Microwave Dielectrometer 誘電率測定装置Microwave Dielectrometer 誘電率測定装置 誘電率測定装置 簡単操作 非破壊 高精度 誰でも簡単に...

Microwave Dielectrometer

誘電率測定装置Microwave Dielectrometer

誘電率測定装置

誘電率測定装置

簡単操作 非破壊 高精度

誰でも簡単にマイクロ波の誘電率測定を

「置くだけで測れる」を実現するエーイーティーの誘電率測定システムスマートフォンに代表されるワイヤレス機器や高速デジタル機器の電気設計に不可欠な材料パラメータである誘電率。高精度に測定するニーズが高まっています。機器を開発設計するエンジニアのみならず、材料開発メーカーを含む多くの方へ、簡単に高精度の測定を実現するシステムを提供します。

専用回路 (オシレータ )によるシステム構成同軸共振器タイプ

測定対象に合わせて選べるラインナップ

同軸共振器タイプ

エバネッセント波を用いた開放型同軸共振器平坦な面を有するサンプルであれば、共振器の上に置くだけで 非破壊の誘電率測定ができます。この画期的な測定方法は、共振器上部の開口部から漏えいするエバネッセント波と呼ばれる近接場を用いる独自の技術によって実現しました。測定前のサンプル加工が不要なので、手軽に誘電率測定を行うことができます。

例えば以下のようなサンプルの測定に適しています。

・　携帯端末の筐体部品・　多ピンコネクタのモールド樹脂・　各種素材開発品の特性確認

非破壊で簡単な測定作業を実現

仕様 （暫定値）測定周波数 0.8～18GHz

平滑な面があれば形状は任意 (但し、平坦面積10mm×10mm以上、厚み0.5mm以上が必要 )

サンプル形状

測定精度 比誘電率 : ±1％tanδ: ±5％

比誘電率 : 1～15tanδ: 0.001～0.1

測定範囲

周波数ポイント 1つの共振器につき 5点

本装置は、東京大学大学院総合文化研究科 前田研究室との産学協同開発として川崎市より認定された事業の成果です。

特許取得　第3691812号

空洞共振器タイプ

フィルム、シート状のサンプルを一定の幅に切断した短冊状のサンプルを測定します。Q 値の高い共振器設計のため、PTFE や高純度セラミックスのような低誘電損失材料の誘電正接：tanδを安定して測定できます。本方式は JIS C2565 に準拠しています。また、低損失セラミックス向けの JIS R1641、JIS R1627 に準拠した測定方式も用意しております。

例えば以下のようなサンプルの測定に適しています。

・　プリント基板・　樹脂フィルム・　ガラス、セラミックス類

高Q値 空洞共振器フィルム、シート状サンプルの測定に最適

仕様 （暫定値）測定周波数 1～18GHz

細長い短冊状、角棒状、薄膜

サンプル形状

測定精度 比誘電率 : ±1％tanδ: ±5%

比誘電率 : 1～30tanδ: 0.0001～0.1

測定範囲

周波数ポイント 1つの共振器につき 1点

簡単操作でスピーディな測定

専用回路による低コスト装置の実現

同軸共振器タイプによる測定が従来の測定法と大きく異なる点は、その使いやすさにあります。平坦な面が１つでもあれば、どのような形状の材料でも測定することができます。測定プローブの上面にサンプルを置くだけでスピーディに高精度な測定値が得られます。

エーイーティーの誘電率測定装置では、ネットワークアナライザ代替の専用回路（オシレータ）によるシステム構成を用意していますので、ネットワークアナライザをお持ちでない方でも低コストで測定環境を導入頂けます。また、お手持ちのネットワークアナライザを使用する構成も用意しています。

簡単操作をアシストする測定ソフトウェア

数値解析をベースにした高精度測定プログラム

測定ソフトウェアは直観的な操作で利用できるように設計されており、電気の専門知識を問わずどなたでも簡単に使うことができます。測定機器の制御からデータ処理、誘電率の算出まで全てプログラムが行うため、最小限のボタン操作と簡単な測定作業で安定した測定結果を得ることができます。

同軸共振器及び空洞共振器の測定データから誘電率を算出する計算式は、3次元電磁界解析シミュレータCST STUDIO SUITE による高精度な数値解析結果をベースに開発されております。近似要素を極力排除した計算を行います。

サンプルの設置例 ネットワークアナライザを使用するシステム構成

操作画面 エバネッセント波の浸潤の様子

測定サンプル

測定サンプル

測定ポイント

プローブ

※ 開放型同軸共振器と高精度測定プログラムは、株式会社エーイーティーが販売する

　３次元電磁界解析シミュレータ「CST STUDIO SUITE 」で設計開発されました。

主な測定方法

測定法 材料形状 測定周波数範囲 特徴

誘電体共振器法

同軸反射法

容量法

ストリップライン共振法

空洞共振器法

同軸共振器法 自在

自在

800MHz～ 18GHz

広帯域の連続した特性を測定可能

連続した特性を測定可能

1GHz ～ 50GHz

1GHz ～ 18GHz

200MHz～ 40GHz

～ 20GHz

10MHz～ 1GHz

材料

固体

固体

固体

低損失な高誘電体

液体など

固体液体粉体

細長い短冊状小型円柱 /小型角柱

薄膜

プレート薄膜

円柱ドーナツ型

プレート

お客様より材料の情報をご提供いただきます。

・　材質・　形状・　表面の粗さ

下記の方法から最適な測定方法を選択します。

測定サービスを行います。

誘電率測定サービスエーイーティーの誘電率測定サービスは、測定サンプルの形態、形状に合わせて様々な方法から最適な方法を選択し、測定を行います。

C-HA127-015©2012 AET, Inc. All rights reserved.製品の仕様および外観は、改良のため予告なく変更することがあります。

研究開発センター〒215-0033　神奈川県川崎市麻生区栗木 2-8-22TEL（044）981-0236　FAX（044）981-0237

本社〒215 - 0033　神奈川県川崎市麻生区栗木 2-7-6TEL（044）980-0505（代表）　FAX（044）980-1515

http://www.aetjapan.com

マイクロ波領域で500μm程度の薄膜まで非破壊で測定可能

マイクロ波からミリ波領域で高精度な測定が可能（破壊測定、JIS C2565 規格準拠）

プリント基板材料等を実際の使用状態にて測定可能

誘電損失がおよそ0.001以下の低損失材料の測定（JIS R1627規格準拠）