T 근거리 무선기기에 대한 A 전자파적합성 시험방법 (Electromagnetic ... T T A S t a n d a r d 정보통신단체표준 제정일: 2007년 12월 26일 TTAS.KO-06.0158

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A

S t a

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정보 신단체 제정 : 2007 년 12 월 26

TTAS.KO-06.0158

근거 무 에

전 파적 시험

(Electromagnetic Compatibility Measurement

Method for Short Range Devices)

정보 신단체 제정 : 2006 년 12 월 26

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근거 무 에

전 파적 시험

(Electromagnetic Compatibility Measurement Method for

Short Range Devices)

본 문 에 저 TTA 에 , 문 전체 또는 에 여 상업적

적 는 무단 복제 포 니다.

Copyright Telecommunications Technology Associations(2007). All Rights Reserved.

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i

문

1. 표 의 목적

본 근거 무 (Short Range Device) 사 생 는 전 파

규제 존 무 비 주 전 전 보 고, 동시에 근거 무

에 전 파에 내 규격 적 여 근거 무 가 주 전파

경과 전 파적 (EMC) 보 그 적 다.

2. 주요 내용 요약

본 무 보조 에 여 전 파적 (EMC) 에 공 적

적 는 규격 포 고 , 근거 무 (Short Range Device)에

전 파적 평가 시험조건 시험 과 절차, 그 고 능평가 과

능판정 에 여 다.

3. 표 적용 산업 분야 및 산업에 미치는 영향

본 근거 무 (Short Range Device) 전 파적 (EMC) 문제

최 여 내에 다양 전파 신 들 적 사 전파

는 동시에 전파 신 체 능 상에 여 것 다. 또 미 , 럽

등에 적 고 는 제 전파 신 에 전 파적 시험 규격과 동

등 규격 제정 고 적 내 전파 신 제조업체들 내

높여 것 다.

4. 참조 표 ( 고)

4.1 ( 고)

본 에 참조 주 무 에 전 파적 공 규격

정 는 ETSI EN 301 489-1 과 근거 무 에 규격 규정 는 ETSI EN

301 489-3 , 주 들에 는 다 제 들 참조 었다.

다 문 들 본문에 본 가 는 조 들 포 고

다. 문 는 특정 문 ( 판 또는 개정 식 )

문 다.

특정문 경 , 당 판본 개정판 적 아니 다.

문 경 , 최신 판본 적 다.

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ii

[1] ETSI EN 301 489-1 V1.5.1: Electromagnetic compatibility and radio spectrum matters

(ERM); Electromagnetic compatibility (EMC) standard for radio equipment and services;

Part 1: Common technical requirements



Part 3: Specific conditions for Short Range Devices (SRD) operating on frequencies

between 9 kHz and 40 GHz

[3] ETSI TR 101 651 (V1.1.1): Electromagnetic compatibility and Radio spectrum Matters

(ERM); Classification of the electromagnetic environment conditions for equipment in

telecommunication networks

[4] CISPR 22: Information technology equipment - Radio disturbance characteristics -

Limits and methods of measurement

[5] IEC 61000-3-2/Amendment 1 (2001): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 3-2:

Limits - Limits for harmonic current emissions (equipment input current up to and

including 16 A per phase)

[6] IEC 61000-3-3 (1995): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 3-3: Limits - Limitation

of voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems,

for equipment with rated current 16 A per phase and not subject to conditional

connection

[7] IEC 61000-3-11 (2000): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 3-11: Limits -

Limitation of voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage

supply systems - Equipment with rated current 75 A and subject to conditional

connection

[8] IEC 61000-4-2: Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and

measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test


measurement techniques - Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity

test


measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test


measurement techniques - Surge immunity test


measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-

frequency fields


measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations

immunity tests

[14] IEC 61000-6-3 (2001): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 6-3: Generic

standards - Emission standard for residential, commercial and light-industrial

environments


standards - Immunity for residential, commercial and light-industrial environments

[16] ISO 7637-1 (1990): Road vehicles - Electrical disturbance by conduction and coupling -

Part 1: Passenger cars and light commercial vehicles with nominal 12 V supply voltage -

Electrical transient conduction along supply lines only

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iii


Part 2: Commercial vehicles with nominal 24 V supply voltage - Electrical transient

conduction along supply lines only

[18] IEC60050-161: International Electrotechnical Vocabulary Chapter 161: Electromagnetic

compatibility

4.2 내

참조 제 내 규격 경 에는 내 규격 참조 다.

[1] KN 22: 정보 시험

[2] KN 61000-4-2: 정전 전 내 시험

[3] KN 61000-4-3: 전 파 사 내 시험

[4] KN 61000-4-4: 전 적 빠 과 상 내 시험

[5] KN 61000-4-5: 내 시험

[6] KN 61000-4-6: 전 파전 내 시험

[7] KN 61000-4-11: 전압강 시정전 내 시험

5. 참조표 ( 고)과의 비

5.1 참조 ( 고)과

본 전파 신 에 전 파적 (EMC) 공 규격 다루고

는 ETSI EN 301 489-1과 근거 무 에 규격 다루고 는 ETSI EN 301

489-3 근거 여 근거 무 에 전 파적 규격 다.

5.2 참조 ( 고)과 본 비

참조 내 본 내 비고

1 8. 전 파 (EMI) 시험

정 ITE 에 EN 규격 적

KN/IEC 규격 경 .

8.2, 8.3, 8.4, 8.5, 8.6 8.7 절 내

정

2 8.6 전압 동 커 럽 전원 망

값 .

내 전원 망 값

정 시험

시험평가 내 삽

3 9. 전 파내 (EMS) 시험

시험 능평가

내 시험에 EN 규격 적

KN 규격 경 .

9.2, 9.3, 9.4, 9.5, 9.7, 9.8 절 내 정

4 9.7 전압강 정전 시험 적 는 시간 ms 단

내 전원 주파 고 여 주

정

시험 가시간 단 정

5 9.6 차량 경에 과

상

동차 ISO 7637-1 (1990)과 ISO 7637-2 (1990) 적

개정 ISO 7637 규격 내 적 시점에 시험

포

개정 ISO 규격 내 적 여 에

시험 포

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iv

6. 적재산 련사항

2007 년 12 월 본 과 여 적 산 없 .

7. 적합인 련사항

7.1 적 상 여

당사 없 .

7.2 시험 제정여 ( 당 시험 )

당사 없 .

8. 표 의 이력

판 제/개정 제/개정 내역

제1판 2007.12.26 제정

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v

Preface

1. The Purpose of Standard This standard contains the common requirements for radio communications equipment

and associated ancillary equipment, in respect of the electromagnetic compatibility

(EMC). This document also covers the EMC assessment of the short range devices.

2. The summary of contents This standard includes the requirements which are effective in common to the

electromagnetic compatibility (EMC) side on the radio communications equipment and

associated ancillary equipment. And this standard specifies the applicable test

conditions, test method and test procedure, the performance assessment and

performance criterions for the electromagnetic compatibility evaluation about the short

range devices.

3. Applicable fields of industry and its effect This standard will be a good contribution for maintaining radio environment quality and

improving performance of wireless equipment, minimizing electromagnetic compatibility

(EMC) problem caused by the short range devices. In addition, it is expected that

wireless equipment manufacturers will have high adaptability in the international and

national markets by establishing this EMC standard having equivalent level with

international EMC standards for wireless equipment, like European Standards and etc.

4. Reference Standards (Recommendations)

4.1 International Standards (Recommendations)

Main references are ETSI EN 301 489-1 which specifies the common requirements for

radio communications equipment and ETSI EN 301 489-3 which specifies the specific

condition for the short range devices. The following documents contain provisions

which constitute provisions of the above two main references. References are either

specific (identified by date of publication and/or edition number or version number) or

non-specific.

For a specific reference, subsequent revisions do not apply.

For a non-specific reference, the latest version applies.



Part 1: Common technical requirements



Part 3: Specific conditions for Short Range Devices (SRD) operating on frequencies

between 9 kHz and 40 GHz

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vi

[3] ETSI TR 101 651 (V1.1.1): Electromagnetic compatibility and Radio spectrum Matters

(ERM); Classification of the electromagnetic environment conditions for equipment in

telecommunication networks

[4] CISPR 22: Information technology equipment - Radio disturbance characteristics -

Limits and methods of measurement

[5] IEC 61000-3-2/Amendment 1 (2001): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 3-2:

Limits - Limits for harmonic current emissions (equipment input current up to and

including 16 A per phase)

[6] IEC 61000-3-3 (1995): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 3-3: Limits - Limitation

of voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems,

for equipment with rated current 16 A per phase and not subject to conditional

connection

[7] IEC 61000-3-11 (2000): Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 3-11: Limits -

Limitation of voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage

supply systems - Equipment with rated current 75 A and subject to conditional

connection


measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test


measurement techniques - Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity

test


measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test


measurement techniques - Surge immunity test


measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-

frequency fields


measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations

immunity tests


standards - Emission standard for residential, commercial and light-industrial

environments


standards - Immunity for residential, commercial and light-industrial environments


Part 1: Passenger cars and light commercial vehicles with nominal 12 V supply voltage -

Electrical transient conduction along supply lines only


Part 2: Commercial vehicles with nominal 24 V supply voltage - Electrical transient

conduction along supply lines only

[18] IEC60050-161: International Electrotechnical Vocabulary Chapter 161: Electromagnetic

compatibility

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vii

4.2 Domestic Standards

The following domestic documents are referenced because there are domestic

standards equivalent with international standards.

