1 CIRCUITOS INTEGRADOS PARA LA ENSEÑANZA DE ELECTRÓNICA EN LA UNIVERSIDAD DE LOS ANDES JOSE GUILLERMO DAZA GONZALEZ UNIVERSIDAD DE LOS ANDES DEPÁRTAMENTO DE INGENIERÍA ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA PREGRADO EN INGENIERÍA ELECTRÓNICA 2010
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CIRCUITOS INTEGRADOS PARA LA ENSEÑANZA DE ELECTRÓNICA
EN LA UNIVERSIDAD DE LOS ANDES
JOSE GUILLERMO DAZA GONZALEZ
UNIVERSIDAD DE LOS ANDES
DEPÁRTAMENTO DE INGENIERÍA ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA
PREGRADO EN INGENIERÍA ELECTRÓNICA
2010
2
CIRCUITOS INTEGRADOS PARA LA ENSEÑANZA DE ELECTRÓNICA
EN LA UNIVERSIDAD DE LOS ANDES
JOSE GUILLERMO DAZA GONZALEZ
Proyecto de grado para optar por el título de
Ingeniero Electrónico
Asesores
Ing. ANTONIO GARCÍA
Ing. LORENA GARCÍA
UNIVERSIDAD DE LOS ANDES
DEPÁRTAMENTO DE INGENIERÍA ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA
PREGRADO EN INGENIERÍA ELECTRÓNICA
2010
3
AGRADECIMIENTOS
A mis asesores, los profesores Antonio García y Lorena García, por su gran
colaboración, excelente disposición y comprensión a lo largo del desarrollo de
este proyecto.
A mis padres y mi hermano por motivarme para seguir adelante y terminar
exitosamente mi pregrado en Ingeniería Electrónica.
A mi novia, Vanessa por su apoyo incondicional y sabios consejos durante todo
este trabajo.
A la Fundación Cerrejón por la oportunidad que me brindó para realizar mis
estudios en la Universidad de los Andes.
Al jurado, Mauricio Guerrero, por sus inquietudes, sugerencias y comentarios.
A mis compañeros de estudio, Daniel Blandón, Víctor Melo, Germán Forero,
Carlos Rivera, por todo lo que he aprendido de ellos aunque no lo sepan.
4
CONTENIDO
RESUMEN .................................................................................................................................... 8
INTRODUCCIÓN...................................................................................................................... 9
1. ESTADO DEL ARTE ................................................................................................... 11
1.1. MICRO LINEAR BICMOS CHIP SET FOR UNDERGRADUATE
LABORATORIES IN MICROELECTRONIC DEVICES AND CIRCUITS
11
1.1.1. Motivación ................................................................................................................ 11
1.1.2. Tecnología utilizada ........................................................................................... 12
1.1.3. Producto final ......................................................................................................... 12
1.2. CHIP EDUCACIONAL CNM97 .......................................................................... 13
1.2.1. Motivación ................................................................................................................ 13
1.2.2. Tecnología utilizada ........................................................................................... 13
1.2.3. Producto final ......................................................................................................... 14
2. OBJETIVOS ..................................................................................................................... 15
2.1. OBJETIVO GENERAL ........................................................................................... 15
2.2. OBJETIVOS ESPECIFICOS ............................................................................... 15
3. PROCESO DE SELECCIÓN DE LOS DISPOSITIVOS ............................ 16
4. METODOLOGÍA DE DISEÑO ............................................................................... 17
5. DISEÑO TEÓRICO DE LOS DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
SELECCIONADOS ................................................................................................................ 19
5.1. CIRCUITO INTEGRADO DIGITAL ................................................................ 20
5.1.1. Inversor con carga resistiva .......................................................................... 20
5.1.2. Inversor PseudoNmos ........................................................................................ 22
5
5.1.3. Inversor CMOS ....................................................................................................... 23
5.1.4. Oscilador en anillo ............................................................................................... 25
5.1.5. Compuerta de Transmisión ............................................................................ 26
5.1.6. Buffer tres estados ............................................................................................... 26
5.1.7. Compuerta NOR de dos entradas ............................................................... 27
5.1.8. Compuerta NAND de dos entradas ............................................................ 28
5.2. CIRCUITO INTEGRADO ANALÓGICO ....................................................... 29
5.2.1. Espejo de corriente simple simétrico ....................................................... 29
