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Para:Para:
Red Elctrica AndinaRed Elctrica Andina S.A.C.S.A.C.Presentado
por:Presentado por:
Ing. Hctor Frisancho F.Ing. Hctor Frisancho F.
CURSO DE ENTRENAMIENTO
OMICRON TEST UNIVERSEADVANCED PROTECTION PACKAGE
ENSYS S.A.C. Page: 2Jun-10
CONTENIDOCONTENIDO1.1. CMCCMC--256 / 356 Hardware256 / 356
Hardware2.2. Software O.T.U.Software O.T.U. ConceptoConcepto3.3.
Mdulo de PruebaMdulo de Prueba QuickCMCQuickCMC4.4. Mdulo de
PruebaMdulo de Prueba RampingRamping5.5. Mdulo de PruebaMdulo de
Prueba StateState SequencerSequencer6.6. Mdulo de Prueba
OvercurrentMdulo de Prueba Overcurrent7.7. Mdulo de PruebaMdulo de
Prueba AdvAdv.. DistanceDistance8.8. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba
AdvAdv.. DifferentialDifferential9.9. Mdulo de PruebaMdulo de
Prueba AdvAdv.. TransplayTransplay
10.10. Herramientas de PruebaHerramientas de Prueba11.11.
ConfiguracinConfiguracin12.12. Calibracin y DiagnosticoCalibracin y
Diagnostico13.13. OMICRON Control CenterOMICRON Control Center
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SistemaSistema dede PruebasPruebas SecundariasSecundariasCMCCMC
356356 -- HardwareHardware
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SistemaSistema dede PruebasPruebas CMCCMC 356356
Page: 2jun-10
Salidas deSalidas deTensinTensin
Fuente deFuente deTensin AuxiliarTensin Auxiliar
SalidasSalidasBinariasBinarias
Entradas deEntradas deMedicinMedicin
Salidas deSalidas deCorrienteCorriente
ConectorConectorUmbilicalUmbilical
Entradas BinariasEntradas Binariasy de Mediciny de Medicin
Botn deBotn deEncendidoEncendido
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SistemaSistema dede PruebasPruebas CMCCMC 356356
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Salidas de Tensin:Cuatro (04) salidas de tensin con una sola
conexin comn aneutro N y separadas galvnicamente de las dems
salidas dela unidad CMC.Todas las salidas de tensin estn protegidas
frente a circuitosabiertos, cortocircuitos L-N y sobrecarga.Si se
sobrecalienta el disipador trmico, un conmutadortrmico desactiva
todas las salidas.
Configuracin Corrientes de Salida Potencia Exactitud
CA trifsica (L-N) 3 x 0 ... 300 V 3 x 100 VA a 100 ... 300 V
Tpica:
CA tetrafsica (L-N) 4 x 0 ... 300 V 4 x 75 VA a 100 ... 300 V E
< 0,03 % rd. + 0.01% rg
CA monofsica (L-N) 1 x 0 ... 300 V 1 x 200 VA a 100 ... 300 V
Garantizada:
CA monofsica (L-L) 1 x 0 ... 600 V 1 x 275 VA a 200 ... 600 V E
< 0,08 % rd. + 0.02% rg
CC monofsica (L-N) 4 x 0 ... 300 V 1 x 420 W a 300 VCC
Ventajas:?Cuarto canal ideal para probar rels de
sincronismo.?Generacin de tensin homopolar en forma automtica.
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Page: 4jun-10
Generadores de Corriente:Dos (02) salidas de corriente trifsicas
separadas galvnicamente, cada una consu propia conexin a neutro
(N). Cada salida est separada galvnicamente delas dems conexiones
de la unidad CMC 356 y protegidas frente a circuitosabiertos,
cortocircuitos y sobrecarga.
Configuracin Corrientes de Salida Potencia Exactitud
CA hexafsica (L-N) 6 x 0 ... 32 A (A y B) 6 x 430 VA a 25 A
CA trifsica (L-N) 3 x 0 ... 64 A (A + B en CP:) 3 x 860 VA a 50
A Tpica:
CA bifsica (L-L) 2 x 0 ... 32 A (A y B) 2 x 870 VA a 25 A E <
0,05 % rd.
CA bifsica (L-L) 1 x 0 ... 64 A (A + B en CP.) 1 x 1740 VA a 50
A + 0.02% rg
CA monofsica (L-L-L-L) 1 x 0 ... 32 A (A + B en CS.) 1 x 1740 VA
a 25 A Garantizada:
CA bifsica (LL-LN) 2 x 0 ... 64 A (A y B) 2 x 500 VA a 40 A E
< 0,15 % rd
CA bifsica (LL-LN) 1 x 0 ... 128 A (A + B en CP.) 1 x 1000 VA a
80 A + 0.05% rg.
CC bifsica (LL-LN) 1 x 0 ... 180 A (A + B en CP.) 1 x 1400 W a
80 A
Ventajas:?Pruebas de reles diferenciales sin la utilizacin de
amplificadores externos.?Pruebas de rels electromagnticos de Alto
Burden (1740 VA).?Pruebas con alta corriente (128 A).
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SistemaSistema dede PruebasPruebas CMCCMC 356356
Page: 5jun-10
Entradas Binarias / Anlogas:Diez (10) entradas binarias
divididas en cinco gruposde dos, cada grupo est separado
galvnicamente delos dems.
Las seales de entrada se supervisan con una resolucin de 100 ?s
y despus se evalanen la CPU.
Las entradas binarias se configuran en el mdulo Configuracin del
hardware del softwareOMICRON Test Universe. Al hacerlo, puede
especificarse si los contactos tendrn potencialo no. Cuando los
contactos tienen potencial, puede fijarse la tensin nominal
prevista y elumbral de arranque de cada entrada binaria.
Con la opcin de hardware ELT-1, todas las entradas pueden
configurarseindividualmente mediante el software (Enerlyzer) como
entradas de medida binarias oanalgicas con lo que la unidad CMC
puede ser utilizada como:? Multmetro.? Analizador de armnicos.?
Registrador de Tendencias.? Registrador de perturbaciones de hasta
10 canales.
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Salidas Binarias:Cuatro (04) salidas binarias para su utilizacin
como contactos de relsin potencial.La posicin de cada una de las
salidas binarias se configuran con losmdulos de prueba del software
OMICRON Test Universe
Caractersticas:?Capacidad de Ruptura: 300 V / 8
A.Aplicacin:?Simular la posicin de un interruptor,
recloser.?Simular una seal externa de un dispositivo externo al
equipo en
prueba (disparos transferidos, seales de tele proteccin,
etc.)
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Fuente de Tensin Auxiliar:Los equipos en prueba (por ejemplo,
rels de proteccin) querequieren una tensin auxiliar de CC pueden
alimentarse desde lasalida AUX DC.La salida AUX DC est separada
galvnicamente de las dems salidas.Por medio de la Herramienta de
Prueba AUX DC incluida en el software OMICRON TestUniverse, puede
definirse el valor de tensin deseado. El valor ajustado es guardado
enla memoria permanente de la unidad CMC.Unos cuantos segundos
despus de activar el suministro de alimentacin a la unidadCMC, se
aplica la tensin establecida a la salida AUX DC. Si la tensin de la
salida "AUXDC" supera el valor de 42 V, se enciende el indicador
luminoso correspondiente.
Caractersticas:?Rango: 0 260 Vcc?Potencia: 50 W
mximo.?Exactitud: E
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Fuente deFuente deAlimentacinAlimentacin
Fusible T10AHFusible T10AH Zcalo paraZcalo paraconexin de
tierraconexin de tierra
Interfaz deInterfaz decomunicacincomunicacin
Interfaz externoInterfaz externo
LLLL outout 11--66
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Vista Posterior
Interfaz de Comunicacin LPT:Comunicacin mediante el puerto
paralelo (opcional).Garantiza mayor velocidad de transferencia de
datos que una comunicacinserial..Cuando se arranca el programa
OMICRON Test Universe, ste buscaautomticamente el interfaz (LPTx)
del PC al que est conectado eldispositivo CMC
Interfaz de Comunicacin NET-1:La opcin NET-1, sustituye la
interfaz paralela por una interfaz de controlde Ethernet, con lo
que se puede controlar el equipo a travs de una red,as como que se
soporta protocolos de comunicacin como son: IEC61850 y UCA 2.0
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A: Led Amarillo:ON: Se enciende cuando el equipo est listo para
ser usado.OFF: El equipo est esperando la transferencia un software
de emergencia(luego de haber presionado el botn !)
B: Led Verde: Se enciende cuando se ha accesado a la memoria
interna de launidad CMC256
Nota: Por seguridad se tienen los siguientes criterios sobre la
asociacin:? Slo una PC asociada puede controlar una unidad de
prueba.
? La asociacin requiere una accin intencionada e implica
proximidad geogrfica.? Slo puede asociarse una PC con una unidad de
prueba simultneamente.
Leds Indicadores A y B: Sealizan el estado de la
comunicacin.