[1] Korean Norm (KN) 22:, Information technology equipment - Radio disturbance

characteristics - Limits and methods of measurement

[2] Korean Norm (KN) 61000-4-3: Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2:

Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test


Testing and measurement techniques-Radiated, radio-frequency, electromagnetic

field immunity test


Testing and measurement techniques-Electrical fast transient/burst immunity test


Testing and measurement techniques-Surge immunity test


Testing and measurement techniques-Immunity to conducted disturbances,

induced by radio-frequency fields


Testing and measurement techniques-Voltage dips, short interruptions and voltage

variations immunity tests

5. Relationship to Reference Standards (Recommendations)

5.1 The relationship of Reference Standards

This standard has been developed refer to ETSI EN 301 489-1 specifying EMC

common technical requirements for wireless communication systems and ETSI EN 301

489-3 describing specific conditions for Short Range Devices.

5.2 Differences between Reference Standard (recommendation) and

this standard No Reference EN301 489-1 & 3 TTAS.KO-06.0158 Remark

1 8. Method of measurement and limits for EMI tests

Application of the EN standards about ITE

Changed on the KN /IEC standards about ITE

Change 8.2, 8.3, 8.4, 8.5, 8.6 8.7

2 8.6 Voltage fluctuations and flickers

Described based on the mains network impedance value of Europe

Postponed with test until domestic mains network impedance value is fixed

Insertion of the clause related with test postponement method

3 9. Test methods and performance criteria for EMS tests

Application of the EN standards about EMS

Changed on the KN standards

Change 9.2, 9.3, 9.4, 9.5, 9.7, 9.8

4 9.7 Voltage Dips and Interruptions

Description of time duration to be testing by ms unit

Correction with cycle in consideration of domestic mains frequency

Changed the unit of time duration to be testing

5 9.6 Transients and surges in the vehicle environment

Application of the ISO 7637-1 (1990) and ISO 7637-2 (1990) related with vehicles

Inclusion of test method according to domestic application point of the revised ISO 7637

Inclusion of the test method related with revised ISO standard

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viii

6. The Statement of Intellectual Property Rights As of December 2007, any IPRs related to this standard cannot be found

7. The Statement of Conformance Testing and Certification None

8. The History of Standard

Edition Issued date Contents

The 1st edition 2007.12.26 Established

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ix

차

1. 개 ····················································································· 1

2. ································································ 2

3. 어 정 약어 ··································································· 2

4. 시험 조건 ············································································· 5

5. 능 평가 ····································································· 10

6. 능 평가 ····································································· 12

7. EMC 시험 적 개 ······························································ 15

8. 전 파 (EMI) 시험 정 ······················· 17

9. 전 파내 (EMS) 시험 시험 능평가 ················· 22

Ⅰ. 본 에 다루는 근거 무 제 ··························· 31

Ⅱ. 능평가 근거 무 ······························· 32

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x

Contents

1. Introduction ··········································································· 1

2. Constitution and Scope ···························································· 2

3. Definitions and Abbreviations ····················································· 2

4. Test Conditions ······································································ 5

5. Performance Assessments ······················································ 10

6. Performance Criteria ······························································ 12

7. Applicability Overviews for EMC Testing ······································ 15

8. Method of Measurement and Limits for EMI Tests ·························· 17

9. Test Methods and Performance Criteria for EMS Tests ···················· 22

Appendix Ⅰ. Examples of Short Range Devices ······························· 31

Appendix Ⅱ. Performance Classification of Short Range Devices ········· 32

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1

근거 무 (Short Range Device)에

전 파적 (Electromagnetic Compatibility) 시험

(Electromagnetic compatibility measurement method for

Short Range Devices)

1. 개요

본 9 kHz ~ 40 GHz 주파 역에 동 는 근거 무 (Short Range Device:

SRD)에 전 파적 (Electromagnetic Compatibility: EMC) 평가에 여 다.

본 무 보조 에 럽 규격(European Norm: EN) 전 파적

(EMC)에 시험 평가 공 규격 고 는 EN 301 489-1 규격과

근거 무 에 여 전 파적 (EMC) 시험 추가적 제

시험조건, 시험 절차, 그 고 시험결과에 능평가 과 능판정

고 는 EN 301 489-3 규격 규격 여 근거 무 에 단

규격 었다.

본 에 사 경 는 아래 문 에 사 경 가 적 다.

• IEC 61000-6-1, IEC 61000-6-3: 주거, 상업, 경공업 경

• TR 101 651: 신 경

• ISO 7637-1 ISO 7637-2: 차량 경

본 에 고 는 전 파적 (EMC) 조건 에 언 경에 사

적절 적 보 택 었다. 그러나 어느 곳에 든 생

만 생 가능 매 낮 극 경 들(extreme cases) 본 에 보 고 는

적 에는 포 는 않는다. 적 가능 경 제조 에 언 어야 ,

께 제공 는 문 어야 다.

본 개 적 복 는 과 상 나 연 적 상 만들어내는 적 원

적 존 는 경 ( 들어, 근처에 또는 는 경 )는 포 는

않는다. 그러 경 에는 원 나 는 , 또는 양 에 적 는 특

보 책 다.

무 가 본 규격에 적 다는 것 펙트럼 나 사 에

규격( 건)에 적 다는 것 미 는 않는다.

본 규격에 적 다는 것 안전 규격에 적 다는 것 미 않는다. 그러나

평가 는 본 문 에 시험 적 결과 시험 샘 험 또는 안전

않 상태가 는 찰 여 시험 적 에 책 다.

주: 상 경에 사 무 는 다 전 파적 (EMC) 규격에 취 다.

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2

2. 표준의 구성 및 범위

본 9 kHz ∼ 40 GHz 주파 역에 동 는 근거 무 보조 에

전 파적 (EMC) 평가 다룬다. , 본 근거 무 보조 에 여

전 파적 평가 여 적 야 는 시험조건과 , 시험 과 절차, 그 고

시험결과에 능평가 과 능판정 시 다.

무 안 나 포트에 적 규격 나, 무 나 무 보조 조

체 포트 출과 규격 본 에는 포 어 않다. 러 적

규격들 전파 펙트럼 적 사 여 제 규격에 상적 다루고 다.

3 에 는 본 에 사 는 어에 정 약어 다루고 , 4 에 는 9 kHz ∼

40 GHz 주파 역에 동 는 근거 무 보조 에 전 파적 평가

시험 조건 상 게 다루고 다. 5 에 는 능평가 , 6 에 는

내 시험에 판정 능평가 다. 7 에 는 근거 무

보조 에 전 파적 시험 과 적 여 나타내었 , 8 에 는 전 파

(EMI) 시험에 정 , 9 에 는 전 파 내 (EMS) 시험

시험 시험 다. 단, 전 파 시험 8.6 절 전압 동 커에

시험 경 에는 전원 망 값 므 내 전원 망에 값

정 시험 평가 다. 또 9.6 절 차량 경에 과 상 에

내 시험 경 에 개정 ISO 7637 규격 내에 적 는 시험평가 거나

원 는 경 에 본 규격에 라 시험평가 다. 본 에 다루는 근거

무 에 정 는 A B 에 다.

3. 정의

3.1. 어 정

보조 (ancillary equipment): 신 또는 신 연결 여 사 는 비( )

주: 다 경 에 보조 ( ) 간주 .

무 에 추가적 동 나 제어 능 제공 신 또는 신 에 연결 여

사 는 비 ( , 다 또는 제어 것)

신 나 신 사 능 제공 적 사 없는 비

보조 에 연결 는 신 신 는 보조 가 없는 경 에 신 신과 같

가 동 는 경 ( , 주 비 본 능에 적 주 비

아닌 )

비 (base station equipment): 고정 에 AC 전원 망(AC/DC 또는

전원공 여) 나 에 전원 아 적 사 는 DC 전원 망

접 또는 간접적 전원 아 동 는 무 보조

연 적 상 (연 적 ) (continuous phenomena (disturbance)): 전 , 특정

비에 없는 상

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3

체 포트 / 단 (enclosure port): 내 전 출 거나 전

사 는 물 적 경계

주: 체 안 나 비 경 에는 체 포트 안 나 포트는 없 .

트 (host equipment): 무 에 연결 어 않 경 에 전 사 능

제공 는 비 , 무 는 트 에 가적 능 제공 무 가 추가적

능 제공 는 트 연결 . 또 내 에 무 신

어 는 비

주: 다양 무 는 포 , 러 경 트 원래

사 능 않 .

