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RASTERELEKTRONENMIKROSKOP SEM (scanning electron microscope) Sergej Fust
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RASTERELEKTRONENMIKROSKOP SEM (scanning electron microscope) Sergej Fust.

Apr 06, 2015

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Page 1: RASTERELEKTRONENMIKROSKOP SEM (scanning electron microscope) Sergej Fust.

RASTERELEKTRONENMIKROSKOP

SEM (scanning electron microscope)

Sergej Fust

Page 2: RASTERELEKTRONENMIKROSKOP SEM (scanning electron microscope) Sergej Fust.

Gliederung

EinführungAufbau und FunktionsweiseSignalverarbeitungZusammenfassungAusblick

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ANWENDUNGAUFLÖSUNGSVERMÖGEN

GESCHICHTE

Einführung

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Anwendungen

Oberflächenstrukturanalyse massiver Proben

MaterialforschungBiologisch-medizinische Fragestellungen SchadensanalyseKriminalistik Qualitätskontrolle

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Auflösungsvermögen

Lichtmikroskop:λ ≈ 0,4 - 0,7 μmd ≈ 0,3 μmpraktisch etwa 1 μmfür große Auflösung: große Linsendurchmesser, kleiner Abstand zum Objekt

SEM:De Broglie Wellenlänge

λ=h/pλ ≈ 0,03 nm für 1 kVd < 1 nm, trotz kleinem Aperturdurchmesser und großem Arbeitsabstand (ca. 10 mm)

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Auflösungsvermögen

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Geschichte

1925 Magnetfeld als Elektronenlinse (Hans Busch)

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Elektromagnetische Linse

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Wirkungsweise einer el.-magn. Linse

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Geschichte

1925 Magnetfeld als Elektronenlinse (Hans Busch)

1931 Erstes Elektronenmikroskop (Ernst Ruska)

1937 Rasterelektronenmikroskop (Manfred von Ardenne)

1965 Erstes kommerzielles Rasterelektronenmikroskop

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Das erste Rasterelektronenmikroskop von M. von Ardenne

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AUFBAUSTRAHLERZEUGUNGPROBENPRÄPARATION

Aufbau und Funktionsweise

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Aufbau

Modernes Rasterelektronen-mikroskop

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Aufbau

ElektronenquelleAnodeMagnetische Linsen

(Kondensoren)AblenkspulenObjektivlinseProbeDetektoren

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Strahlerzeugung

Kathode: Wolfram oder LaB6

Glüh-oder Feldemission

Fokkusierung durch Wehnelt-Zylinder

Anodenspannung: 1-30 keV

Cross-over = kleinster Strahldurchmesser (wichtig für zu erreichende Auflösung)

Schem. Aufbau einer Elektronenkanone

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Probenpräparation

HochvakuumbeständigWasserfreiLeitend (Beschichtung

aus Gold oder Kohlenstoff)

Mit Gold bedampfte Spinne für eine SEM Aufnahme

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SIGNALARTENSIGNALVERARBEITUNG

DETEKTOREN

Signalverarbeitung

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Signalarten

Sekundärelektronen Rückgestreute

Elektronen Augerelektronen Röntgenstrahlung Absorbierte

Elektronen

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Signalarten

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SESE

Meistgenutzte Informationsquelle

Energie: einige wenige eVAus den obersten

Nanometern der Oberfläche

TopographieKontrast durch

Flächenneigung und Kantenkontrast

Signalverarbeitung

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Signalverarbeitung

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Kanteneffekt anhand einer mit einem SEM aufgenommene Spinne

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SESE BSEBSE

Meistgenutzte Informationsquelle

Energie: einige wenige eV

Aus den obersten Nanometern der Oberfläche

TopographieKontrast durch

Flächenneigung und Kantenkontrast

Energie: einige keVIntensität von

Ordnungszahl des Materials abhängig

schwere Elemente = helle Bereiche

Rückschlüsse auf chem. Natur bzw. Verteilung der versch. Materialien

Signalverarbeitung

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Signalverarbeitung

BSE

SE

BSE

SE

Vergl. zw. Rückstreu- und Sekundärelektronenaufnahmen

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Signalverarbeitung

SE BSE

Aufnahmen von zwei versch. Elementen mit Sekundär- und Rückgestreuten Elektronen (oben: Silizium und Titan, unten: Eisen und Kohlenstoff)

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SeSe BSEBSE

Everhart-ThornleyRauscharm, große

Bandbreite Bestandteile:

Szintillator, Faraday-Käfig, Photomultiplier

E-T mit ausgeschaltetem Faraday-Käfig

Donut-förmig über der Probe angeordnet

Szintillator oder Halbleiter

Detektoren

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Zusammenfassung

Page 28: RASTERELEKTRONENMIKROSKOP SEM (scanning electron microscope) Sergej Fust.

Zusammenfassung

Vorteile:Größere Auflösung als ein LichtmikroskopKeine Zerstörung der Probe wie beim TEMSehr gute SchärfentiefeKeine Spiegelnde Oberflächen wie beim Lichtmikroskop

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Bild eines Schwimmschneekristalls mit Licht- bzw. Rasterelektronenmikroskopie

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Zusammenfassung

Vorteile:Größere Auflösung als ein LichtmikroskopKeine Zerstörung der Probe wie beim TEMSehr gute SchärfentiefeKeine Spiegelnde Oberflächen wie beim Lichtmikroskop

Nachteile:Kleinere Auflösung als ein TEMUmständliche VorbehandlungFarbinformation geht verlorenSchädigung der Objekte durch den ElektronenstrahlKeine lebende Objekte

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ESEM

Weiterentwicklung

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Environmental scanning electron microscope (ESEM)

Geringeres Vakuum, höherer Druck (130-1300 Pa )

Angepasste Detektoren Gas (Wasserdampf, Stickstoff, Luft) statt

Hochvakuum Sekundärelektronen auf dem Weg zum

Detektor beschleunigt (Verstärkungskaskade)

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ESEM

Vorteile:Nicht vakuumstabile oder ausgasende ProbenLuftfeuchtigkeit einstellbarBedampfung entfällt

Nachteile:Kleine Vergrößerungen kaum realisierbarFlüssigkeiten sind undurchsichtigRastergeschwindigkeit länger

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Das erste ESEM Aufnahme eines Käfers mit einem ESEM

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Quellen:

http://de.wikipedia.org/wiki/Rasterelektronenmikroskop

McMullan, D. (2006). Scanning electron microscopy 1928-1965

http://www.uni-ulm.de/elektronenmikroskopie/REMHerbst2001.html

Rasterelektronenmikroskopie; L. Reimer, G. Pfefferkorn; Springer Verlag (1977)

The scanning electron microscope; Oatley, Charles W