Si este botn es presionado durante el encendido de la unidad
CMC, se reinicia laconfiguracin IP y se vuelve al valor de fbrica
que es DHCP/AutoIP.
Vista PosteriorInterfaz de Comunicacin NET-1:
Botn Asociacin:Presionando este botn, se asocia una PC a la
unidad de Prueba.
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Vista PosteriorInterfaz de Comunicacin NET-1:
Puerto ETH2: Interfaz de fibra ptica de 100 Mbit. Con un
conector del tipoMT-RJ
Botn !El botn ! permite que la unidad CMC se recupere de
transferencias de informacin(imagen del software) fracasadas o de
otras situaciones de la emergencia.Para reiniciar el equipo y
comenzar con una nueva transferencia la imagen del
software,presionar el botn ! durante el ciclo inicial del sistema
de la prueba.Si se presiona el botn ! mientras que opera la unidad
CMC, el sistema de la prueba noiniciar la prueba, sino esperar una
nueva transferencia
Puerto ETH1: Interfaz Ethernet de par trenzado de 10/100 Mbit.
Con unconector del tipo RJ-45. Por medio de este interfaz se
comunicanormalmente con una PC para controlar la unidad CMC.El
puerto ETH1, tiene la caracterstica auto-crossing, que permite
sepuedan utilizar cables estndar de ethernet o cables del tipo
cross-over
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Vista PosteriorInterfaz Externo:
LL out 1-6:- Seis fuentes de seales analgicas de gran precisin
que pueden
utilizarse, por ejemplo, para controlar amplificadores externos
como: CMA156, CMA 56 y CMS 156.
- Todas las salidas de bajo nivel estn protegidas contra
cortocircuitos y sesupervisan continuamente en prevencin de
sobrecargas.
- Dos entradas de contador de alta frecuencia (hasta 100 kHz)
para probarcontadores.
- Cuatro salidas binarias de transistor 11-14. Ofrecen la
ventaja, conrespecto a las salidas de rel, de presentar tiempos de
reaccin mnimossin rebote.
- Conexin para accesorios CMLIB B, CMGPS, CMB IO-7
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? Voltaje: 4 x 0 300 V? Corriente: 6 x 0 32 A? Error :
Tensin: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg.Tpico < 0.03%
rd. + 0.01% rg.
Corriente: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg.Tpico <
0.03% rd. + 0.01% rg.
? Estabilidad en Temperatura 0.002%/Grado? Protecciones internas
(Sobrecarga, corto, I abierta, alto
burden)? Calibracion Digital (no requiere caja de calibracin)?
Bajo nivel de ruido.? Liviano, 16.6 Kgs
DATOS GENERALES
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SoftwareSoftware
OMICRON TEST UNIVERSEOMICRON TEST UNIVERSE
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SOFTWARE OMICRON TEST UNIVERSE
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Estructura de Directorio:Cuando se instala el software OMICRON
Test Universe en sucomputadora, por defecto se instala en la
carpeta: Archivos dePrograma\Omicron
La Licencia es grabada en la carpeta:Archivos de
Programa\Archivos comunes\Omicron.
ENSYS S.A.C. Page: 4Jun-10
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas
principales:
?Archivos de Programa\Omicron\APPS:Contiene los archivos
ejecutables, la ayuda en lnea asociada alOCC, Mdulos de prueba,
Herramientas de prueba, y Utilitarios.Estos programas tpicamente
son iniciados desde la Pgina deInicio o desde un documento de
prueba
Estructura de Directorio:
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?Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:Contiene herramientas y
archivos de ayuda para la interfaz de progra-macin del Hardware
CMC-256.
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas
principales:
?Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Estructura de Directorio:
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Contiene la documentacin tcnica como manuales,
especificaciones,etc. en formato PDF.
?Archivos de Programa\Omicron\Doc:?Archivos de
Programa\Omicron\CMEngine:
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas
principales:
?Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Estructura de Directorio:
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Contiene las plantillas de prueba, ejemplos de Archivos de
Prueba,archivos con las caractersticas de los Equipos en Prueba
RIO,archivos con la configuracin de hardware OHC y los archivos
usadospor el TEST WIZARD para la generacin de Planes de Prueba del
OCC.
?Archivos de Programa\Omicron\Librera de Pruebas:
?Archivos de Programa\Omicron\Doc:
?Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:
El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas
principales:
?Archivos de Programa\Omicron\APPS:
Estructura de Directorio:
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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS
1- Objeto a Probar
2- Configuracin de HW
3- Ejecucin del Mdulo de Prueba
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En este primer pasodebemos ingresar:
Los datos generales delrel como son: tipo deproteccin,
marca,nmero de serie,valores nominales detensin y corriente,valores
mximospermitidos.
1: Objeto a ProbarObjeto a Probar
Ajustes de laproteccin a probar.
ENSYS S.A.C. Page: 10Jun-10
2: Configuracin del HardwareEn este paso definimosel conexionado
entre elrele y el equipo depruebas
Configuramoscableado, potenciadisponible, tensin decumplimiento,
etc. dela CMC
Entradas Binariasactivadas, etc.
Salidas Activadas.
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3: Ejecucin del Mdulo de Prueba
Adicionar lospuntos deprueba
Con slo unClickiniciamos laprueba
El Reporte es generado automaticamente
Los Fasorespueden sermostradospara cadapunto deprueba
ENSYS S.A.C. Page: 12Jun-10
3: Ejecucin del Mdulo de Prueba
Datos del equipo enprueba
Resultados tabulados
Resultados GrficosResumen
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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS
+ + =Reporte de pruebas,Plan de PruebasNueva plantilla
depruebas
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Quick CMCQuick CMC
SoftwareSoftware
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Quick CMC
Page: 2Jun-10
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Quick CMC
Page: 3Jun-10
Pruebas manuales, fciles y rpidas.Pruebas manuales, fciles y
rpidas.
- Control simultneo detodas las fuentes (V, I)
- Funcin de estadoestable, por pasos o derampa para todas
lasmagnitudes
- Clculo de falla, condiferentes modos defuncionamiento.
- Diagrama vectorial yplano de impedancias.
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Quick CMC
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Barra De Herramientas DelBarra De Herramientas Del
QuickCMCQuickCMC
Val. relativos
Val. en el primario
Val. en el secundario
Tiempo en segundosTiempo en ciclos
Temas de Ayuda
Ayuda
Adicionar resultados al informe (F10)
Borrar resultados de la prueba
Encendido / Apagado de las Fuentes
Congelar valores actuales de las fuentes
Configurar Objeto en prueba
Configurar Hardware
Activar Vista del Diagrama VectorialActivar Vista de
Impedancia
Activar Vista del informeActivar Vista de la Prueba
AbrirGuardar
Nuevo
Valores de Pre-Falta
Modificar resultados de la prueba
Val. absolutos
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Quick CMC
Page: 5Jun-10
Historia de estado8 8
7
Barra de Sobrecarga7
6
Diagrama vectorial6
5
Ventana de rampa5
4Entradas Analgicas4
3Salidas Binarias3
2
Entradas Binarias2
1
Salidas Analgicas1
VENTANA DE PRUEBAVENTANA DE PRUEBA
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Quick CMC
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SALIDAS ANALOGICAS CONFIGURACION
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Quick CMC
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Vista del Diagrama Vectorial:Vista del Diagrama Vectorial:
Vista de ImpedanciaVista de Impedancia
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Quick CMC
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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
1.1. Configuracin del Objeto en PruebaConfiguracin del Objeto en
Prueba
En este primer paso debemos ingresar:
Los datos generales del rel comoson: tipo de proteccin,
marca,nmero de serie, ubicacin.
Valores nominales de frecuencia,tensin y corriente en el
ladoprimario y secundario.
Valores mximos permitidos detensin y corriente.
Configuracin del filtro antirebote yantiruido
Configuracin del nivel desensibilidad de proteccin de la CMC
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Quick CMC
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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del
Hardware de Prueba
Definimosconfiguracindel equipo depruebas y elconexionadoentre
el rel yel equipo depruebas.
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Quick CMC
Page: 10Jun-10
COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del
Hardware de Prueba(continuacin)(continuacin)
En DETALLES
El software
nospermiteseleccionar:cableado,potenciadisponible,tensin
decumplimiento,etc. de acuerdoal equipo enprueba y laprueba
arealizar.
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Quick CMC
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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del
Hardware de Prueba(continuacin)(continuacin)
Especificamos lassalidas quequeremos estnactivas, etiquetas,y
bornes al queestn conectadas.
SALIDASANALGICAS
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Quick CMC
Page: 12Jun-10
COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del
Hardware de Prueba(continuacin)(continuacin)
Especificamos:? Entradas binarias
habilitadas paraoperar? Tipo de entrada
(contacto seco ocon tensin)? Tensin umbral y
tensin nominalsi son contactoscon tensin? Etiqueta? y borne
de
conexin.