체 안 나 (integral antenna): 제조 에 라 시험 에 제거 없는 안 나

제조 (manufacturer): 비 제조 나 , 또는 시 에 비 공

동 (mobile equipment): 차량 주 에 전원 공 아 차량 내에

고 사 신 , 신 또는 신 / 신 ( 신 )

동 주파 (operating frequency range): 어 경 없 시험 (EUT)에

취 는 주파

포트 (port): 정 비( ) 전 파 경과 특정 경계

주 1: 들 , 어 에 그 에 또는 그 블 연결

연결점 포트 간주 . (그 1 참조)

주 2: 사 는 경계 본 문 에 적 는 주파 내 전 파 경과 상

않 문에 시험 적상 포트가 아님. 그러나 능 평가에 는

경계 여전히 사 .

(그 1) 포트(port)

휴 (portable equipment): 체 에 전원 공 아 휴 시( , 에 휴 )

동 시키 무 보조

무 신 (radio communications equipment): 고정 , 동 또는 휴 사

나 상 전파 신 , 신 또는 그 포 는 신

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4

주: 보조 께 동 는 만, 그러 경 에 본 능 보조 에 좌

않 .

신 (Receiver): 적 사 거나 신 사 는 신

탈착 안 나 (removable antenna): 제조 에 라 시험 제거 는

안 나

근거 무 (Short Range Device): 경보 (alarm)나 원격 (telecommand), 원격 정

(telemetry) 등 야에 사 적 아날 그 태 / 악 나 (아날 그 또는

) , 또는 조 사 여 결 아날 그 태 / 악과

가 고 동 는 근거 에 사 는 신 신 , 들

무

주: 러 들 고정 , 동 휴 사 .

신 포트 (telecommunication port): 신 망( 들 , 공 전 망(Public Switched

Telecommunication Networks: PSTN), 종 정보 신망(Integrated Services Digital Networks:

ISDN) 등), LAN(Local Area Network: , 넷, 큰 등), 사 망에

연결 는 포트

과 상 (과 ) (transient phenomena (transient disturbance)): 심 상 시간 간격에

비 여 짧 시간 동안에 2 개 연 는 정상 상태 사 는 상 또는 양에

거나 그들 총 .

신 (Transmitter): 적 사 거나 신 사 는 신

3.2 약어

본 문 적 여 다 약어 적 다.

AC Alternating Current ( )

AMN Artificial Mains Network ( 사 전원 망)

CDN Coupling/Decoupling Network (결 감결 망)

CR Continuous phenomena applied to Receivers ( 신 에 가 연 상)

CT Continuous phenomena applied to Transmitters ( 신 에 가 연 상)

DC Direct Current ( )

EM ElectroMagnetic (전 )

EMC ElectroMagnetic Compatibility (전 파적 )

EMI ElectroMagnetic Interference (전 파 )

EMS Electromagnetic Susceptibility/Immunity (전 파 감 /내 )

EUT Equipment Under Test ( 시험 )

IF Intermediate Frequency ( 간 주파 )

ISN Impedance Stabilization Network ( 안정 망)

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5

RF Radio Frequency (무 주파 )

rms root mean square (실 )

SINAD Ratio of (Signal + Noise + Distortion) to (Noise + Distortion)

SRD Short Range Device (근거 무 )

TR Transient phenomena applied to Receivers ( 신 에 가 과 상)

TT Transient phenomena applied to Transmitters ( 신 에 가 과 상)

4. 시험 조건

4.1 사

시험 는 제 규격 본 규격, 또는 에 정보에 라 제조 가 정

, 공 전압 내 정상 시험 조건에 시험 어야 다. 시험 조건

시험 적 에 어야 다.

시험 동 드는 시험 고 는 시험 무 사 적 는 것 어야

, 시험 적 에 어야 다.

전 파 출(emission) 내 (immunity) 시험에 어 시험에 정상 시험 조나 시험

등 본 규격 4.1 절 ~ 4.5 절에 시 적 어야 다.

시험 가 탈착 안 나 가 는 경 , 달 시 않는 시험 는 적

사 는 전 적 식 착 안 나 사 여 시험 어야 다.

본 에 는 근거 무 는 전 시 야 는 조 전 신 태에 라 <

1>에 같 가 식 다.

< 1> 근거 무 식

식 조 전 신 태

I ( 아날 그 신 ) 전

II ( 악) 전

III 타

4.2 시험 신 정

시험 경 에 여 희망 신 사 는 신 원과 정 비 에 여 내

시험 신 에 제 적절 조 가 취 져야 다.

4.2.1 신

신 는 정상 시험 조 걸어 는 내 또는 신 원에 정상 시험 조

조 어야 다. , 신 는 시험 각 식에 라 규정 정상 시험 조

조 어야 다. (4.5 절 참조)

신 가 체 내 신 원에 조 않 경 , 시험 신 에 정상 시험 조

조 신 공 는 신 원 시험 경 에 야 다.

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6

신 가 조 포트 가 고 않 경 , 내 신 원에 조가

사 어야 다.

4.2.2 신 출

시험 신 희망 RF 출 신 정 는 비는 시험 경 에 시 야 다.

체 안 나 갖는 신 경 에, 신 크 정 희망 RF 출 신 는

시험 시험 경 내에 안 나 전 어야 다. 러 안 나는 동축

블 사 여 정 비에 연결 어야 다.

탈착 안 나 갖는 신 경 에, 신 크 정 희망 RF 출 신 는 안 나

커넥 정 비 동축 블과 같 차폐 전 에 전 어야

다. 신 들어가는 에 전 체 상에 흐 는 공 드 전 에

과 최 적절 조 가 취 져야 다.

신 는 시험 각 식에 규정 최 정격 RF 출 전 동 어야 다.

(4.5 절 참조)

제조 는 신 크 정 거나 시 신 사 는 적절 신

제공 다.

4.2.3 신

시험 신 에 희망 RF 신 공 는 신 원 시험 경 에 어야 다.

신 에 공 는 희망 RF 신 는 시험 각 식에 규정 정상 시험 조

조 어야 다. (4.5 절 참조)

체 안 나 갖는 신 경 에, 신 크 정 희망 RF 신 가

시험 경 내에 안 나 시험 에 전 어야 다. 러 안 나는 동축

블 RF 신 원에 연결 어야 다.

탈착 안 나 갖는 신 경 에, 신 크 정 희망 RF 신 는 동축

블과 같 차폐 전 에 시험 안 나 커넥 에 나타나야 다.

전 는 RF 신 원에 연결 어야 다. 신 들어가는 에 전

체 상에 흐 는 공 드 전 에 과 최 적절 조 가 취 져야

다.

희망 RF 신 신 감 문 값(Threshold Sensitivity) 크게 초과 만

과 특 (Overload Characteristics)보다는 적 값 갖 택 여야 , 전 파

생시키는 전 폭 고 여 시키 않 상태에 정 어야 다.

러 희망 RF 신 가 정상 동 신 나타낼 것 상 ,

정에 미 는 전 생 는 전 폭 역 노 에

충 야 다.

제조 는 신 크 정 거나 시 전 사 는 적절 신

제공 다.

4.2.4 신 출

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7

시험 신 출 신 정 는 비는 시험 경 에 어야 다.

아날 그 출 갖는 신 경 , 출 전 적 체

시험 경 곡 정 나 다 적절 정 비에 결 어야 다.

전 적 체 사 없는 경 에는 신 출 신 곡

정 또는 타 정 비에 연결 는 다 제공 어야 , 시험 적 에

야 다.

출 없는 신 경 출 신 는 전 적 체 매체(means)

시험 경 에 정 비( 들어, 시 볼 는 라 등)에 결 어야

다. 만 신 가 희망 출 신 제공 는 출 커넥 또는 포트 갖는 경 에 러

포트는 정상동 에 사 는 블과 같 블 시험 경 에

정 비에 연결 어야 다.

정 비는 제조 에 공 다.

결 매체에 시험에 미 는 과 최 주 여야 다.

4.2.5 신 신 체 (시 )

신 신 가 나 시 , 신 결 경 나 조 가 동시 시험

가능 크 경 에 나 시 내 평가 다. 러 경 에, 신

또는 신 신 는 시험 경 내 에 어야 내 시험 신 에 동시에 노출 어야

다.

신 또는 신 신 가 같 주파 동 는 경 에 신 출 신 는

시험 경 에 는 정 비에 연결 는 신, 신 과 다

감쇠 사 여 시험 경 내 에 어 는 신 에 연결 어야 다.

4.3 제 역 (Exclusion Bands)

근거 무 동 주파 들 전 복사 RF 내 시험에 제 다.

근거 무 신 에 사 는 동 주파 들 전 드 동 에 는 전

복사 출 정에 제 다.

근거 무 신 또는 보조 에 출 정에 적 는 제 역 없다.

출 정과 내 시험에 제 는 주파 들 본 에 제 역(exclusion band)

언 , 다 4.3.1 과 4.3.2 에 정 다.

4.3.1 신 제 역

채널 주파 역(channelized frequency band)에 사 는 신 ( 신 신

포 )에 제 역 다 과 같 결정 다.