5.2.2. Espejo de corriente simple asimétrico .................................................... 31
5.2.3. Fuente de corriente Wildar ............................................................................ 31
5.2.4. Fuente de corriente Wilson ............................................................................ 33
5.2.5. Fuente de corriente cascodo .......................................................................... 33
5.2.6. Par diferencial con carga resistiva ............................................................ 34
5.2.7. Par diferencial con carga activa ................................................................. 36
6. DISEÑO LAYOUT DE LOS DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
SELECCIONADOS ................................................................................................................ 38
6.1. CIRCUITO INTEGRADO DIGITAL ................................................................ 38
6.1.1. Inversor con carga resistiva .......................................................................... 38
6.1.2. Inversor PseudoNmos ........................................................................................ 38
6.1.3. Inversor CMOS ....................................................................................................... 39
6.1.4. Oscilador en anillo ............................................................................................... 39
6.1.5. Compuerta de Transmisión ............................................................................ 39
6.1.6. Buffer tres estados ............................................................................................... 40
6
6.1.7. Compuerta NOR de dos entradas ............................................................... 40
6.1.8. Compuerta NAND de dos entradas ............................................................ 41
6.2. CIRCUITO INTEGRADO ANALÓGICO ....................................................... 41
6.2.1. Transistores aislados .......................................................................................... 41
6.2.2. Espejo de corriente simple simétrico ....................................................... 42
6.2.3. Espejo de corriente simple asimétrico .................................................... 42
6.2.4. Fuente de corriente Wildar ............................................................................ 42
6.2.5. Fuente de corriente Wilson ............................................................................ 43
6.2.6. Fuente de corriente Cascodo ......................................................................... 43
6.2.7. Par diferencial con carga resistiva ............................................................ 44
6.2.8. Par diferencial con carga activa ................................................................. 44
7. RESULTADO FINAL CIRCUITOS INTEGRADOS DISEÑADOS ...... 45
7.1. CIRCUITO INTEGRADO DIGITAL ................................................................ 45
7.2. CIRCUITO INTEGRADO ANÁLOGO ............................................................. 46
8. PRÁCTICAS DE LABORATORIO DISEÑADAS ......................................... 47
8.1. ESTRUCTURA GENERAL DE LAS PRÁCTICAS DE
LABORATORIO ..................................................................................................................... 47
8.2. MUESTRA PRÁCTICAS REALIZADAS ........................................................ 48
8.2.1. Caracterización transistores MOS ............................................................. 48
8.2.2. Fuentes de corriente (I) .................................................................................... 52
8.2.3. Fuentes de corriente (II) .................................................................................. 56
9. FABRICACIÓN DE LOS CIRCUITOS INTEGRADOS ............................. 60
10. CONCLUSIONES ....................................................................................................... 61
7
11. TRABAJO FUTURO ................................................................................................. 62
REFERENCIAS ...................................................................................................................... 63
8
RESUMEN
Se realiza el diseño de dos circuitos integrados para la enseñanza de las áreas
de electrónica en la Universidad de los Andes, mediante la inclusión de
dispositivos especialmente diseñados para poder observar un comportamiento
experimental muy cercano al teórico y superar las limitaciones de la
implementación mediante componentes discretos. Se presentan las aplicaciones
de los circuitos integrados diseñados dentro de la enseñanza de la electrónica
en la Universidad de los Andes, una explicación del proceso de selección de los
dispositivos incluidos, una descripción de cada circuito integrado junto con la
metodología de diseño y la estructura de las prácticas de laboratorio realizadas.
Palabras clave — Circuito Integrado, enseñanza en electrónica, laboratorios
académicos.