ENTRADASBINARIAS
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Quick CMC
Page: 13Jun-10
COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del
Hardware de Prueba(continuacin)(continuacin)
Especificamos:? Salidas binarias
requeridas parala prueba? Etiqueta? y borne de
conexin.
Se utilizan parasimular la posicindel interruptor ode un
contactoauxiliar requeridopor la proteccin aprobar.
SALIDAS BINARIAS
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Quick CMC
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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del
Hardware de Prueba(continuacin)(continuacin)
Especificamos sideseamos que laprueba se iniciecon la recepcinde
un pulsoproveniente de unGPS, IRIG-B, GPS +IRIG-B
Se utiliza pararealizar pruebassincronizadas en eltiempo
IRIG-b y GPS
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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
3.3. Ejecucin de la pruebaEjecucin de la prueba
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Quick CMC
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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS
3.3. Ejecucin de la pruebaEjecucin de la prueba( continuacin)(
continuacin)
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Quick CMC
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Rampas con QuickCMC
tamao
hora
Rampa manual oautomtica
tamao
Pulse-Ramping
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Quick CMC
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Caso 1: Retardo igual a 0 s.
Caso 3: Retardo igual a 0 s
Caso 2: Retardo igual a retardo s.
Caso 4: Retardo igual a retardo s.Durante este tiempo se
siguenregistrando cambios en lasentradas binarias
Desactivar Salidas Activado
Desactivar Salidas Desactivado
Men Prueba:Desactivar Salidas con Trigger
Durante este tiempo se siguenregistrando cambios en lasentradas
binarias
Caso 1
Caso 2
Caso 3 y 4
Luego de recibir la seal detrigger, no se registra ningncambio
en las entradas binarias
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Quick CMC
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Men Prueba:Desactivar segn tiempo
Men Prueba:Parar Rampa en Cero
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Quick CMC
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Men Prueba:Informe Automtico
Men Prueba:Modificar Resultados de la Prueba
El Esta funcin aade automticamente al informe de la prueba todos
los datosy valores actuales en el momento en que se produce la seal
de trigger (incluidoel trigger en los estados Reposicin y
Pre-falta). Los datos se aaden al informede la prueba con ttulos
con numeracin creciente (Prueba 1, Prueba 2) y sinevaluacin.
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Para cualquierinformacin en el Per:
Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per Tel.: 51 1 6523572 / 6523573
Fax: 51 1 6380347 Email: [email protected] Web: www.ensys.pe
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RampingRamping
SoftwareSoftware
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Ramping
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Ramping
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Generacin de rampas de amplitud, fase o frecuencia- Prueba
automatizada utilizando
secuencias de rampa
- Rampas simultneas para dosvariables independientes.
- Duracin mnima del paso dehasta 1 ms
- Control visual de los valores desalida.
- Visualizacin de los resultadosde la prueba.
- Funcin de repeticin de laprueba con clculos estadsticos
- Clculos de relacin de losvalores de rampa.
- Funcin de Paso atrs
- Evaluacin automtica de losresultados.
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Ramping
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Barra De Herramientas
Ir al ltimo estado
Estado actual
Ir al siguiente estado
Ir al primer estadoIr al estado previo
Pausar la pruebaBorrar resultados de la prueba
Iniciar / Continuar pruebaParar prueba
Configurar Objeto en pruebaConfigurar Hardware
Activar Vista de DetalleActivar Vista de Medidas
Activar Vista del informeActivar Vista de la Prueba
Activar Vista de Oscilografa
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Ramping
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Ventanas de Ramping
Barra de Sobrecarga
7
7
Historial de estado
6
6
Entradas Binarias
5
5
Vista de Oscilografa
4
4
Vista de Medidas
3
3
Vista de Detalle
2
2
Vista de la prueba
1
1
ENSYS S.A.C.
Ramping
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Vista de la PruebaVista de la Prueba
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Ramping
Page: 7Jun-10
Vista de DetalleVista de Detalle
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Ramping
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Vista de MedidasVista de Medidas
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Ramping
Page: 9Jun-10
Vista de OscilografiaVista de Oscilografia
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Page: 10Jun-10
Prueba conPrueba con RampingRamping
IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el
Objeto y Hardware
-
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Ramping
Page: 11Jun-10 Page: 11Marzo - 2008
Prueba conPrueba con RampingRamping( continuacin)
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Page: 12Jun-10
Prueba conPrueba con RampingRamping( continuacin)
-
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Page: 13Jun-10 Page: 13Marzo - 2008
Forzar Fases AbsolutasForzar Fases Absolutas
Forzar Fases Absolutas ActivadaLa rampa 2 comienza con el valor
del ngulo de fase programado comoinicio de la rampa 2:
U1 = 0 .U2 = -120 yU3 = 120
Forzar Fases Absolutas DesactivadaLa rampa 2 comienza con un
valor del ngulo de fase de:
U1 = 30 + 0 = 30.U2 comienza con -90 (en vez de -120) yU3 con
150 (en vez de 120)
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Page: 14Jun-10
Forzar Fases AbsolutasForzar Fases Absolutas
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Page: 15Jun-10 Page: 15Marzo - 2008
FuncionFuncion Paso AtrsPaso Atrs
Tras la aparicin del trigger, la opcin Paso atrs inicia
elsiguiente estado de la rampa de la siguiente manera:
Sirve para determinar el valor exacto del disparo con ms rapidez
que si se usa una rampa con untamao del paso muy pequeo para el
rango completo.
? Primero va hacia atrs con ? hasta el nivel en el cual se
reviertela condicin del trigger (p. ej. el evento inicial del
trigger ha sidoarrancar un contacto del rel que ya est repuesto de
nuevo)
? Entonces se inicia el siguiente estado de rampa con un paso
detamao diferente (generalmente ms pequeosignificativamente).
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Page: 16Jun-10
OpcionOpcion RetardoRetardo despuesdespues deldel
triggertriggerSi se ajusta el parmetro Retardo despus del trigger,
se pospone el comienzo de la rampasiguiente por un tiempo t durante
el cual se inyecta una seal esttica igual al valor en el momentodel
trigger.
El retardo de tiempo puede ajustarse dentro de un rango desde 1
ms hasta 10056 s.
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Page: 17Jun-10
RetardoRetardo despuesdespues deldel triggertrigger + Paso+ Paso
AtrasAtrasSi se ajusta el parmetro Paso Atras y adems el parmetro
Retardo despus del trigger, tenemos:
? Al producirse una senal de trigger para el estado actual, la
rampa retrocede un paso.? Se inicia el tiempo de retardo, durante
el cual se inyecta la seal esttica.? Una vez transcurrido el tiempo
de retardo, se inicia el siguiente estado de rampa.
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Para cualquierinformacin en el Per:
Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per Tel.: 51 1 6523572 / 6523573
Fax: 51 1 6380347 Email: [email protected] Web: www.ensys.pe
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State SequencerState Sequencer
SoftwareSoftwareOMICRON TEST UNIVERSEOMICRON TEST UNIVERSE
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Page: 2Jun-10
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Page: 3Jun-10
Elaboracin de pruebas automaticas mediante secuencias de estado
(especial paraprobar tiempos de actuacin).
? Prueba automatizada de cualquiertipo de falla u evento
utilizandosecuencias de estado (pre-falta,falta, post-falta,
etc)
? Permite probar todas lasfunciones de proteccin de unrel
multifuncin, panel deproteccin, Subestacin, etc.
? Secuencias de mas de 500?estados
? Seal de disparo, inici por GPS.
? Control independiente de todaslas seales (magnitud,
fase,frecuencia) por cada estado.
? Evaluacin automtica de losresultados.
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Page: 4Jun-10
Ir al ltimo estado
Estado actualIr al sgte estado
Ir al primer estadoIr al estado previo
Pausar la pruebaBorrar resultados de la prueba
Iniciar / Continuar pruebaParar prueba
Configurar Objeto en pruebaConfigurar Hardware
Activar Vista de Detalle
Activar Vista del Diagrama Vectorial
Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del Informe
Activar Vista de Impedancia
Activar CMGPS
Activar Vista de MedidasActivar Vista de Oscilografa
Encendido/Apagado (Salida Esttica)
Copiar estado actual
Eliminar estado actual
Bucle de Todos los Estados
-
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Ventanas deVentanas de StateState SequencerSequencer
Vista de la prueba
1
1
Historia de estado8
8
Vista de Detalle
2
2
Vista de Medidas
3
3
Vista de Oscilografa
4
4
5
Diagrama vectorial5
Entradas Binarias
6
6
7
Barra de Sobrecarga7
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Page: 6Jun-10
Vista de la PruebaVista de la Prueba
-
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Page: 7Jun-10
Vista de DetalleVista de Detalle
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Page: 8Jun-10
Vista de MedidasVista de Medidas
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Vista deVista de OscilografiaOscilografia
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Vista del Diagrama Vectorial
Vista de Impedancia
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Page: 11Jun-10
Secuencia de PruebaSecuencia de Prueba
IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el
Objeto y Hardware
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Secuencia de PruebaSecuencia de
Prueba((continuacioncontinuacion))
-
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Secuencia de PruebaSecuencia de
Prueba((continuacioncontinuacion))
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Secuencia de PruebaSecuencia de
Prueba((continuacioncontinuacion))
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Para cualquierinformacin en el Per:
Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per Tel.: 51 1 6523572 / 6523573
Fax: 51 1 6380347 Email: [email protected] Web: www.ensys.pe
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OvercurrentOvercurrent
SoftwareSoftware
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Prueba manual o automtica de reles direccionales y no
direccionales con tiempodefinido y tiempo inverso, trmico I2t y
curvas caractersticas definidas por el usuario
? Evaluacin automtica para cadapunto de prueba basada en
latolerancia del tiempo de disparopredefinida.
