.I I 1 I - D. O. I x x x
01'-1 D.I I I I Dn-l O. on-I O. I Hoek tussen de benen : fJ (0)
onder belasting
na ontlasten
Lengte benen na buigen : 1 (mm)
a 1 1 I I .I~I~ b L-.JI "---11"---11.1 I 1
laboratorium voor om\,ormtechno]ogie-tue 65
lorn buj.gen 'l1J~
Plaatcode
Operator
Meetblad
o 001:I1
Uitgangsdiamctcr onvervormd raster
d. gem.
* aIle maten in mm.
1
2 3 4 5 6 7 8 9
1
2 3 <1 5 (i
7 IJ 9
1 2 3 4 5 6 7 8 9
X-richting
ITJ_
D:J_
- - -· r- - -.r- - -• I-- - -
- - -· - - 1-
-. - -- - -·
CD_ ~ - -~ - -I--- -I-- '- -
Y-richting
-
I-i- -I--:- -r- I-- -
1----
laboratoriulII voor olllvorlltecbDologie-tue
datum ~I~[_~~~~~
apparaat 0
§:EL§ §:§±] . . x ----------- Y -----------
o . 0=0 mm. D. I I I I mm.
X-richting Y-richting CIJ_
I-- - I--
I-- f-1-
ITJ_
· ._--· r- --
• r-- -i-• t-t-I--I
66
BIJLAGE 2
STANDAARD MEETRAPPORT TREKPROEF
• I
TUE LABORATORIUM VOOR OMVORMTECHNIEK
STANDAARD MEETRAPPORT TREKPROEF
PROEFGEGEVENS: -
Codenaam: Materiaalsoort: Werkstoffnummer: Herkomst materiaal: Plaatdikte (mm): Beginbreedte Bo (mm): Begindikte So (mm): Richting (t.o.v. walsricht.): Datum proef (jjmmdd): Aantal metingen: Operator: Pt-ojectl ei dar: Banksnelheid (mm/min): Me'r k trekbank: Type trekbank: Ser i enLlmmet·· : Datatakerproef (J/N):
Beginbreedte van de plaat b0 CmmJ 65.00 De maximaal optredende perskracht Ppmax CkN] 0.72 De deelprocesweg bij Ppmax SN [mmJ 6.76 De totale procesweg Stot [mmJ 40.12
Deelprocesweg FPmax tot ODP hOOp [mm] 33.36 De opgenomen deformatie arbeid ill [Nm] 15.76
( Kra.cht met i ng: Nauwkeurigheid ./- 15 N voor FPma.x< = [ Wegmeting Nauwkeurigheid ./- 0,04 mm voor Stot <=