Norma Chilena Oficial NCh 44.of2007

Edgardo Ojeda Barcos

Note

Temas a tratar Muestrarios de defectos. Diferencias entre los niveles de inspección. Las muestras no crecen como los lotes.


Note

El tamaño de muestra 2000 es enorme Defectos y defectuosos No hay diferencia en la protección entre el muestreo doble y el simple. Diseñar una planilla de control de entradas de lotes y verificar AQL`s y control del proveedor Al bajar por las flechas el n solicitado podría se mayor que el lote ingresado.


Note

Cuando me conviene ir a muestreo doble o quedarme en el simple

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