? Prueba con o sin corriente decarga.
? Generacin automtica deinformes.
? Prueba con modelos de secuenciapositiva, negativa y cero.
? Visualizacin de la caractersticatiempo - corriente del
rele
? Visualizacin grafica de losvalores de salida en
diagramavectorial.
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Page: 4Jun-10
Barra De HerramientasBarra De Herramientas
Pausar la prueba
Borrar resultados de la prueba
Iniciar / Continuar prueba
Parar prueba
Configurar Objeto en prueba
Configurar Hardware
Activar Vista del Diagrama Vectorial
Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del Informe
Salida Esttica
Iniciar Prueba Individual
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Ventanas deVentanas de OvercurrentOvercurrent
Vista de la prueba
1
1
Diagrama Vectorial
2
2
3
Vista del informe3
4
4 Entradas Binarias
Historia de estado
6
6
55 Barra de Sobrecarga
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Page: 6Jun-10
Vista de la PruebaVista de la Prueba
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Page: 7Jun-10
Vista de la PruebaVista de la Prueba
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Page: 8Jun-10
Vista de la CaractersticaVista de la Caracterstica
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Page: 9Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
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Page: 10Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
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??Punto de Estrella TC:Punto de Estrella TC:
Page: 11Jun-10
??Conexin del TP:Conexin del TP:
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
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Overcurrent
Page: 12Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
-
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Page: 13Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
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Page: 14Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
-
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Page: 15Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
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Page: 16Jun-10
Objeto en PruebaObjeto en Prueba
-
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Page: 17Jun-10
ConfiguracionConfiguracion de los puntos de pruebade los puntos
de prueba
??Punto a Punto:Punto a Punto:
??AadirAadir barridobarrido::
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Page: 18Jun-10
ConfiguracionConfiguracion de los puntos de pruebade los puntos
de prueba??GrficamenteGrficamente::
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EjecucionEjecucion de la Pruebade la Prueba --
Individual:Individual:
IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el
Objeto y Hardware
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Overcurrent
Page: 20Jun-10
EjecucionEjecucion de la Pruebade la Prueba SalidaSalida
EstaticaEstatica::
IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el
Objeto y Hardware
-
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Page: 21Jun-10
EjecucionEjecucion de la Pruebade la Prueba --
Barrido:Barrido:
IMPORTANTE:
Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el
Objeto y Hardware
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Page: 22Jun-10
EjecucionEjecucion de la Prueba:de la Prueba:( continuacion)
-
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Page: 23Jun-10 Page: 23
Evaluacin de la Prueba - Tolerancias:
Evaluacin de la Prueba - Simbolos:
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Para cualquierinformacin en el Per:
Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per Tel.: 51 1 6523572 / 6523573
Fax: 51 1 6380347 Email: [email protected] Web: www.ensys.pe
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Advaced DistanceAdvaced Distance
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Page: 2
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Page: 3
Permite definir de forma eficaz los documentos de prueba, para
ejecutarlos automatizarlosy documentar los resultados. Proporciona
las mismas caractersticas del ModuloDistance, al que se le han
agregado funciones avanzadas.
? Evaluacin automtica para cadapunto de prueba basada en
latolerancia de Impedancias y tiempode disparo predefinida.
? Representacin grafica y numricade los resultados
? Generacin automtica de informes.
? Prueba de todos los lazos de faltacon un solo click.
? Visualizacin de: caracterstica deoperacin, diagrama Z/t,
diagramaVectorial, Oscilografia, etc para unmejor anlisis de los
resultados.
? Modos de Disparo, Bsqueda yVerificacin de la caracterstica
? Ajuste de la impedancia comoporcentaje de los alcances de
lazona.
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Page: 4
Barra De Herramientas
Pausar la prueba
Borrar resultados de la prueba
Iniciar / Continuar prueba
Parar prueba
Configurar Objeto en prueba
Configurar Hardware
Activar Vista de Diagrama Z/t
Activar Vista de la Prueba
Activar Vista del Informe
Iniciar Prueba Individual
Activar Vista de diagrama Vectorial
Activar Vista de Oscilografia
Salida Estatica
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Page: 5
Ventanas de Distance
1
Vista de la prueba1
2
Vista de Impedancia2
3 Diagrama vectorial
3
4 Diagrama Z/t
4
5
5 Entradas Binarias
7
Historia de estado7
6
6 Barra de Sobrecarga
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Page: 6
Objeto en Prueba?Dispositivo:
-
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Page: 7
Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:Ajustes del
Sistema:
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Page: 8
Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:??Conexin del
TP:Conexin del TP:
??Punto de Estrella TC:Punto de Estrella TC:
-
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Page: 9
Objeto en Prueba?Distance Ajustes del
Sistema:??Tolerancias:Tolerancias:
Se usa el valor mximo derivado de la tolerancia de tiempo
absoluta o relativa.
Para la tolerancia del tiempo de disparo se usa la mayor
tolerancia de tiempo, ya sea, absoluta positiva(o negativa), o la
relativa. La tolerancia de tiempo relativa real se determina para
cada tiempo de disparoregistrado.
Para la tolerancia de la impedancia se usa la mayor tolerancia
de la impedancia relativa y absoluta. Labanda de la tolerancia
relativa real se determina para cada zona en el ngulo de la lnea.
La toleranciams grande se aplica uniformemente (es decir, paralela
a ambos lados y alrededor de la caractersticanominal) para producir
la banda de tolerancia caracterstica
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Page: 10
Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:??Factor de Puesta
a Tierra:Factor de Puesta a Tierra:
El factor de puesta a tierra (o factor de compensacin de falta a
tierra) compensa la diferencia entre lasimpedancias de falta a
tierra y las impedancias de falta entre fases medidas por el rel.
Es aplicablesolamente para las faltas monofsicas a tierra.
Seleccionar el modo correcto es decisivo e influye en aquellos
puntos que no estn en el ngulo de la lnea
??Separar Resistencia de Arco:Separar Resistencia de
Arco:Requerido para quellos rels que tratan la resistencia de arco
por separado de la parte de impedancia de lalnea.
-
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Page: 11
Objeto en Prueba?Distance Ajustes de Zona:Ajustes de Zona:
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Page: 12
Objeto en Prueba
??ZonasZonas::?Distance Ajustes de Zona:
Zona de disparo Es el tipo ms comn. Tiene un tiempo de disparo
correspondiente asociado.
Zona de inicio est normalmente fuera de todas las zonas de
disparo. Tiene un tiempo de arranque asociado, quedispara el rel en
un tiempo de reserva.
Zona extendida es similar a una zona de disparo; sin embargo,
slo se activar si se selecciona la opcin Zonasextendidas activas en
la pgina Prueba / Ajustes.
Zona de no-disparo se puede usar para indicar las zonas
nicamente con carcter informativo o para definir lassecciones de
una zona de disparo, donde no est permitido hacer disparos (p. ej.,
una zona concargas superpuestas).
Zona define qu zonas se corresponden. Si el mismo punto de
prueba relativo se debe aplicar a un grupode zonas (p. ej. todas
las fases y las caractersticas de falta a tierra de la zona X), es
necesariodefinir qu caractersticas de falta a tierra y qu
caractersticas de falta entre fases pertenecen a lazona X. Los
identificadores de las zonas disponibles son: ZS1 ... ZSn Zonas de
inicio, Z1 ... ZnZonas de disparo, ZE1 ... ZEn Zonas extendidas, y
ZN1 ... ZNn Zonas de no disparo.
Etiqueta Designacin de la zona individual usada para una
identificacin de aplicacin relacionada.
Bucle de falta Especifica los tipos de falta para los cuales son
vlidos los ajustes. Es posible especificar ajustesdiferentes para
cada bucle de falta de una zona.
La lista de zonas contiene todas las zonas especificadas para
todos los bucles de falta.
Para aadir una zona nueva, haga clic en el botn "Nuevo". Para
eliminar una zona seleccionada, haga clic en elbotn "Eliminar Para
editar los parmetros, o modificar la caracterstica de la zona
seleccionada, haga clic en elbotn Edicin....
-
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Page: 13
Objeto en Prueba
??Detalles de la zonasDetalles de la zonas::?Distance Ajustes de
Zona:
Introduzca el Tiempo de disparo para la zona seleccionada. Adems
de la banda de tolerancia ajustada en la pginaAjustes del sistema,
que es vlida para todas las zonas, la tolerancia se puede modificar
aqu para cada zona.