조정 (alignment range) 가 않고 단 주파 에 만 동 는 신 경 ,

제 역 주파 는 사 는 주파 채널 주파 에 2 에 주어

값 뺀 값 , 제 역 상 주파 는 사 는 주파 채널 상 주파 에 2 에

주어 값 값 다. 계산 값 동 주파 다.

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8

조정 가 고 단 주파 에 만 동 는 신 경 , 제 역

주파 는 조정 주파 에 2 에 주어 값 뺀 값 , 제 역

상 주파 는 조정 상 주파 에 2 에 주어 값 값 다. 계산

값들 조정 심 주파 다. 그러나 만약 조정 가 조정

상 주파 10%보다 넓 경 , 계산 값 조정 상 주파 10%

다.

동 역 심주파 20%보다 적 폭 가 는 동 주파 역 내에 나 상

주파 에 동 는 신 경 , 제 역 주파 는 동 역

주파 에 2 에 주어 값 뺀 값 , 제 역 상 주파 는 동 역

상 주파 에 2 에 주어 값 값 다. 계산 값 동 역 심

주파 다.

동 역 심주파 20%보다 넓 주파 역 내 다 주파 에 동 는

신 경 , 내 시험 개 택 시험 주파 에 실시 야 다. 시험

주파 들 주파 역에 10 주 (logarithmic decade)당 균 간격 개

에 택 다. 각 시험 주파 에 제 역 주파 는 사 시험 주파 가

포 채널 주파 에 2 에 주어 값 뺀 값 , 제 역 상

주파 는 사 주파 가 포 채널 상 주파 에 2 에 주어 값

값 다. 계산 값 사 시험 주파 다.

채널 않 주파 역(non-channelized frequency band)에 동 는 신 같

역 신 경 , 제 역 주파 는 동 주파 역 주파 에

2 에 주어 값 뺀 값 , 제 역 상 주파 는 동 주파 역 상

주파 에 2 에 주어 값 값 다. 전체 제 역 앞에 계산 값과

동 역 심 주파 심 신 동 주파 역 큰 값 다.

< 2> 근거 무 에 제 역

근거 무 에 EMC 제 역 신 동 주파

fo 신 식 I 신 식 II 신 식 III

< 300 kHz fo ± 200 kHz

(주 1 참조)

fo ± 300 kHz

(주 1 참조)

fo ± 300 kHz

(주 1 참조)

300 kHz to < 30 MHz fo ± 2 MHz

(주 1 참조)

fo ± 3 MHz

(주 1 참조)

fo ± 5 MHz

(주 1 참조)

30 MHz to < 1 GHz fo ± 10 MHz

2% х fo 큰 값

fo ± 15 MHz

5 % х fo 큰 값

fo ± 15 MHz

10 % х fo, 큰 값

1 GHz to < 2 GHz fo ± 75 MHz

(주 2 참조)

fo ± 100MHz

(주 2 참조)

fo ± 300MHz

(주 2 참조)

주 1: 150 주파 에 는 정 않 .

주 2: 2 GHz 상 주파 에 는 내 시험 없 문에 2 GHz 상 동 주파 에 제

역 없 .

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9

4.3.2 신 제 역

채널 주파 역에 동 거나 동 신 경 , 제 역 동

주파 심 당 비 에 최 점 역폭 다.

채널 않 주파 역에 동 는 신 같 역 신 경 , 제 역

동 주파 역 심주파 심 당 동 주파 역 다.

신 신 가 나 시 동시에 시험 는 경 (4.2.5 절 참조), 전체 시 에

제 역 신 에 제 역과 신 에 제 역 넓 역 사 다.

4.4 신 역 답

개 주파 에 내 시험 실시 는 동안에 생 는 신 또는 ( ) 신

신 답 역 답 ( 퓨 어 답) 는 다 과 같 다.

만 시험 에 내 RF 시험 신 (본 규격 9.2 9.5 절 참조)에 신 가 규정

능평가 (본 규격 6 절 참조)에 여 적 생 , 러 적 역

답 역 상 가 다. 시험 신 주파 는 신

복조 앞 IF (intermediate frequency) 6 dB 정격 역폭 나,

타당 다 제조 가 제시 비가 동 역폭 만큼 가시킨다. 시험

동 양만큼 감 시험 신 주파 에 복 다.

만 신 가 주파 (offset) 경 나 또는 에 규정 능평가 에

여 적 다 , 그 답 역 답 간주 다.

만 신 가 규정 능평가 에 여전히 적 않다 , 것 다 역

답 주파 에 상 는 신 주파 만들고 다는 사실 문 다. 러

상 에 , 시험 신 주파 에 언 역폭 가 또는 감

조정 여 절차 복 다.

만 신 가 주파 경 나 또는 에 규정 능평가 에 여

여전히 적 않다 , 그 상 역 간주 고 라 전 파적 문제 는

시험에 격 다.

내 시험 경 에, 역 답 무시 어야 다.

4.5 정상 시험 조

식 I 근거 무 경 , RF 어(Carrier)는 사 가능 택적 시 / 에

실제적 택 시 는 시험 신 조 어야 다. 택 시험 신 (agreed test signal)는

정 식 가 검출과 정 능 포 여야 다. 신 가 조

포트 가 고 않 경 , 내 신 원에 조가 사 어야 다.

식 II 근거 무 ( ) 경 정상 시험 조는 다 과 같다.

시험 신 희망 신 는 최 시 조 60%에 당 는 조 갖는

1,000 kHz 정 주파 조 신 공 주파 정 어야 다.

시험 신 는 최 시 조 60%에 당 는 조 갖는 1,000 kHz 정

주파 조 어야 다.

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10

식 III 근거 무 경 에는 가능 다 제조 가 정상 시험 조에 시 여야

다.

5. 성능 평가 방법

5.1 사

제조 는 시험 제출 에 다 정보 제공 여 시험 적 에 야

다.

전 파적 노출 노출 에 평가 무 주 능

에 는 문 어야 는 무 능

정상 동 는 사 제어 능 저 들 전 파적

노출 시험 에 실 었는 여 평가 사 는

조 타 , 시험에 사 전 특 (랜 비트 트 , 시 포맷 등) 시험

평가 가능 게 는 는 시험

(적 는 경 ) 시험 무 결 는 보조

는 최 블 께 전원 또는 신/신 /제어 가 나

든 포트 . 전원 포트 경 (AC) (DC) 어야 .

복조 전단에 IF 역폭

( 당 는 경 ) 신 크가 정 어 는 것 검 사 는

비가 동 동 주파 역

시험 연 적 시험 는 계

비가 사 경

근거 무 에 전 파적 능 평가 경 에는 제 과 다 정보들

추가적 제공 어 시험 적 에 어야 다.

1 에 적절 시험 식 (4.1 절 참조)

3 에 라 제조 에 택 시험 (6.1 절 참조)

능 평가는 식(4.1 절 참조)에 라 결정 다. 든 식에 능 평가는

다 내 에 다.

능

능 시적 실 복원 는 식

시험 비 적 동

가적 다 내 참고 다.

식 I: 신 적절 게 감시( ) 는 것에 능

평가 .

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식 II: RF 내 시험 는 동안 능 감 는 최 SINAD[dB] 값

.

식 III: 제조 는 능 감 정 고 평가 는 정 야 .

5.2 연 적 신 크 제공 는

특 않 특 (non-specialized nature) 갖는 무 보조 결 여

시험 는 무 에 여는 정상 시험 조 시험 열 등 적 어야 다.

5.3 연 적 신 크 제공 않는

연 적 신 크 제공 않는 무 나 적 시험 보조 에

여, 제조 는 전 파적 시험 시험 는 최 능 또는 능

저 시 여야 다.

제조 는 전 파적 시험 거나 시험 에 능 실제 또는 능 저 평가 는

시험 정 여야 다. 러 상 에 제조 는 시험 적 에 포 시키 다

정보 추가 제공 여야 다.

전 파적 시험 거나 시험 식(relevant type) 시험 주

능

에 는 문 는 식(relevant type) 시험

능

식(relevant type) 시험 에 적 적 / 적 판정

시험 실제 능 또는 실제 능 저 는

전 파적 노출 거나 노출 에 는 실제 능 또는 능 저 평가

간단 야 만, 동시에 주 능 동 여 에 적절 검사 제공 야

다.

식 III 근거 무 에 는 EMC 노출 는 동안과 노출 에 능 실제

과 능 저 평가 는 제조 가 상 정 야 다.

5.4 보조

제조 량 다 과 같 보조 가 시험 고 평가 다:

본 규정 조 적

- 보조 여 시험 평가

- 보조 무 결 여 시험 평가

다 적절 전 파적 규격 적

각 경 에, 적 보 보조 가 다 신 , 신 또는 신 께 사 는

것 가능 다.

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5.5

본 규격에 전 파적 능 평가 여 시험 무 보조 는 3.1 절

정 고 여 다 가 나 어야 다.

고정 ( , 비)

차량 ( , 동 )

휴 ( , 휴 )

러 에 라 전 파적 시험 적절 가 결정 다. 그러나 다 시사

다 적 무 보조 적 다.