9
INTRODUCCIÓN
Los circuitos integrados como herramientas didácticas complementarias al
estudio de los dispositivos electrónicos, constituyen un elemento fundamental
para observar experimentalmente un comportamiento bastante aproximado al
esperado según los resultados teóricos. Sin embargo, el adecuado
funcionamiento de dichos dispositivos depende en gran medida de la simetría
de los tamaños de los componentes, observándose diferencias cuando se
construyen dichos circuitos a partir de componentes comerciales discretos. Es
en razón de lo anterior, que al ser un tema importante dentro del aprendizaje
de la electrónica, se ha realizado este proyecto consistente en el diseño de dos
circuitos integrados para la enseñanza del área de electrónica en la
Universidad de los Andes. Cada uno de los circuitos integrados, contiene
dispositivos que permiten observar un comportamiento experimental muy
cercano al teórico y superar las limitaciones de la implementación con
componentes discretos.
En este trabajo, la distribución de los diferentes dispositivos dentro de cada
circuito integrado (CI) se realizó de la siguiente manera: el primero de ellos (CI
1), contiene los dispositivos para la enseñanza de la electrónica análoga,
mientras el CI 2 está orientado hacia la enseñanza de la electrónica digital.
En este proyecto se realiza el diseño de dispositivos electrónicos que permiten
una mayor calidad en la enseñanza y en el estudio de las diferentes áreas de la
electrónica. Se espera que el producto final alcance un nivel de funcionalidad
adecuado para poder ser fabricado e implementado con éxito, y que se
constituya como una herramienta didáctica en el aprendizaje teórico y
experimental de las asignaturas de electrónica análoga y digital.
Adicionalmente se realizan una serie de prácticas de laboratorio que utilizan
estos circuitos, las cuales serán implementadas una vez realizada la etapa de
fabricación y verificación funcional. Éste trabajo se convierte entonces en un
punto de partida para futuras investigaciones en Colombia relacionadas con el
diseño de circuitos integrados y su inclusión dentro de los procesos académicos
de la electrónica en los estudiantes de pregrado de las diversas universidades
del país.
10
En el capítulo 1 se presenta una revisión del estado del arte mediante el
estudio de algunos trabajos relacionados. En el capítulo 2 se presentan los
objetivos del proyecto. En el capítulo 3 se describe el proceso de selección de
los dispositivos a incluir dentro de los circuitos integrados, seguido de la
metodología de diseño presentada en el capítulo 4. En el capítulo 5, se muestra
el diseño teórico de los dispositivos electrónicos seleccionados junto con las
simulaciones que validan dichos cálculos y el diseño del Layout de todos los
dispositivos junto con una simulación incluyendo la extracción de capacitancias
parásitas del circuito se encuentra en el capítulo 6. En el capítulo 7, se
presenta la organización de los diferentes bloques dentro de cada circuito
integrado y la apariencia del encapsulado de cada chip. En el capítulo 8 se
muestra la estructura general de las prácticas de laboratorio junto con ocho
prácticas realizadas. El capítulo 9 se describe el proceso para llevar a cabo la
fabricación de los diseños realizados, que se realizará mediante la Empresa
Norteamericana de fabricación de circuitos integrados MOSIS. Se finaliza con
algunas conclusiones y recomendaciones para trabajo futuro.
11
1. ESTADO DEL ARTE
El diseño de circuitos integrados y su inclusión para la enseñanza de la
electrónica dentro del nivel de pregrado de las diferentes universidades es un
tema interesante teniendo en cuenta los avances y el conocimiento que puede
generarse entre los estudiantes a partir de estas herramientas. Es por eso que
ha sido objeto de varios trabajos realizados con anterioridad. A continuación
describiremos algunos de estos trabajos.
1.1. MICRO LINEAR BICMOS CHIP SET FOR
UNDERGRADUATE LABORATORIES IN
MICROELECTRONIC DEVICES AND CIRCUITS
En la asignatura “Microelectronic devices and circuits” de la Universidad
de California en Berkeley se introducen los principios físicos básicos para
entender el funcionamiento de los dispositivos dentro de circuitos
integrados análogos y digitales usando transistores MOS y bipolares. En
este contexto, surge este proyecto permitiendo mejorar la calidad de los
laboratorios académicos y realizar experimentos que profundicen los
contenidos temáticos relacionados.
1.1.1. Motivación
Pasar de un nivel de diseño puramente teórico que se tenía en ese
momento a un nivel más práctico, orientado hacia experimentos en el
laboratorio para observar comportamientos reales de los dispositivos en
los circuitos integrados.