Para las tolerancias de una zona, los ajustes globales se toman
como valores por defecto. Si una zona requiere unajuste de
tolerancia especfico, active la casilla de verificacin
correspondiente y luego introduzca el valor que desee.
??Caracteristica de la zonasCaracteristica de la zonas::Las
caractersticas de una zona pueden consistir en n combinaciones de
elementos de lnea, crculo o arco.
Estn disponibles los siguientes tipos de elementos: Lnea
definida en coordenadas cartesianas: especificada
por medio de un ngulo en grados () y un punto en la lnea.El
punto se define por medio del valor X y el valor R, ambosen
ohmios.
Lnea definida en coordenadas polares:especificada pormedio de un
ngulo en grados () y un punto en la lnea. Elpunto se define por el
valor absoluto |Z| en ohmios y el nguloPhi en grados.
Circulo:define un crculo por el centro del mismo y su radio.
Elcentro se puede definir en coordenadas polares (arco polar)con
|Z| y Phi, o con R y X en coordenadas cartesianas
(arcorectangular). Si se tiene que definir un arco, es
necesarioespecificar un ngulo inicial y uno final.
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Advanced Distance
Page: 14
Objeto en Prueba
??Caracteristicas predefinidasCaracteristicas predefinidas --
Mho:Mho:?Distance Ajustes de Zona:
La caracterstica se especifica como un crculo con radio r =
(Alcance hacia adelante + Offset)/2. El centro del crculoM =
(Alcance hacia adelante - Offset)/2, que se encuentra en la lnea
especificada por el ngulo del rel de lacaracterstica.
Alcance alcance (en ohmios) hacia la lnea
Offset alcance (en ohmios) hacia la barra.
ngulo ngulo del rel de la caracterstica, en grados ().
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Page: 15
Objeto en Prueba
??Caracteristicas predefinidasCaracteristicas predefinidas --
Poligonal:Poligonal:?Distance Ajustes de Zona:
La caracterstica poligonal o de cuadriltero ofrece ms
flexibilidad en la simulacin independiente del alcancereactivo y
resistivo. El polgono bsico se basa en 4 lneas combinadas. Se
pueden introducir las lneas individualesen formato polar o
cartesiano.Se pueden aadir ms elementos de lnea si lacaracterstica
consta de ms elementos de lnea. Loselementos de lnea tienen que
introducirseconsecutivamente, en sentido de las agujas del
reloj,alrededor de una caracterstica, de forma que elsoftware
calcule correctamente los puntos deinterseccin.
Si es necesario definir una caracterstica cerrada,seleccione
Cerrar figura. Esto garantiza que el ltimoelemento de la lista se
configura automticamentecomo si la caracterstica estuviera
cerrada.
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Page: 16
Objeto en Prueba
??Caracteristicas predefinidasCaracteristicas predefinidas Lente
o Tomate:Lente o Tomate:?Distance Ajustes de Zona:
La caracterstica lentes permite en concreto una mejor adaptacin
a un rea ms grande comparada con laimpedancia pura o caracterstica
Offset-MHO.
Alcance alcance (en ohmios) hacia adelante (linea).
Offset alcance (en ohmios) hacia la barra.
ngulo ngulo del rel de la caracterstica, en grados ().
Ancho A ancho de la caracterstica (en ohmios)
A/B relacin de A con la longitud B = alcance + offset
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Page: 17
Vista de Diagrama Vectorial
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Page: 18
Vista de Diagrama Z/t
-
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Page: 19
Vista de Oscilografa
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Page: 20
Vista de la Prueba?Prueba de disparo:
Resultado de la Prueba
Impedancia de PruebaImpedancia porcentual relativaZona de
referenciaTiempo nominal de OperacinTiempo real de
OperacinDesviacin de la pruebaTiempo Mn y Mx. de operacinTipo de
Prueba (Vcte, Icte, Zcte)
Lazo de falta actual
La Prueba de Disparo de AdvacedDistance permite
procesarsecuencialmente los puntos deprueba definidos en el plano
deimpedancia para verificar lacorrecta operacin de Reles
deDistancia
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Page: 21
Vista de la Prueba??Prueba de disparoPrueba de disparo
Configuracin de la Prueba:?Mediante el Teclado:??Punto a Punto al
tipo de falta visualizado:Punto a Punto al tipo de falta
visualizado:
??Punto a Punto a cualquier tipo de falta:Punto a Punto a
cualquier tipo de falta:
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Page: 22
Vista de la Prueba??Prueba de disparoPrueba de disparo
Configuracin de la Prueba:?Grficamente:
-
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Page: 23
Vista de la Prueba?Prueba de Verificacin:
Resultado de la Prueba
Impedancia del Punto de Origen
Longitud relativa de la Linea de Verificacin
Zona de referencia
Lazo de falta actual
En la Prueba de Verificacin deAdvaced Distance, los puntos de
pruebase establecen automticamente en loslmites de tolerancia de
las zonas,posibilitando una rpida verificacin delcumplimiento de
las especificaciones, loque es muy til durante las pruebas
derutina
Angulo de la Lnea de Verificacin
Longitud de la Lnea de Verificacin
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Advanced Distance
Page: 24
Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de VerificacinVerificacin
Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Punto a Punto al tipo de
falta visualizado:Punto a Punto al tipo de falta visualizado:
??Punto a Punto a cualquier tipo de faltaPunto a Punto a
cualquier tipo de falta
-
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Page: 25
Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de VerificacinVerificacin
Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Secuencia de
Prueba:Secuencia de Prueba:
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Advanced Distance
Page: 26
Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de VerificacinVerificacin
Configuracin de la Prueba:?Grficamente en el Plano de
Impedancia
??Para aadir una lnea de prueba a la Lista dePara aadir una lnea
de prueba a la Lista deprueba, pulsar y con el botn
izquierdoprueba, pulsar y con el botn izquierdodel mouse pulsado
arrastrar una lnea dedel mouse pulsado arrastrar una lnea deprueba
con el ngulo y longitud deseado.prueba con el ngulo y longitud
deseado.
??Para ejecutar una prueba de verificacinPara ejecutar una
prueba de verificacinindividual, pulsar y con el botnindividual,
pulsar y con el botnizquierdo del mouse pulsado arrastrar
unaizquierdo del mouse pulsado arrastrar unalnea de prueba con el
ngulo y longitudlnea de prueba con el ngulo y longituddeseado. La
prueba se inicia apenas se dejedeseado. La prueba se inicia apenas
se dejede pulsar el botn izquierdo del mouse.de pulsar el botn
izquierdo del mouse.
-
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Page: 27
Vista de la Prueba?Prueba de Busqueda
Resultado de la Prueba
Impedancia del Punto de Origen
Longitud relativa de la Linea de VerificacinZona de
referencia
Lazo de falta actual
Con la Prueba de Busqueda deAdvaced Distance, se puede
determinarautomticamente el alcance exacto delas zonas
individuales.
Para ello se aplica varios disparos a lolargo de una lnea de
bsqueda. Elnmero de disparos se calculaautomticamente utilizando
laresolucin de bsqueda (ver ajustes).
Angulo de la Lnea de VerificacinLongitud de la Lnea de
Verificacin
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Advanced Distance
Page: 28
Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de BusquedaBusqueda
Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Punto a Punto al tipo de
falta visualizado:Punto a Punto al tipo de falta visualizado:
??Punto a Punto a cualquier tipo de faltaPunto a Punto a
cualquier tipo de falta
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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de BusquedaBusqueda
Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Secuencia de
Prueba:Secuencia de Prueba:
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Page: 30
Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de BusquedaBusqueda
Configuracin de la Prueba:?Grficamente en el Plano de
Impedancia
??ParaPara aadiraadir unauna lnealnea dede BsquedaBsqueda aa
lalaListaLista dede lneaslneas dede bsqueda,bsqueda, hagahaga unun
clicclicizquierdoizquierdo ++ arrastrearrastre elel ratnratn
parapara definirdefinirunauna lnealnea dede bsquedabsqueda
partiendopartiendo deldelpuntopunto dede origenorigen hastahasta
lala longitudlongituddeseadadeseada.. UtiliceUtilice AadirAadir
parapara aadiraadir lalaposicinposicin enen lala listalista dede
lneaslneas dede bsquedabsqueda..
??ParaPara aadiraadir directamentedirectamente unauna lnealnea
dedebsquedabsqueda aa lala lista,lista, presionepresione CtrlCtrl
++ clicclicizquierdoizquierdo ++ arrastrearrastre elel ratnratn
desdedesde elelorigenorigen hastahasta lala longitudlongitud
deseadadeseada parapara lalabsquedabsqueda
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Vista de la Prueba?Ajustes:
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Vista de la Prueba?Ajustes:
La bsqueda para la impedancia de bsqueda actual se para, si la
diferencia en laimpedancia entre dos disparos consecutivos, ambos
identificados en zonasdiferentes, es menor que la resolucin de
bsqueda ajustada
El ajuste de la corriente de carga tiene como finalidad
verificar el comportamiento excepcional de determinadosreles (Ejem.