휴 만 사 적상 차량 주 전원 공 어 는

무 보조 조 추가적 차량 간주

휴 또는 차량 만 사 적상 AC 전원 또는 DC 망 전원

공 어 는 무 보조 조 추가적 고정

간주

그 다 에, 다 적 무 보조 에 여, 5 6 에 열거 나 상

시험 조건 고 어야 다.

또 트 내에 는 무 는 본 규격 조건들 만족 야 다.

6. 성능평가기준

6.1

근거 무 제 각각 체 최 능평가 갖는 가 종 다.

러 는 시험 가 EMC 시험에 시 최 능 상에 동 않 경

사람 나 주 제 에 미 는 다.

< 3> 능평가 근거 무 종

근거 무

종 신 능에 험 평가(Risk Assessment)

1 종 매 높 신 는(highly reliable) 근거 무 : (사람에 물 적

험 는) 생 에 본 적 시 담당 는

2 종 높 신 는(medium reliable) 근거 무 : 다 는

게 극복 없는 편 사람에 생 매체

3 종 보 신 는(standard reliable) 근거 무 : 매뉴얼 등 다

는 게 극복 는 편 사람에 생 매체

본 에 고 는 근거 무 에 과 각각에 B 에 다.

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6.2 능평가

능평가 시험 무 가 내 시험에 여 적 거나 적 결정

사 다.

내 시험 는 동안 나 시험 에 다양 식( 1 참조)과 께 다양 종

근거 무 에 능평가 아래 같다.

- 연 특 상에 내 시험 경 능평가 A 적

- 과 특 상에 내 시험 경 능평가 B 적

- 특정 시간 초과 는 시 정전(power interruptions)에 내 시험 경 능평가

본 9.7.3 절에 규정 어 .

시험 는 근거 무 적절 에 다 절에 시 능평가

만족 야만 다.

6.3 능평가

< 4> 근거 무 능평가

1 종 근거 무

평가 시험 (During Test) 시험 (After Test)

A

- 정상 동 것

- 능 실 없 것

- 식 II 경 최 능

12 dB SINAD 어야 .

- 비 적 답 없 것

- 정상 동 것

- 식 II 경 신 크는 것

- 능 실 없 것

- 능 저 가 없 것

- 저 나 사 정 능 실 없 것

B

- ( 나 상 ) 능 실

생


- 정상 동 것

- 실 능(들) 복 어야 것



2 종 근거 무


A

- 정상 동 것

- 능 실 없 것

- 식 II 경 최 능

6 dB SINAD 어야 .


- 정상 동 것

- 식 II 경 신 크는 어야 .

- 능 실 없 것



B

- ( 나 상 ) 능 실

생


- 정상 동 것

- 실 능(들) 복 어야



3 종 근거 무


A and B

- ( 나 상 ) 능 실

생


- 정상 동 것

- 식 II 경 신 크가 않

만, 사 에 복 어야 것



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6.4 신 에 가 연 상에 능평가 (CT)

적 시험 는 보조 포 근거 무 식 I II 경 , 본

6.3 절에 주어 같 종 능평가 A 적 다.

시험 는 동안 신 크가 는 것 는 근거 무 식 II III 경 ,

내 시험 과정 에 신 크가 는 것 제조 에 제공 는 적절

단에 검 야 다.

시험 가 신 경 어 비 적 전 생 않

드에 시험 복 야 다.

6.5 신 에 가 과 상에 능평가 (TT)


6.3 절에 주어 같 종 능평가 B 적 다. 단, 특정 시간 초과 는

시 정전(power interruption)에 시험 경 본 9.7.3 절에 시 능평가

적 다.

시험 는 동안 신 크가 는 것 근거 무 식 II III 경 ,


단에 검 야 다.



6.6 신 에 가 연 상에 능평가 (CR)


6.3 절에 주어 같 능평가 A 적 다.



단에 검 야 다.



6.7 신 에 가 과 상에 능평가 (TR)


6.3 절에 주어 같 능평가 B 적 다. 단, 특정 시간 초과 는

시 정전(power interruption)에 시험 경 본 9.7.3 절에 시 능평가

적 다.



단에 검 야 다.

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6.8 적 시험 보조 에 능평가

만 보조 가 적 시험 경 , 절에 능평가

적절 않다. 라 시험 적 에 제조 는 내 시험 시험 에

는 능 또는 능 저 에 규격 정 야 다. 능에 규격

제 에 포 어야 다. 또 5.3 절에 정 규격 고 어야 다.

제조 가 시 능평가 앞 절에 것과 동 정 내 보 나타내야

다.

7. EMC 시험 적용 개요

본 절에 고 는 전 파 내 시험 적 에 는 무

보조 에 문 에 시 든 전 파적 시험에 포 적 개 나타낸다.

본 규격에 시 전 파적 시험 적 시험 고 는 무 보조

실제 식에 라 달라 다. 든 시험 포트 전 파적 시험 다. 특 태

포트 갖 않는 시험 경 나 동 상/ 상 가 는 경 에, 전 파적

시험 적 않 다. 본 문 가 적 사 는 경 에, 특정 포트에

특정 시험 적 않 결정과 에 정당 시험 적 에 어야 다.

DC 전원 는 들에 연결 는 신 제어 포트는 신 제어 포트 만 평가 어야

다.

7.1 전 파 (EMI) 시험

< 5> 근거 무 보조 에 전 파 시험

시험 조건

시험 적 고정 무

보조

( : )

차량 무

보조

( : 차량 )

휴 무

보조

( : 휴 )

본

문

참고 절

복사 출 보조

체 포트

단 에만

시험적

단 에만

시험적

단 에만

시험적 8.2

DC 전원

/출 포트 적 적

당사

없 8.3

전 출 AC 전원

/출 포트 적

당사

없

당사

없 8.4

고조파

전 출 AC 포트 적

당사

없

당사

없 8.5

전압 동

커 AC 포트 적

당사

없

당사

없 8.6

전 출 신 포트 적 당사

없

당사

없 8.7

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7.2 전 파내 (EMS) 시험

< 6> 근거 무 보조 에 전 파내 시험

시험 조건

시험 적 고정 무

보조

( : )

차량 무

보조

( : 차량 )

휴 무

보조

( : 휴 )

본

문

참고 절

무 주파 (RF)

전

(80MHz~2GHz)

체 포트 적 적 적 9.2

정전 전 체 포트 적 적 적 9.3

전 적 빠

과 상,

공 드

신 , 신 ,

제어 , DC

AC 전원 포트

적 당사

없

당사

없 9.4

RF 공 드

(0.15~80MHz)

신 , 신 ,

제어 , DC

AC 전원 포트

적 적 당사

없 9.5

과 상

DC 전원

포트

당사

없 적

당사

없 9.6

전압강

정전

AC 전원

포트 적

당사

없

당사

없 9.7

간

‐접 간

AC 전원

포트,

신 포트

적 당사

없

당사

없 9.8

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8. 전자파장해(EMI) 시험을 위한 측정방법 및 허용기준

8.1 시험

본 절 전 파적 시험 에 조건 정 다.

정 상적 사 는 주파 역에 최 생 는 동 드에

실시 어야 다.

는 가능 상적 고 전 적 동 나타내 어야 다.

탈착 안 나 시 않는 체 안 나가 제공 는 무 경

상적 전 적 안 나 착시 시험 야 다.

만약 시험 가 시 거나 보조 에 연결 다 시험 는

포트 시키 보조 최 에 연결 여 시험 는

것 다.

다 포트 가 고 는 제 경 , 실제 동 조건 시뮬 고 든 식

종단 포 충 개 포트가 정 어야 다.

정상적 동 조건에 연결 어 사 는 포트는 보조 또는 보조

처럼 보 게 는 종단 블에 연결 어야 다. RF /출 포트는

정 게 종단 어야 다.

시험 는 동안 동 드 시험 시험 적 에 상 게 어야 다.

8.2 적 정 는 보조 체

본 시험 제조 에 시 같 무 에 포 않고 적 정

보조 에만 적 다. 시험 보조 적 에 어야 다.

시험 무 에 는 보조 또는 무 에 결 어 정

보조 에는 적 않는다. 러 경 에 전파 펙트럼 적 사 제

규격 사 적 야 다.

8.2.1 정

본 시험 내 노 가 체 복사 는 것 제 보조 능 평가 다.

8.2.2 시험

시험 KN 22 다.

8.2.3

보조 는 7 에 나타낸 KN 22 에 (10 m 정거 ) 만족 야 다.

< 7> 적 정 보조 복사 출

주파 ( 첨 )

30 ~ 230 30 dBμV/m

230 ~ 1000 37 dBμV/m

주. 천 주파 에 는 낮 적 다.

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달 신 전 보조 는 8 에 나타낸 (10 m 정거 ) 사 다.

< 8> 적 정 가능 신 전 보조 복사 출

주파 ( 첨 )

30 ~ 230 40 dBμV/m

230 ~ 1,000 47 dBμV/m


8.3 DC 전원 /출 포트

본 시험 3 m 보다 DC 블 갖는 고정 무 보조 에 적 다. (5.1 절 -

제조 신고 참조)

만 무 보조 DC 전원 블 3 m 고, 전 AC/DC 전원 공 에 접

연결 었다 , 정 8.4 절에 시 것과 같 그러 전원 공 AC 전원

포트에 어야 다. DC 블 3 m 보다 경 정 무 보조

DC 전원 포트에 어야 다.