Para obtener una mayor calidad en el desarrollo de los laboratorios,
empezaron a observar que un camino para lograrlo era el diseño de
circuitos integrados especiales que contengan MOSFETS, transistores
bipolares y elementos pasivos, de tal forma que cubran la mayor parte
del material de estudio en la asignatura “Microelectronic devices and
circuits”.
12
1.1.2. Tecnología utilizada
En este trabajo todo fue fabricado usando la tecnología Micro Linear 1.5
um BiCMOS.
Esta tecnología cuenta con un total de 16 mascaras y un total de 62
pasos durante el proceso de fabricación. Cuenta con un solo tipo de
polisilicio y dos tipos de metales.
Este proceso BiCMOS posee una capa especial p+ para eliminar el efecto
Latch-up propio de los dispositivos MOS y una conexión DDD n+
source/drain para prevenir la formación del efecto “Electron caliente”.
1.1.3. Producto final
Como producto final de este proyecto se implementaron seis chips que
contenían fundamentalmente en transistores aislados, pares
diferenciales, fuentes de corrientes, elementos pasivos y otros arreglos de
transistores. A continuación se muestra los bloques básicos contenidos en
cada uno de los Chips.
Lab Chip 1
Este primer circuito sirve de complemento para los conceptos
relacionados con las tecnologías de fabricación de circuitos integrados.
Este chip incluye resistencias, capacitores, transistores NMOS, PMOS y
PNP.
Lab Chip 2
Este circuito incluye diodos, transistores PMOS y NPN e Inversores.
Lab Chip 3
Este circuito incluye una compuerta NOR de dos entradas, una
compuerta NAND de dos entradas, un oosciladores en anillo y
amplificadores BIPOLARES.
Lab Chip 4
Este chip incluye amplificadores MOS, fuentes de corriente (Espejos),
Buffers (MOS, BIPOLARES), amplificadores cascodo BIPOLARES.
Lab Chip 5
13
Este chip contiene fuentes de corriente (Tipo Cascodo), fuentes de Voltaje
(Totem pole), amplificadores cascodo MOS, amplificadores diferenciales
MOS.
Lab Chip 6
Este circuito integrado contiene amplificadores diferenciales
BIPOLARES, amplificadores operacionales BICMOS (E.C. Y C.C.).
1.2. CHIP EDUCACIONAL CNM97
El propósito de esta primera versión del Chip Educacional (EDUCHIP)
es suministrar una herramienta útil para la enseñanza del diseño
analógico microelectrónico, desde la simulación hasta los resultados
experimentales de laboratorio.
1.2.1. Motivación
Proporcionar los dispositivos básicos que permitan a los docentes
desarrollar sus propias ideas.
Los elementos incluidos en este chip permiten estudiar los dispositivos
más elementales, si bien muchos de estos elementos están enfocados a la
introducción del diseño analógico; en parte por ser este el campo en el
que es más difícil encontrar componentes útiles en el mercado.
1.2.2. Tecnología utilizada
Este EDUCHIP incluye una matriz de celdas analógicas integradas
mediante el proceso VLSI CMOS 2.5um doble-poli (CNM25) del Centro
Nacional de Microelectrónica (CNM), desarrollado en el Instituto de
Microelectrónica de Barcelona (IBM).
14
1.2.3. Producto final
Este EDUCHIP incluye una matriz de celdas analógicas muy simples
diseñadas full-custom. Todas estas celdas básicas se componen de dos
MOSFETs emparejados en distintas topologías circuitales, p.e. :
dispositivo de caracterización de cuatro terminales, espejos de corriente,
estructuras en fuente común y pares diferenciales.
Este circuito integrado va acompañado con una documentación básica,
compuesta por:
Listado y distribución de los bloques.
Descripción eléctrica y física.
Mapa de encapsulado.
Ejemplos prácticos de utilización.
Modelos SPICE de los dispositivos, bloques y ejemplos.
15
2. OBJETIVOS
2.1. OBJETIVO GENERAL
Diseñar dos circuitos integrados para la enseñanza del área de
electrónica en la Universidad de los Andes como la electrónica básica, la
electrónica análoga y la electrónica digital.