SEL 421) que reaccionan de forma diferente si hay corrientes
durante la pre-falta.Cuando se activa la corriente de carga, esta
se aplica durante toda la secuencia de prueba (pre-falta y
falta),durante la falta la corriente de carga se superpone a las
magnitudes de falta.
Al ejecutar una prueba de bsqueda de caractersticas nominales
conocidas, los disparos iniciales que sebuscan para los alcances de
zona estn situados en los lmites de tolerancia de los alcances de
zona.
Si no se conocen caractersticas nominales del rel, entonces los
disparos iniciales estn situados a distanciasfijas de intervalos de
bsqueda sobre la lnea de bsqueda. Si se espera un alcance de zona
entre dos disparos,entonces se prueba desde la resolucin de bsqueda
especificada.
Incluso si hay zonas definidas para un rel, se puede usar la
opcin para ignorar las caractersticas, a fin dealcanzar el mismo
comportamiento que con caractersticas desconocidas.
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Vista de la Prueba?Trigger:
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Advaced DifferentialAdvaced Differential
SoftwareSoftware
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El software Advanced Differential es una familia de mdulos de
prueba para verificar losrels diferenciales de proteccin. Se han
creado mdulos de prueba especficos paraprobar caractersticas
especficas de un rel diferencial.
?? Diff ConfigurationDiff Configuration sirve principalmente
para poner en servicio sistemas diferenciales deproteccin, o para
encontrar una falta de la configuracin o del cableado. Con este
mdulose pueden detectar y corregir todas las faltas que estn
ubicadas en el bastidor deproteccin (incluidos los transformadores
interpuestos).
?? Diff Operating CharacteristicDiff Operating Characteristic se
usa para verificar la funcin adecuada de la caractersticade
operacin de la proteccin diferencial. Este mdulo prueba la
capacidad del rel paradiferenciar entre faltas dentro de la zona
protegida y faltas fuera de esas zonas usandolas tolerancias del
dispositivo de proteccin.
?? Diff Trip Time CharacteristicDiff Trip Time Characteristic
verifica si los tiempos de disparo de la proteccin diferencialestn
dentro de las bandas de tolerancia.El mdulo de prueba ofrece la
posibilidad de determinar el tiempo de disparo para un parde
valores Idiff / Ipol determinado.
?? Diff Harmonic RestraintDiff Harmonic Restraint se usa para
verificar el comportamiento correcto del rel defrenado por armnicos
de la proteccin diferencial, por ejemplo, en las funciones del
relde avalancha y sobreflujo/sobrexcitacin.La prueba tiene por
objeto verificar los parmetros de la caracterstica de frenado
porarmnicos ixf = f(Idiff).
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Objeto en Prueba
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Objeto en Prueba
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Objeto en Prueba
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Objeto en Prueba
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Objeto en Prueba?Differential Ficha Disp. De Proteccin:Ficha
Disp. De Proteccin:
El clculo de la corriente de polarizacin se trata de distintas
maneras por los diferentes fabricantes de rels:Mtodo
Fabricante(|Ip|+|Is|)/K1 Serie de rels digitales Siemens 7UT51...,
K1=1
Serie de rels digitales GEC KBCH..., K1=2SEL serie de rels
digitales Schweitzer SEL5..., K1=2
(Ip+Is)/K1 Serie de rels digitales AEG PQ7...: K1=2Varios rels
convencionales: K1=1
(|Ip|+|Is|*K2)/K1 Rel digital GE Multilin SR 745K2 por el
momento fijado en 1, K1=2 y para transformadores de tres devanados
K1=3
mx (|Ip|, |Is|) Serie de rels digitales ELIN DRS...: K1=1
La funcin Duracin mx. prueba. restringe el tiempo mximo de
prueba para proteger el rel.
Tiempo de retardo es el tiempo entre pruebas sucesivas que
necesita el rel para su rearme.
La eliminacin de homopolar es relevante solamente para faltas
monofsicas. Se puede ajustar tambin como:IL - I0: Corriente de lnea
corriente homopolarTransformador interpuesto YDTransformador
interpuesto YDYninguno
Para probar el comportamiento sin eliminar el homopolar, se debe
ajustar ninguno.
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Objeto en Prueba
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Objeto en Prueba
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El mdulo Diff Configurationprueba el cableado y laconfiguracin
del equipo enprueba mediante la simulacinde faltas localizadas
fuera dela zona protegida.
Si, no obstante, en un caso deprueba de este tipo el reldispara,
esto indica un errorde la configuracin o delcableado dentro del
bastidorde proteccin.
Diff Configuration
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Ventana Datos de PruebaEn esta ventana se introducen los valores
Ipru para los cuales se tiene que realizar un paso de prueba.Se
puede aadir puntos de prueba, para ellos introdzcalos en el campo
Ipru y luego haga click en elboton Aadir. Se puede aadir una
secuencia de puntos de prueba pulsando el botn Aadir barrido
Diff Configuration
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Ventana PruebaDiff Configuration
Aqu se configura los valores que el operador va a leer/medir e
introducir en los campos de entradadurante la prueba. Los campos de
entrada cambian dependiendo del tipo de datos seleccionado.Los
datos introducidos son almacenados e incluidos en el informe.
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Page: 14Marzo - 2008
Ventana GeneralDiff Configuration
Aqu se configura que devanados deben probarse, cal es el lado de
falta y cual es el lado de suministro,la corriente de carga y el
tiempo mximo de la prueba.Todas las pruebas son posibles cuando
esta implicado el devanado primario. Por lo tanto, resultan
dosposibilidades de prueba para transformadores de dos devanados y
cuatro para transformadores de tresdevanados.
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Ventana Salida BinariaDiff Configuration
Aqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas
en la opcin de hardware.
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Page: 16Marzo - 2008
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba
2. Ajuste la Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de
tres devanados:Asegrese de que en la ficha General de los parmetros
de la prueba DiffConfiguration la direccin de la prueba y los
devanados incluidos en la mismase hayan ajustado correctamente.
4. Opcionalmente, Ajuste un tiempo de prueba mximo en la ficha
General parael proceso de prueba. Este parmetro acta como proteccin
para el rel.
5. En la ficha Datos de prueba , defina puntos de prueba
(corrientes de falta Ipru)y el tipo de falta que desee.
Ejecucin de la PruebaEjecucin de la PruebaDiff Configuration
6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla
se ejecutan. Las corrientes correspondientesse muestran en el
diagrama.
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8. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba Evale el resultado
en lasfichas Prueba o Datos de prueba como "correcto" o
"incorrecto".
10. Puede ver los vectores de corriente cambiando al diagrama
vectorial
Ejecucin de la PruebaEjecucin de la PruebaDiff Configuration
11. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe
9. Repita estos procedimientos hasta que probar todos los puntos
de prueba.
7. Opcionalmente, Si el informe debe contener las corrientes del
lado primario odel secundario, o las corrientes diferenciales y de
polaridad: Introduzca losvalores de corriente que se leen o miden
en el rel en la ficha Prueba.
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La caracterstica de operacin seprueba simulando faltas dentro
yfuera de la zona protegida.
Existen dos modos de prueba: Modo de prueba de disparo Modo de
prueba de bsqueda
Los puntos de la pruebadeterminan los disparos o
lasbsquedas.
Diff Operating Characteristic
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Diff Operating CharacteristicVentana Prueba de DisparoLos puntos
de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen en la tabla y
el software mide e introduce los
tiempos de actuacin tact
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Diff Operating CharacteristicVentana Prueba de busquedaSe
configura los puntos de prueba en funcin de Ipol para un par de
valores Idiff/Ipol y el softwaremide e introduce los valoresde
Idiff encontrados en la prueba de bsqueda.
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Diff Operating CharacteristicVentana GeneralAqu se configura si
se ha de considerar o no la caracterstica nominal del rele bajo
prueba, lacorriente y el tiempo de pre-falta, la condicin del
trigger, etc.
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Diff Operating CharacteristicVentana Salida binariaAqu se
configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la
opcin de hardware.
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1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba2. Ajuste la
Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de
tres devanados:Asegrese de que en la ficha General de los parmetros
de la prueba DiffOperating Characteristic la direccin de la prueba
y los devanados incluidos enla misma se hayan ajustado
correctamente.
4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la
prueba, ajuste unestado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la
"I de pre-falta)
5. En la ficha Prueba de Disparo , especifique los puntos de
prueba (pares devalores Idiff/Ipol) y el tipo de falta de
inters.
6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla
se ejecutan. Las corrientes correspondientesse resaltan en el
diagrama.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual o una
salida esttica
8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe
Diff Operating CharacteristicEjecucin de la Prueba en el Modo de
Disparo
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Page: 24Marzo - 2008
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba2. Ajuste la
Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de
tres devanados:Asegrese de que en la ficha General de los parmetros
de la prueba DiffOperating Characteristic la direccin de la prueba
y los devanados incluidos enla misma se hayan ajustado
correctamente.
