SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 9.

SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Test hochintegrierter Schaltungen

Test hochintegrierter Schaltungen

Übung 9

Test hochintegrierter Schaltungen 2

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)

Test hochintegrierter Schaltungen 3

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)

Redundante Fehler (siehe Aufgabe 4): d/0,d/1,i/0,i/1,l/0,l/1, n/0,p/0,r/0

Test hochintegrierter Schaltungen 4

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)

Boolesche Differenz: • aktivierbar• observierbar• simultan aktivierbar und observierbar

Test hochintegrierter Schaltungen 5

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)

Nicht observierbare Fehler: r/0

Ableitung ist 0

Test hochintegrierter Schaltungen 6

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)

Nicht aktivierbar Fehler: r/0

r=0

Simultan nicht aktivierbar und observierbar:

n/0,p/0

Nur die Konjunktion ist 0

Test hochintegrierter Schaltungen 7

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

Test hochintegrierter Schaltungen 8

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Single Path Propagation

D

D

D

0

X0

0 Single Path Propagation mit 5-wertiger Logik:

• 2=D rechtfertigen: b=c=0• Pfad 2-6-8: d=4=5=7=0• d=4=5=7=0 rechtfertigen

• Widerspruch über a

• Pfad:2-5-8 analog

X X

0

0

0

0

00

0

01

Test hochintegrierter Schaltungen 9

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Multiple Path Propagation

D

D

D

00

0

0 1

0

0

0

0

00

0

01

D

Multiple Path Propagation mit 5-wertiger Logik:

• 2=D rechtfertigen: b=c=0• Propagation über 5 und 6• d=4=7=0 rechtfertigen• Justifizieren mit a=0

Test gefunden

Test hochintegrierter Schaltungen 10

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

Algorithmus:• Fehler in jedem Takt injizieren und in Takt 0 aktivieren• Fehler zu einem Ausgang propagieren (ev. über mehrere

Takte hinweg) und justifizieren (ev. über mehrere Takte hinweg)

• PPI im frühesten Takt kann nicht kontrolliert werden

t=0 t=1t=-1 t=2

Test hochintegrierter Schaltungen 11

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

0|1X|1 X|10|1

0|1

X|1

X|1

0|X

X|1

X|1

X|X X|X X|X 0|X 0|X

0|0 X|XX|X

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1):• Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0,

a[1]=X)

t=0 t=1t=-1 t=2

Test hochintegrierter Schaltungen 12

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1):• Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0,

a[1]=X)

5-wertige Logik:• Injektion und Aktivierung

0|1X X0|1

X

X

X

X

X

X

X X X X X

0 XX

Test hochintegrierter Schaltungen 13

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1):• Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0,

a[1]=X)

5-wertige Logik:• Injektion und Aktivierung• Propagation zu b[1]

0|10|1 X0|1

0|1

0|1

0|1

0

X

X

X 0 0 0 0

0 X0

Kann nicht justifiziert werden

Test hochintegrierter Schaltungen 14

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

0|11 X0|1

0|1

1

1

X

X

X

X 1 1 0|1 0|1

0 X1

Kann nicht justifiziert werden

9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1):• Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0,

a[1]=X)

5-wertige Logik:• Injektion und Aktivierung• Propagation zu b[1]

Test hochintegrierter Schaltungen 15

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen5-wertige vs. 9-wertige Logik)

0|10|1 X0|1

0|1

0|1

0|1

X

X

X

X 0|1 0|1 0|1 0|1

0 X0

Kann nicht justifiziert werden

9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1):• Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0,

a[1]=X)

5-wertige Logik:• Injektion und Aktivierung• Propagation zu b[1]