본 시험 무 나 보조 , 무 보조 조

에 어야 다.

8.3.1 정

본 시험 내 노 가 DC 전원 /출 에 나타나는 것 제 시험

능 평가 다.

8.3.2 시험

시험 KN 22 라야 고 사전원 망(AMN) DC 전원에 연결 어야 다.

정 주파 는 150 kHz ~ 30 MHz 다. 시험 가 30 MHz 주파 에 동 는

신 경 , 신 제 역 신 동 드에 정에 적 다. (4.3.2 절

참고)

DC 출 포트에 정 여, 포트는 사전원 망(AMN) 여 정격

전 원 사 는 에 연결 어야 다.

8.3.3

는 평균 검파 신 첨 검파 신 각각 사 여 8.3.2 절에

것과 같 정 , 평균 과 첨 포 는 아래

만족 야 다. 만 첨 사 여 평균 만족 다 , 는

만족 는 것 여 평균 검파 정 가 없다.

는 9 에 나타낸 KN 22 에 만족 야 다.

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< 9> 전

주파 ( 첨 ) (평균 )

0.15 ~ 0.5 66 dBμV ~ 56 dBμV 56 dBμV ~ 46 dBμV

0.5 ~ 5 56 dBμV 46 dBμV

5 ~ 30 60 dBμV 50 dBμV

주 1. 0.15 ~ 0.5 주파 에 주파 주 에 라

적 감 다.

주 2. 천 주파 에 는 낮 적 다.

달 신 전 에 여는 10 에 나타낸 사 다.

< 10> 신 전 전

주파 ( 첨 ) (평균 )

0.15 - 0.5 79 dBμV 66 dBμV

0.5 - 30 73 dBμV 60 dBμV


8.4 AC 전원 /출 포트

본 시험 AC 전원에 전원 공 는 고정 무 보조 에 적 다.

본 시험 무 나 보조 , 무 보조 조 에

어야 다.

8.4.1 정

본 시험 내 노 가 AC 전원 /출 에 나타나는 것 제 시험

능 평가 다.

8.4.2 시험

시험 KN 22 에 라야 고 사전원 망(AMN) AC 전원에 연결 어야 다.



참조).

시험 AC 전원(출 ) 포트에 출 정 여, 포트는 사전원 망(AMN)

여 정격 전 원 사 는 에 연결 어야 다. AC 전원(출 ) 포트가 접 (또는

차단 여) 시험 AC 전원 포트에 연결 는 경 에는, 그 AC 전원 출

포트는 시험 가 없다.

8.4.3

는 평균 검파 신 첨 검파 신 각각 사 여 8.4.2 절에

것과 같 정 , 평균 과 첨 포 는 아래

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20

만족 야 다. 만 첨 사 여 평균 만족 다 , 는

만족 는 것 여 평균 검파 정 가 없다.

는 11 에 나타낸 KN 22 에 만족 야 다.

< 11> 전

주파 ( 첨 ) (평균 )

0.15 ~ 0.5 66 dBμV ~ 56 dBμV 56 dB ~ 46 dBμV

0.5 ~ 5 56 dBμV 46 dBμV

5 ~ 30 60 dBμV 50 dBμV

주 1. 0.15 ~ 0.5 주파 에 주파 주 에 라

적 감 다.


달 , 신 전 는 12 에 나타낸 사 다.

< 12> 신 전 전

주파 ( 첨 ) (평균 )

0.15 ~ 0.5 79 dBμV 66 dBμV

0.5 ~ 30 73 dBμV 60 dBμV


8.5 고조파 전 출 (AC 전원 포트)

고조파 전 출에 IEC 61000-3-2/A 적절 조건 본 문 적 에 포

상당 16 A 전 갖는 에 적 다.

8.6 전압 동 커 (AC 전원 포트)

전압 동 커에 여 IEC 61000-3-3 적절 조건 본 문 적 에

포 상당 16 A 전 갖는 에 적 다. 상 당 75 A 사 는

는 IEC 61000-3-11 적 다.

주. 전압 동 커에 시험 전원 망에 값 정 져야 므 내

전원 망 값 정 시험 평가 다.

8.7 신 포트

본 시험 신 포트 갖는 고정 무 보조 에 적 다.

본 시험 무 나 보조 , 무 보조 조 에

어야 다.

8.7.1 정

신 포트에 나타나는 시험 출 평가 다.

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8.7.2 시험

시험 KN 22 에 라야 다.



참조)

8.7.3

신 포트는 13 에 나타낸 KN 22 에 만족 야 다.

< 13> 신 포트 전

전압 [dBμV] 전 [dBμA] 주파

(MHz) 첨 평균 첨 평균

0.15 ~ 0.5 84 ~74 74 ~ 64 40 ~ 30 30 ~ 20

0.5 ~ 30 74 64 30 20

주 1. 0.15 MHz ~ 0.5 MHz 주파 에 주파 주 에 라 적

감 다.

주 2. 전 전압 시험 신 포트에 (비 드) 공 드 가

150 Ω 나타나는 안정 망(ISN) 사 경 에 여 다.

( 는 20 log10 150/I=44 dB)


달 , 신 전 는 14 에 나타낸 사 다.

< 14> 신 전 신 포트 전

전압 [dBμV] 전 [dBμA] 주파

(MHz) 첨 평균 첨 평균

0.15 ~ 0.5 97 ~87 84 ~74 53 ~ 43 40 ~ 30

0.5 ~ 30 87 74 43 30

주 1. 0.15 ~ 0.5 주파 에 주파 주 에 라 적

감 다.

주 2. 전 전압 시험 신 포트에 (비 드) 공 드 가

150 Ω 나타나는 안정 망(ISN) 사 경 에 여 다.

( 는 20 log10 150/I =44 dB)


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22

9. 전자파내성(EMS) 시험을 위한 시험방법 및 성능평가기준

9.1 시험

본 절 내 시험 조건 정 다.

내 시험 시 정상적 동 경 내에 에 정격 전원 전압에

어야 다.

만약 시험 가 시 거나 보조 에 연결 다 시험 는

포트 시키 보조 최 에 연결 여 시험 는

것 다.

탈착 안 나 시 않는 체 안 나가 제공 는 무 경

상적 전 적 안 나 착시 시험 야 다.

격/ 격 판정 없는 보조 내 시험에 는 보조 에

결 신 또는 신 가 당 보조 격 격 여 판단

사 다.

다 포트 가 고 는 제 경 , 실제 동 조건 시뮬 고 든 태

종단 포 충 개 포트가 정 어야 다.

정상적 동 조건에 연결 어 사 는 포트는 보조 나 보조

종단 블 연결 어야 다. RF /출 포트는

정 게 종단 어야 다.

상적 동 는 동안 블에 연결 않는 포트( 들어 비

커넥 , 그래 커넥 , 시적 커넥 등)는 전 파적 시험 는 동안

어 블에 연결 않는다. 러 포트에 블 연결 어야만 거나

시험 동 연결 블 연 어야만 는 경 , 러 블

연 나 추가 시험 에 평가가 않 주 야 다.

시험 는 동안 동 드 시험 시험 적 에 상 게 어야 다.

9.2 RF 전 (80 MHz ~ 1,000 MHz 1,400 MHz ~ 2,000 MHz)

RF 전 에 내 시험 무 보조 에 적 다.

내 시험 무 보조 , 무 보조 조

에 어야 다.

9.2.1 정

본 시험 RF 전 가 존 는 곳에 시험 가 동 는 능

평가 다.

9.2.2 시험

시험 KN 61000-4-3 에 라 어야 다.

다 조건과 시험 결과에 판정 적 어야 다.

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시험 3 V/m (무 조 정 값) 다. 시험 신 는 1 정 파 신

80 % 폭 조 어야 다. 만 희망 신 가 1 조 었다 , 400

신 가 사 어야 다.

시험 신 신 , 그 고 신 (4 절 참조)에 여 제 역

제 주파 80 ~ 1,400 1,400 ~ 2,000 에 어야 다.

신 신 에 시험 주파 가 폭 종 에 라 다 과 같다.

- 1 종 2 종 근거 무 경 , 시험주파 가 전에 사 시험

주파 1 % 어야 다.

- 3 종 근거 무 경 , 시험주파 가 전에 사 시험주파

10 % 어야 다.

산 주파 에 생 는 신 답 역 답 내 시험에 는 무시

다. (4 절 참조)

시험 는 동안에 택 고 사 주파 는 시험 적 에 어야 다.

9.2.3 능평가

신 경 본 6 절에 고 는 신 에 연 상에 능평가

적 다.


적 다.

보조 경 , 보조 가 신 나 신 에 연결 어 시험 에 제시 능평가

에 , 그 않 경 내 시험에 보조 제조 가 제공 격/ 격

판정 (6.8 절 참조) 적 다.

9.3 정전 전

본 시험 무 보조 에 적 다.