4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la
prueba, ajuste unestado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la
"I de pre-falta)
5. En la ficha Prueba de Busqueda , especifique los puntos de
prueba (Ipol), eltipo de falta de inters y la resolucin de bsqueda
deseada
6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla
se ejecutan. Se prueba la lnea Ipolcorrespondiente con diferentes
valores Idiff en el grfico.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual o una
salida esttica
8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe
Diff Operating CharacteristicEjecucin de la Prueba en el Modo de
Busqueda
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Page: 25Marzo - 2008
La prueba de caracterstica deltiempo de disparo abarca las
faltasde simulacin dentro y fuera de lazona protegida. Por lo
tanto, setoman en cuenta las tolerancias deldispositivo
introducidas.Usando la tabla de la prueba, seprueban puntos
especficos de lacaracterstica de operacin parasus tiempos de
disparo.La prueba se presenta a lo largo dela lnea de prueba en el
planoIdiff/Ipol.Una corriente diferencial Idiffespecifica cada
punto de pruebaindividual. El valor correspondienteIpol resulta de
la posicin de lalnea de prueba. Para cada puntode prueba, el tiempo
de disparo semide y se evala.
Diff Trip Time Characteristic
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Page: 26Marzo - 2008
Diff Trip Time CharacteristicVentana PruebaLos puntos de prueba
(par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de
la Idiff en la tablade prueba y el software mide e introduce los
tiempos de disparo.
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Diff Trip Time CharacteristicVentana GeneralAqu se configura si
se ha de considerar o no la Corriente de pre-falla, la pendiente de
la linea deprueba y la condicin del trigger.
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Page: 28Marzo - 2008
Diff Trip Time CharacteristicVentana FactoresAqu se configura si
se ha de considerar o no factores de tolerancia y lo svalores de
estos. Estosvalores reemplazan a los valores configurados en el
Objeto de Prueba.
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Page: 29Marzo - 2008
Diff Trip Time CharacteristicVentana Salida binariaAqu se
configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la
opcin de hardware.
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Page: 30Marzo - 2008
1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba2. Ajuste la
Configuracin del hardware
3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de
tres devanados:Asegrese de que en la ficha General de los parmetros
de la prueba DiffOperating Characteristic la direccin de la prueba
y los devanados incluidos enla misma se hayan ajustado
correctamente.
4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la
prueba, ajuste unestado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la
"I de pre-falta)
5. Si se desea ajustar tolerancias especiales para esta prueba,
en la fichaFactores , ajuste los factores de Idiff y tdiff y active
Usar factores deevaluacin. (Nota: estos factores reemplazan a las
tolerancias del dispositivoajustadas globalmente).
6. Ajuste la "Pendiente de la lnea de prueba" en la ficha
General . (Pendiente dela lnea de prueba = Idiff/Ipol).
7. En la ficha Prueba, especifique los puntos de prueba (valores
"Idiff") y el Tipode falta que desee.
Diff Trip Time CharacteristicEjecucin de la Prueba
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Page: 31Marzo - 2008
6. Inicie la prueba con Prueba.Acto seguido se ejecutarn los
puntos de prueba de la tabla de prueba,resaltndose en el grfico los
puntos correspondientes
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual o una
salida esttica
8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe
Diff Trip Time CharacteristicEjecucin de la Prueba
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Page: 32Marzo - 2008
Diff Harmonic RestraintEsta prueba esta proyectadapara
determinar la habilidaddel rel diferencial parabloquear el disparo
bajocondiciones de energizacindel transformador u otrasposibles
condiciones delsistema.Las corrientes de prueba seinyectan
nicamente en eldevanado de referencia.Existen dos modos deprueba:
Prueba de disparo Prueba de bsqueda
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Page: 33Marzo - 2008
Diff Harmonic RestraintVentana Prueba de disparoLos puntos de
prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del
ingreso de la Idiff enla tabla de prueba y el software mide e
introduce los tiempos de disparo.
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Page: 34Marzo - 2008
Diff Harmonic RestraintVentana Prueba de busquedaSe configura
los puntos de prueba en funcin de Idiff para un par de valores
Idiff/Ipol y el softwaremide e introduce la relacin actual entre el
armnico seleccionado y la corriente diferencial (Idiff)
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Diff Harmonic RestraintVentana GeneralAqu se configura si se ha
de considerar tiempo de post-falta, asi como la condicin del
trigger.
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Page: 36Marzo - 2008
Diff Harmonic RestraintVentana Salida binariaAqu se configura la
posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de
hardware.
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1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba2. Ajuste la
Configuracin del hardware
3. En la ficha Disparo especifique:? Idiff , El valor Idiff
nominal (la corriente diferencial nominal).? "Ixf/Idiff, El valor
Ixf/Idiff nominal (relacin nominal entre la corriente del
armnico seleccionado y la corriente diferencial).? "ngulo
(Ixf,Idiff), El ngulo de desfase entre lxf e Idff.
4. Seleccione la fase que se va a probar.5. Seleccione el
armnico que desee
Nota: El armnico seleccionado se aplica a todas las lneas de la
tabla depuntos de prueba; es decir, los armnicos slo se pueden
probar de uno enuno).
Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de
Prueba de Disparo
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Page: 38Marzo - 2008
Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de
Prueba de Disparo
6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla
se ejecutan. Las corrientes correspondientesse resaltan en el
diagrama.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual o una
salida esttica
8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe
9. Opcionalmente:
? En la ficha General , puede especificarse una post-falta. Si
se deseaajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor
correspondiente en elcuadro de texto "Tiempo de post-falta" y
seleccione "Aplicar".
? Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de
prueba / la mismalnea de bsqueda usando un desfase diferente para
el armnico.
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1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba2. Ajuste la
Configuracin del hardware
3. En la ficha Disparo especifique:? Idiff , El valor Idiff
(lnea de bsqueda como la relacin de la corriente de
un determinado armnico con la corriente diferencial).? Res.
Busqueda, Resolucin de bsqueda (Un punto de la caracterstica se
considera "encontrado" cuando un valor Ixf/Idiff que provoca el
disparo delrel y otro valor en el cual no dispara estn ms cerca uno
de otro de lo quese ha definido en la resolucin de bsqueda)
? "ngulo (Ixf,Idiff), El ngulo de desfase entre lxf e Idff.4.
Seleccione la fase que se va a probar.5. Seleccione el armnico que
desee
Nota: El armnico seleccionado se aplica a todas las lneas de la
tabla depuntos de prueba; es decir, los armnicos slo se pueden
probar de uno enuno).
Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de
Prueba de Busqueda
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6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla
se ejecutan. Las corrientes correspondientesse resaltan en el
diagrama.
7. Es posible realizar la prueba de un punto individual o una
salida esttica
8. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe
9. Opcionalmente:
? En la ficha General , puede especificarse una post-falta. Si
se deseaajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor
correspondiente en elcuadro de texto "Tiempo de post-falta" y
seleccione "Aplicar".
? Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de
prueba / la mismalnea de bsqueda usando un desfase diferente para
el armnico.
Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de
Prueba de Busqueda
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Advaced TransplayAdvaced Transplay
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Advanced Transplay
Page: 2
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Advanced Transplay
Page: 3
Se usa para importar, editar e inyectar datos transitorios a un
equipo en prueba. Estosdatos transitorios son creados a partir de
eventos reales o simuladas anticipadamente.
? Con cada canal analgico, se puedeintroducir la potencia
detransformacin del convertidor paraposibilitar un cambio de escala
yconvertir los datos primarios ensecundarios.
? Se pueden insertar repeticiones deuna o toda la seal
? Se pueden asignar marcadores deestado al registro de datos,
porejemplo, para identificar pre-faltasy faltas
? Pueden aadirse y aplicarseseales binarias definidas por
elusuario al equipo en prueba outilizarse para la evaluacin de
laprueba.
? Archivos soportados: Comtrade,PL4, TRF
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Advanced Transplay
Page: 4
El mdulo Advanced Transplay, proporciona cuatro vistas
diferentes, que son:
?? Vista de Detalle:Vista de Detalle: En esta vista se realizan
todos los ajustes necesarios para la ejecucin dela prueba. Se
asigna las seales analgicas transitorias a los canales analgicos
dela CMC,se interconectan las seales binarias y se definen las
condiciones de trigger.
?? Oscilografa:Oscilografa: Esta vista se activa una vez que se
haya cargado (importado) un registro dedatos. La vista presenta las
corrientes y tensiones transitorias, las seales binarias, etc.Es en
esta vista que se puede editar los registros de datos y adaptarlos
segn la pruebaplaneada. Por ejemplo: Repetir secciones de la
oscilografa, insertar marcadores deestado, insertar nuevas seales
binarias, etc.