2.2. OBJETIVOS ESPECIFICOS
Incluir dentro de cada circuito integrado una serie de dispositivos básicos
que permitan el desarrollo de prácticas y experimentos a partir de la
interconexión de dichos dispositivos.
Elaborar una documentación básica para cada circuito integrado
conformada por el listado y ubicación de los bloques incluidos en cada
uno, descripción eléctrica y física, diagrama del encapsulado y modelo
SPICE de cada dispositivo.
Elaborar una serie de prácticas de laboratorio para las asignaturas de
electrónica básica, análoga y digital de la Universidad de los Andes,
donde se utilice el circuito integrado diseñado.
Generar los archivos necesarios para una posterior fabricación del
circuito integrado.
16
3. PROCESO DE SELECCIÓN DE LOS DISPOSITIVOS
Para la selección de los diferentes dispositivos incluidos en los dos circuitos
integrados, se realizó una revisión de las prácticas de laboratorio de la
Universidad de los Andes de las asignaturas de electrónica análoga y digital
(2009), las guías de laboratorio de la Universidad de California en Berkeley de
la asignatura Dispositivos y circuitos microelectrónicos (2003) [1] y los ejemplos
de aplicación encontrados en el manual del Chip educacional CNM97 del
Centro de Microelectrónica de Barcelona (1997) [2]. A continuación se presenta
una breve descripción de los resultados encontrados al realizar la revisión en
cada institución.
1). Universidad de los Andes. En la asignatura de electrónica análoga, se
realizan prácticas relacionadas con la caracterización, polarización y
amplificación con Mosfets. También se estudian temáticas relacionadas con
amplificadores diferenciales con carga activa y carga resistiva, respuesta en
frecuencia y realimentación de circuitos amplificadores. En cuanto a la
asignatura de electrónica digital, se trabajan experimentos acerca de los
diferentes tipos de inversores, analizando sus características estáticas y
dinámicas, diseño de compuertas lógicas, compuertas de transmisión, oscilador
en anillo, memorias SRAM y DRAM y Conversores A/D y D/A.
2). Universidad de California en Berkeley. En el área de “Microelectronic
Devices and Circuits”, se realizan experimentos para el estudio de resistencias
fabricadas en circuitos integrados, caracterización de Mosfets, amplificadores
de una sola etapa con carga resistiva, respuesta en frecuencia de
amplificadores, fuentes de corriente y amplificadores multietapas.
3). Centro Nacional de Microelectrónica de Barcelona. Esta institución,
para el Chip Educacional CNM97, diseñó una serie de cuatro notas de
aplicación en las cuales se abordan experimentos relacionados con obtención
experimental del modelo del Mosfet, análisis de espejos de corriente, mejora en
ganancia del amplificador operacional y multiplicador de corriente.
17
Para cada una se analizaron los dispositivos vistos en clase, los temas tratados
en los experimentos existentes y tras realizar una comparación entre los
diferentes contenidos temáticos de dichas instituciones, se determinaron todos
los elementos a incluir, de tal manera que permitieran estudiar la mayor
cantidad de temas, complementando los dispositivos tratados actualmente en
los laboratorios de la Universidad de los Andes. Finalmente se hizo una
agrupación en dos chips, teniendo en cuenta el tipo de dispositivo y el área de
la electrónica con la que se encuentra relacionada. Así, los circuitos integrados
(CI1 y CI2) estarán conformados por los siguientes bloques:
4. METODOLOGÍA DE DISEÑO
La metodología básica de diseño empleada en este proyecto para encontrar los
tamaños de los transistores se muestra en seguida en la figura 1 y fue extraída
de la referencia [5].
El proceso de diseño de circuitos en tecnología CMOS consiste de una definición
de las especificaciones del dispositivo en términos de las entradas y salidas,
realización de los cálculos teóricos, simulación de los circuitos, layout,
simulaciones incluyendo las capacitancias parásitas y re-evaluación del diseño
verificando el cumplimiento de las especificaciones.
Las especificaciones del circuito son definidas por el diseñador dependiendo de
la aplicación que se esté trabajando.