본 시험 무 보조 , 무 보조 조

에 어야 다.

9.3.1 정

본 시험 정전 전 상 생 상 에 시험 가 동 는 능

평가 다.

9.3.2 시험

시험 KN 61000-4-2 에 라 어야 다.

무 보조 에 다 조건과 시험 결과에 평가가 적 어야 다.

접촉 전 시험 4 고, 공 전 경 에는 8 다. 간시험

포 다 든 상 사 KN 61000-4-2 에 포 어 다.

정전 전 시험 든 노출 에 적 어야 다. 다만 사 에

적절 보 책 사 특 히 언 제 다. (KN 61000-4-2 참조)

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9.3.3 능평가

신 경 본 6 절에 고 는 신 에 과 상에 능평가

적 다.


적 다.

보조 경 , 보조 가 신 나 신 에 연결 어 시험 에 제시

능평가 에 , 그 않 , 내 시험에 보조 제조 가 제공

격/ 격 판정 (6.8 절 참조) 적 다.

9.4 빠 과 상, 공 드

본 시험 무 보조 AC 전원 포트(존 는 경 )에 어야 다.

만 블 가 3 m 보다 경 에는 본 시험 무 보조 신 포트,

신 포트, 제어 포트, 그 고 DC 전원 포트에 추가적 어야 다. 제조 가 3

m 보다 블 사 않는다고 언 포트에 러 시험 않 ,

러 시험 않는 포트 시험 적 에 포 어야 다.


에 어야 다.

9.4.1 정

본 시험 /출 포트 나에 빠 과 상 존 는 상 에 시험 가

동 는 능 평가 다.

9.4.2 시험

시험 KN 61000-4-4 에 라 어야 다.

다 조건과 시험 결과에 평가가 적 어야 다.

신 포트, 신포트 제어포트에 시험 KN 61000-4-4 에 주어

같 0.5 kV 개 전압 적 다.

DC 전원 포트에 시험 KN 61000-4-4 에 주어 같 0.5 kV

개 전압 적 다.

AC 전원 포트에 시험 KN 61000-4-4 에 주어 같 1.0 kV

개 전압 적 다.

9.4.3 능평가


적 다.


적 다.

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능평가 에 , 그 않 , 내 시험에 보조 제조 가 제공

격/ 격 판정 (6.8 절 참조) 적 다.

9.5 무 주파 , 공 드


만 블 가 3 m 보다 경 에는 본 시험 무 보조 신 포트,

신 포트, 제어 포트, 그 고 DC 전원 포트에 추가적 어야 다.

제조 가 3 m 보다 블 사 않는다고 언 포트에 러 시험

않 , 러 시험 않는 포트 시험 적 에 포 어야 다.


에 어야 다.

9.5.1 정

본 시험 /출 포트에 RF 전 가 존 는 상 에 시험 가


9.5.2 시험

시험 KN 61000-4-6 에 라 어야 다.

다 조건과 시험 결과에 평가가 적 어야 다.

시험 KN 61000-4-6 에 주어 같 무 조 3 Vrms 2 어야 다.

시험 신 는 1 kHz 정 파 신 80 % 폭 조 어야 다. 만 희망 신 가

1 kHz 조 었다 , 400 Hz 신 가 사 어야 다.

시험 신 신 , 그 고 신 (4 절 참조)에 제 역

제 주파 150 kHz ~ 80 MHz 에 어야 다.

신 신 에 시험 주파 가 폭 종 에 라 다 과 같다.

- 1 종 2 종 근거 무 경 , 5 MHz ~ 80 MHz 주파 역에 시험주파

가 전에 사 시험주파 1 % 어야 다.

- 3 종 근거 무 경 , 5 MHz ~ 80 MHz 주파 역에 시험주파 가

전에 사 시험주파 10 % 어야 다.

사 주 본 규격 KN 61000-4-6 에 라 택 어야 다.

산 주파 에 생 는 신 신 신 에 답 역

답( 퓨 어 답) 본 시험에 는 무시 다. (4 절 참조)

시험 는 동안에 사 내 시험 신 주파 는 시험 적 에 어야 다.

9.5.3 능평가


적 다.

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적 다.


능평가 에 , 그 않 , 내 시험에 보조 제조 가 제공 격/

격 판정 (6.8 절 참조) 적 다.

9.6 차량 경에 과 상

본 시험 차량 사 고 는 무 보조 에 적 다. ( , 동 )

본 시험 차량에 동 사 고 는 동 무 보조 DC 12 V 24 V

공 전압 포트에 어야 다.

본 시험 동 무 보조 , 무 보조 조

에 어야 다.

9.6.1 정

본 시험 차량 경에 제 갖는 DC 전원 포트에 과 상 존

시험 가 동 는 능 평가 다.

9.6.2 시험

시험 DC 12 V 전원 비에 는 ISO 7637-1 , DC 24 V 전원 비에 는 ISO

7637-2 각각 적 다.

9.6.2.1 DC 12 V 전원 비에 시험 조건

제조 가 에 무 는 12 V 차량 주 (main vehicle battery)에

접 연결 어야 다고 경 다 a) 조건 적 다.

제조 가 무 는 12 V 차량 주 (main vehicle battery)에 접 연결 어야

다고 않 경 에는 a) b) 조건 적 어야 다.

a) 펄 3a 3b, II 는 각각에 시험 시간 5 고; 펄 4, II,

펄 5 는 다 과 같 특 갖는다. :

- Vs = -5 V

- Va = -2.5 V

- t6 = 25

- t7 = 50

- t8 = 5 s

- tf = 5

- 펄 싸 클 시간: 60 s

b) 펄 1, Ⅱ:

- t1 = 2.5 s;

- 펄 10 개;

펄 2, Ⅱ:

- t1 = 2.5 s;

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- 펄 10 개

펄 7, Ⅱ:

- 펄 7 개

주. Vs Va 는 펄 파 에 전압 시 고 t#는 각 펄 파 에 시 에 당 는

시간 간격 나타냄. tf 는 펄 강시간(falling time) 나타냄.

제조 가 무 는 차량 주 에 접 연결 는 것 고 라 b)

조건에 내 시험 않아 다고 시 경 러 상태

시험 적 에 다.

9.6.2.2 DC 24 V 전원 비에 시험 조건


다고 에 경 다 c) 조건 적 다.


다고 않 경 에는 c) d) 조건 적 어야 다.

c) 펄 3a 3b, II 는 각각에 시험 시간 5 고; 펄 4, II, 펄

5 는 다 과 같 특 갖는다.

- Vs = -10 V

- Va = -5 V

- t6 = 25

- t7 = 50

- t8 = 5 s

- tf = 10

- 펄 싸 클 60 s

d) 펄 1a, II

- t1 = 2.5 s

- Ri = 25 Ω

- 펄 10 개

펄 1b, II

- t1 = 2.5 s

- Ri = 100 Ω

- 펄 10 개

펄 2, II

- t1 = 2.5 s

- 펄 10 개

주. Vs Va 는 펄 파 에 전압 시 고 t#는 각 펄 파 에 시 에 당 는

시간 간격 나타냄. tf 는 펄 강시간(falling time) 나타내고 R 나타냄.

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제조 가 무 는 차량 주 에 접 연결 는 것 고 라 d)

조건에 내 시험 않아 다고 시 경 러 상태

시험 적 에 다. 개 DC 전원 전압에 동 계 무

보조 는 가 에 시험 어야 다.

9.6.3 능평가

신 펄 3a 3b 에 본 6 절에 고 는 신 에 연 상에

능평가 신 에 적 어야 다.

펄 1, 1a, 1b, 2, 4, 그 고 7 경 본 6 절에 고 는 신 에 과

상에 능평가 신 에 적 어야 다. 신 크는 전 파적 시험

에 는 없 나 노출 종료 정 어야 제 다.

신 펄 3a 3b 에 본 6 절에 고 는 신 에 연 상에

능평가 신 에 적 다.

펄 1, 1a, 1b, 2, 4, 그 고 7 경 본 6 절에 고 는 신 에 과

상에 능평가 신 에 적 어야 다. 신 크는 전 파적 시험 에

는 없 나 노출 종료 정 어야 제 다.

에 제시 능평가 에 보조 가 신 나 신 에 연결 어 시험 않는

경 , 내 시험에 보조 격/ 격 판정 제조 가 제공 것 (6.8 절 참조)

적 다.

주. 차량 경에 과 상 에 내 시험 경 개정 ISO 7637 규격 내에

적 는 시험평가 거나 원 는 경 에 본 규격에 라 시험평가 다.

9.7 전압 강 정전


시험 무 나 보조 , 무 보조 조 에

어야 다.

9.7.1 정

본 시험 AC 전원 포트에 전압 강 정전 존 시험 가


9.7.2 시험

다 조건과 시험 결과에 판정 적 어야 다.

시험 KN 61000-4-11 에 라 어야 다.

시험 아래 같 적 어야 다.

0.5 주 동안 공 전압 30% 감 에 상 는 전압 강

5 주 동안 공 전압 60% 감 에 상 는 전압 강

300 주 동안 공 전압 95% 상 감 에 상 는 정전

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9.7.3 능평가

능평가 종 에 라 다.