?? Medidas:Medidas: En esta vista se definen los valores
nominales para las medidas de tiempo.Durante la prueba, cada
condicin de medida se analiza respecto a su tolerancia y seevalua
como correcta o incorrecta.
?? Informe:Informe: presenta los resultados de la prueba. El
contenido de esta vista puede serdefinido por el usuario o se puede
usar los ajustes estndar.
Vistas disponibles
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Advanced Transplay
Page: 5
Vistas de DetalleSalidas analgicas Salidas Binarias
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Advanced Transplay
Page: 6
Vistas de DetalleTrigger General
-
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Advanced Transplay
Page: 7
Vistas de Oscilografa
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Advanced Transplay
Page: 8
Vistas de Oscilografa
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Advanced Transplay
Page: 9
Vistas de Medidas
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Advanced Transplay
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Ejecucin de la Prueba
Importar un registro de datos:Para importar un registro de datos
se debe:Seleccione Archivo | Importar... para abrir el cuadro de
dilogo estndar que se utiliza para seleccionar un archivo.Busque el
archivo en la carpeta correspondiente, mrquelo y luego haga clic en
Aceptar.Resultado: Se carga el registro de datos y aparece la
oscilografa con las seales transitorias.
Cambiar la salida anlgica para una seal de un registro de
datos:Se puede cambiar el bloque de cableado de las seales
transitorias que conecta con las salidas analgicas del CMCen
Detalle | Salidas analgicas.Haga clic en la casilla para la que se
quiere cambiar el bloque de cableado.En la lista desplegable,
seleccione la seal deseada.
Cambiar la frecuencia de muestreo:La frecuencia de muestreo que
debe utilizarse para la salida de los datos transitorios se puede
cambiar enDetalle | General.La frecuencia de muestreo original es
el ajuste por defecto. Se indica este valor y tambin la frecuencia
demuestreo mxima posible.En el cuadro de texto situado al lado de
"Usada", introduzca la frecuencia de muestreo que le interese. Se
permitentodos los valores inferiores a la frecuencia de muestreo
mxima.
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Ejecucin de la PruebaAjustar la Condicin de
Trigger:Especificando las condiciones del trigger se determina el
momento de iniciar la emisin de los datos transitorios.Este ajuste
se hace en Detalle | Trigger.En el cuadro superior, seleccione una
condicin de trigger activando la casilla de verificacin situada al
lado de lacondicin de trigger.Si se ha seleccionado trigger
binario, con cada entrada binaria, seleccione el estado requerido
en la listadesplegable de los estados disponibles (la ruta de las
entradas binarias se ha tomado de Configuracin delhardware |
Entradas binarias). Un 1 indica una seal binaria "activa", un 0 una
seal binaria "inactiva" y X indicaque la seal de ese canal se
desestima en la comparacin lgica.Seleccione si los ajustes deben
relacionarse por medio de un operador lgico AND u OR haciendo clic
en el botnde radio situado junto a la condicin requerida.
Realizando Repeticiones de Pruebas:Realizar repeticiones de
pruebas significa que la lectura de los datos transitorios para el
equipo en prueba serealiza varias veces seguidas. Con cada
repeticin, se verifican las condiciones de la medida y se evala la
pruebaotra vez.En Detalle | General introduzca el nmero de
repeticiones. 0 x significa que no se efectan repeticiones. Por
tanto,la prueba slo se ejecuta una vez. El nmero de repeticiones
est limitado a 999.Se pueden visualizar los resultados de las
pruebas individuales en los "resultados de la prueba" del
modooscilografa, introduciendo la repeticin deseada en el campo "N
de medidas".
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Ejecucin de la PruebaInsertar Marcadores de Estado:En el
oscilograma, los marcadores de estado se ajustan para sealar
momentos especficos, p. ej. cambios deestado. Estos marcadores se
pueden utilizar entonces para la definicin de las condiciones de la
medida en la vistaMedidas.En el oscilograma, active el modo
"expandido" y mueva el Cursor 1 a la posicin donde debe ajustarse
el marcadorde estado.Seleccione Edicin | Insertar un marcador de
estado para abrir el cuadro de dilogo "Marcadores de estado".En el
campo Nombre, introduzca el nombre del marcador de estado y
verifique el momento especificado. Acontinuacin puede editarlo en
el campo.Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de
dilogo.
Insertar Marcadores de Datos Tipo Repeticin:En el oscilograma,
active el modo "original" y seleccione el rango de tiempo que desea
con los cursores (tenga encuenta que el Cursor 1 marca el principio
y el Cursor 2 el fin del rango).Seleccione Edicin | Insertar la
repeticin... para abrir el cuadro de dilogo.En el campo Nombre
introduzca el nombre de la repeticin y compruebe que las posiciones
de los cursores definencorrectamente el principio y la duracin. De
no ser as, se pueden editar en el campo.Introduzca el nmero de
repeticiones. El valor por defecto es 1x; es decir, el rango se
emite una vez repetido.Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro
de dilogo.
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Ejecucin de la PruebaDefinir Seales Binarias:Se pueden definir
seales binarias, por ejemplo, para aplicarlas al equipo en prueba,
o para utilizarlas como sealde referencia para la definicin de
condiciones de medida en Medidas.En el oscilograma, active el modo
"expandido" y mueva el Cursor 1 y 2 a las posiciones de tiempo
donde la sealbinaria ha de alternar su estado (posteriormente se
pueden definir otros cambios de lmite).Seleccione Edicin | Insertar
la seal binaria... para abrir el cuadro de dilogo "Seales
binarias".
En el campo Nombre introduzca el nombre de la seal binaria y
establezca qu estado debera tener la seal dentrodel rango incluido
entre los cursores.Como el cuadro de dilogo es "no modal" se
mantiene abierto hasta hacer clic en "Cancelar". Por esta razn,
sepueden definir otros cambios en los lmites en la oscilografa
cambiando las posiciones de los cursores yajustando el rango
incluido a "cero" o "uno".
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Ejecucin de la Prueba
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HerramientasHerramientas de pruebade prueba
SoftwareSoftware
OMICRON TEST UNIVERSEOMICRON TEST UNIVERSE
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TransplayTransplay
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Reproduccin de Transitorios.
? Transplay soporta formatosCOMTRADE de IEEE y WAV
? Capacidad de sincronizacin pormedio de una seal de
iniciproveniente de un GPS.
? Permite cargar y reproducirarchivos de transitorios
quecontienen formas de onda detensin y corriente.
? Prueba de reles con fallas realescapturadas por un registrador
defallas digital o prueba contransitorios generados por unprograma
de simulacin (EMTP).
TransplayTransplay
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Barra De Herramientas
Ayuda
Guardar lista de archivos
Ver seal
Reproducir archivos
Temas de ayuda
Abrir lista de archivos
Configuracin del Hardware
Propiedades
TransplayTransplay
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Ventanas :
Vista de la prueba1
1Vista de Seal2
2
3 Vista de propiedades
3
TransplayTransplay
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Prueba :TransplayTransplay
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EnerLyzerEnerLyzer
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Multmetro de parmetros elctricos .
? Permite configurar las entradasbinarias 6, 8 y 10 de la CMC
256para convertirlas en entradasbinarias, o entradas analgicaspara
medir tensiones ocorrientes.
Nota:? Opcionalmente puede adquirirse la
licencia completa del mduloEnerlyzer que permite a la CMCser
utilizada como:
? Registrador de perturbaciones.? Registrador de tendencias.?
Analizador de calidad de energa.? Etc.
EnerLyzerEnerLyzer
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Barra De Herramientas
Parar
Configuracin de Entradas
Aadir al Informe
Borrar InformeIniciar
Configuracin del Hardware
Configuracin del Trigger de Tiempo
Ver Informe
Anlisis de Armnicos
Valores Secundarios
Modo Multmetro
Registrador de Transit.
Valores Primarios
Registrador de Tendencias
EnerLyzerEnerLyzer
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Configuracin de EntradasEnerLyzerEnerLyzer
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HarmonicsHarmonics
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Generacin de armnicos con frecuencia de hasta 1000 Hz con
armnicos pares e impareshasta el 16avo armnico para 60 Hz y 20avo
armnicos para 50 Hz.
? Incluye un temporizador quearranca en el momento deinicio de
la inyeccin armnicay se detiene con un evento detrigger.
? Indicacin de la DistorsinArmnica Total de la sealgenerada para
cada canal.
? Generacin directa de sealesanalgicas o generacin dearchivos
COMTRADE.
? Inyeccin de la sealcompuesta por tres estados:Pre-seal, Seal y
Post-seal.
HarmonicsHarmonics
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Barra De Herramientas
Iniciar prueba
Guardar
Tiempo en segundos
Abrir
Tiempo en ciclos
Configurar Hardware
Encendido / Apagado (salida esttica)
Nuevo
Pausar prueba
Borrar prueba
HarmonicsHarmonics
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Ventanas :
Entradas Binarias2
2
3 Barra de Sobrecarga 3
Vista de la prueba1
11
HarmonicsHarmonics
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Prueba :
HarmonicsHarmonic