0.5 주 동안 공 전압 30 % 감 에 상 는 전압강 (voltage dips) 경 , 본

6.4 절 나 6.6 절에 시 신 신 에 연 상 능평가 적절히

적 다.

5 주 동안 공 전압 60 % 감 에 상 는 전압강 (voltage dips) 경 , 다

능평가 적 다.

- 1 종 근거 무 에 포 신 경 신 에 가 연 상

능평가 (6.4 절 참조)

- 2 종 3 종 근거 무 에 포 신 경 신 에 가 과 상


- 1 종 근거 무 에 포 신 경 신 에 가 연 상


- 2 종 3 종 근거 무 에 포 신 경 신 에 가 과 상


300 주 동안 공 전압 95 % 상 감 는 정전(voltage interruptions) 경 , 본

6.5 절 나 6.7 절에 시 신 신 에 가 과 상 능평가

적절히 적 다.

9.8

에 내 시험 무 보조 AC 전원 포트(존 는 경 )에

어야 다.

신포크가 존 는 경 에 내 시험 신포트(3.1 절 참조)에 추가적

어야 다.

에 내 시험 무 나 보조 , 무 보조

조 에 어야 다.

9.8.1 정

에 내 시험 AC 전원 포트 신포트에 가 존 시험 가


9.8.2 시험

시험 KN 61000-4-5 에 라 어야 다.

9.8.2.1 절 ( 신포트, 블), 9.8.2.2 절 ( 신 포트, 내 블), 그 고 9.8.2.3 절

(AC 전원 포트)에 주어 조건 규격과 시험 결과에 판정 적 야 다. 그러나

시험 에 결 감결 망(Coupling/Decoupling Network: CDN) 문에

정상적 능 달 없는 경 에는 시험 않는다.

9.8.2.1 블에 접 연결 신포트에 시험

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블 여 신 망에 접 연결 신포트에 시험 KN 61000-

4-5 에 주어 같 과 접 간에 ±1 kV 어야 다. 그러나 신 내에 는 ±0.5

kV 과 접 간 전압 사 다. 러 경 생 전체 출 는 본

규격 KN 61000-4-5 라야 다.

시험 생 는 KN 61000-4-5 에 정 것처럼 개 전압 1.2 / 50 μs, 단락

전 8/20 μs 펄 가 제공 어야 다.

9.8.2.2 내 블에 접 연결 신포트에 시험

( 10 m 상 ) 내 블에 연결 신포트에 시험 과 접 간에 ±0.5

kV 어야 다. 러 경 생 전체 출 는 본 규격 KN 61000-4-

5 라야 다.



9.8.2.3 AC 전원 포트에 시험

AC 전원 포트에 시험 과 접 간에 ±2 kV, 과 간에 ±1 kV 어야 고,

KN 61000-4-5 에 주어 출 가져야 다.

신 내에 는 과 접 간에 ±1 kV, 과 간에 ±0.5 kV 가 사 어야 다.



9.8.3 능평가


적 다.


적 다.


능평가 에 , 그 않 , 내 시험에 보조 제조 가 제공 격/

격 판정 (6.8 절 참조) 적 다.

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Ⅰ.

본 에 다루는 근거 무 (Short Range Devices) 제

Ⅰ.1. 25 ~ 1,000 MHz 주파 역에 500 mW RF 전 사 는

근거 무

본 25 ~ 1,000 MHz 주파 역에 500 mW RF 전 사 는 근거

무 보조 에 적 다. 러 근거 무 보조 에 정 는

다 무 에 어 다.

EN 300 220-1: "Electromagnetic compatibility and Radio spectrum Matters (ERM); Short

Range Devices (SRD); Radio equipment to be used in the 25 MHz to 1,000 MHz

frequency range with power levels ranging up to 500 mW; Part 1 : Technical

characteristics and test methods"

Ⅰ.2 9 kHz ~ 25 MHz 주파 역에 동 는 근거 무 9 kHz ~ 30

MHz 주파 역에 동 는 루 시

본 9 kHz ~ 25 MHz 주파 역에 동 는 근거 무 , 9 kHz ~ 30 MHz 주파

역에 동 는 루 시 (inductive loop system), 그 고 보조 에 적 다.

러 근거 무 보조 에 정 는 다 무 에 어 다.


Range Devices (SRD); Radio equipment in the frequency range 9 kHz to 25 MHz and

inductive loop systems in the frequency range 9 kHz to 30 MHz; Part 1: Technical

characteristics and test methods".

Ⅰ.3 1 GHz ~ 40 GHz 주파 역에 동 는 근거 무

본 1 GHz ~ 40 GHz 주파 역에 4 W RF 전 사 는 근거 무

보조 에 적 다. 러 근거 무 보조 에 정 는 다 무

에 어 다.


range devices; Radio equipment to be used in the 1 GHz to 40 GHz frequency range;

Part 1 : Technical characteristics and test methods".

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Ⅱ.

능평가 근거 무

(Performance classification of Short Range Devices)

본 에 는 6.1절에 언 근거 무 가 능 등 다.

는 야에 라 다 네 가 정 다.

"원격 (Telecommand) 원격조 (Telecontrol)" ( B.1)

"원격 정(Telemetry)" "무 감 / 정(Wireless sensing/measuring)" ( B.2)

"알람(Alarm)" ( B.3)

타 ( B.4)

< Ⅱ-1> 원격 (Telecommand) 원격조 (Telecontrol)

원격 (Telecommand) 원격조 (Telecontrol)

3 Garage Door Openers

3 Car Lock/Unlock Devices

1 Remote Control, Models - Planes

2 Remote Control, Models - Ships, Cars, etc.

3 Remote Control Toys General

3 Radio Remote Control: Television, Audio, etc.

2 Remote Control Appliances and Lighting, etc.

for Residential Use Only

3 RF Door Bell

3 Baby Monitor

1 Remote Control Power and Lighting

1 Remote Surveillance Switching

1 Remote Control Cranes, etc.

1 Remote Control Grass Cutting Tractors, etc.

1 Emergency Shunt down Controls

2 Level Indicator

< Ⅱ-2> 원격 정(Telemetry) 무 감 / 정(Wireless sensing/measuring)

원격 정(Telemetry)

1 Person Identification*

2 Animal Identification

2 Product Identification

2 Cargo Handling and/or Store (Warehouse) Systems

2 Domestic Telemetry

1 Telemetry in Vehicles*

무 감 / 정(Wireless sensing/measuring)

1 Machine Tools/Robotics*

1 Fire Detection

1 Crane Weigher

1 Process Control*

1 Position Locator*

1 Mooring Loads*

1 Wireless Data Communication*

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< Ⅱ-3> 알람(Alarm)

알람(Alarm)

1 Domestic Security

2 Car Alarms

2 Anti-theft

1 Guard Systems

1 Personal Security

1 Victims of Avalanche

1 Elderly Persons

1 Mental Institutions, etc.

2 Building Management Systems

2 Radio Call Alert

1 Baby/Nursery Monitor – Non Domestic

2 Detection

2 Offender Monitoring

< Ⅱ-4> 타

타

2 Video Cordless Terminals

2 Cordless Local Networks

2 Identification of Rail Wagons

1 Identification/Access Control*

2 Domestic Transmission of Sound and Vision

1 Medical Telemetry*

2 Deaf Education Systems

2 Surface Probing Radar

2 Vehicle Detection/Monitoring

능 는 상 블에 언 에 라 정 것 다. 특정 야가

언 않 경 에는 특정 에 가 가 야 능 가 정

것 다.

주: * 시 경 제조 에 2종 다.

공헌

: TTAS.KO-06.0158

제․개정 간 아래 같 여러 들 공헌 니다.

원 연락처 사

과제 제안 종 전파 정 젝트그룹 원

042-860-6742 [email protected]

전 신연 원

초안

제출 종

전파 정 젝트그룹 원


전 신연 원

식 전파 정 젝트그룹


전남체신청

종

종

최

조희곤

조원

태헌

등

간사 전파 정 젝트그룹 원


전파연

노천 - 031-277-7752

[email protected] 삼 전

천 - 02-2630-3091

[email protected] LG 전

보 - 02-2260-3333

[email protected] 동

정 - 02-2018-4340

[email protected] 라 아

초안

검

상 - 031-639-8517

[email protected] HCT

균 전파

원 031-279-5100

[email protected] 삼 전

안 심

원 원

- 031-724-0090 [email protected]

TTA

사무 담당

남경 - 031-724-0095 [email protected]

TTA

정보 신단체

근거 무 에 전 파적 시험

(Electromagnetic compatibility measurement method for short range

devices)

: 원식

처 : 정보 신

463-824, 경 남시 당 동 267-2

Tel : 031-724-0114, Fax : 031-724-0119

: 2007.12

T 근거리 무선기기에 대한 A 전자파적합성 시험방법 (Electromagnetic ... T T A S t a n d a r d 정보통신단체표준 제정일: 2007년 12월 26일 TTAS.KO-06.0158

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