CI 1 (ELECTRONICA BÁSICA Y ANÁLOGA) CI 2 (ELECTRONICA DIGITAL)
Cuatro Transistores NMOS (Diferentes
tamaños)
Un Espejo de corriente simple simétrico
Un Espejo de corriente simple asimétrico
Una Fuente de corriente tipo Wildar
Una Fuente de corriente tipo Wilson
Una Fuente de corriente tipo Cascodo
Un Amplificador Diferencial con Carga
Resistiva
Un Amplificador Diferencial con Carga Activa
Cuatro Transistores NMOS (Diferentes
tamaños)
Un Inversor con Carga Resistiva
Un Inversor PseudoNmos
Un Inversor CMOS
Un Oscilador en anillo
Una Compuerta de Transmisión
Un Buffer Tres Estados
Compuerta NOR de dos entradas
Compuerta NAND de dos entradas
18
Figura 1. Metodología de diseño de circuitos integrados [5].
¿El circuito
diseñado cumple
con las
especificaciones?
Definir las especificaciones del
dispositivo a diseñar
Cálculos teóricos completos de los
tamaños físicos de cada uno de los
componentes teniendo en cuenta el
modelo SPICE de la tecnología
seleccionada.
Simulación del esquemático del
circuito teniendo en cuenta los
cálculos realizados
No
Si
¿El circuito
diseñado cumple
con las
especificaciones?
Diseño del Layout
Extracción de capacitancias
parásitas y Re-simulación del
circuito incluyendo dichas
capacitancias
No
Si
Organizar los dispositivos dentro de
cada chip y generar los archivos de
fabricación
19
Esta metodología se caracteriza por realizar una comparación permanente entre los
resultados de diseño y las especificaciones, con el fin de validar los resultados y
detectar a tiempo cualquier falla en el proceso.
5. DISEÑO TEÓRICO DE LOS DISPOSITIVOS
ELECTRÓNICOS SELECCIONADOS
Para el diseño de los diferentes dispositivos de los dos circuitos integrados,
relacionados con aplicaciones analógicas y digitales, inicialmente se estudió el
modelo circuital del Mosfet para dichas aplicaciones. En este caso, dicho modelo
aplica para Mosfets de canal largo, asumiendo que se cumplen las ecuaciones
cuadráticas con las que se estudian estos elementos en la Universidad de los
Andes.
El modelo se muestra en la siguiente figura, donde la expresión de la
corriente ID varía de acuerdo a la región de operación en la que se esté
trabajando según la aplicación.
Figura 2. Modelo Mosfet según la región de operación [7].
Conociendo las regiones de operación en las que se encuentran los Mosfets
en cada uno de los dispositivos diseñados, usando el modelo circuital
correspondiente, se calcularon los tamaños de cada elemento, para una
posterior realización del Layout. En este proceso, se emplearon los parámetros
Spice de la tecnología a usar, que en este caso fue AMI05 de On Semiconductor
ofrecida por la empresa norteamericana de fabricación de circuitos integrados
MOSIS [3]. A continuación se muestra un resumen de los parámetros más
utilizados.
20
5.1. CIRCUITO INTEGRADO DIGITAL
En el procedimiento de diseño teórico de los dispositivos del circuito
integrado digital, los parámetros básicos de diseño se especificaron en término
de los tiempos de respuesta de los dispositivos teniendo en cuenta los valores
típicos de estos parámetros al ser estudiados en la clase magistral y los
laboratorios de la asignatura.
Las expresiones empleadas para el cálculo de los tamaños fueron extraídas
de las referencias [4], [5], [6] y [7].
5.1.1. Inversor con carga resistiva
El esquemático de este inversor se muestra en la figura 3.
Figura 3. Circuito esquemático inversor con carga resistiva.
Para evitar una disipación considerable de potencia, se va a limitar la
corriente de diseño de este inversor Idd. Basados en la referencia [6] se
tomó Idd = 0,05 mA.
Para Vin = VH = Vdd = 2.5 V, M1 está en tríodo, por lo tanto la ecuación
para la corriente está dada por:
PARAMETROS SPICE UTILIZADOS AMI05
NMOS PMOS
VT0 (V) 0,7086 -0.9179
U0 (𝒄𝒎𝟐/V.s) 533.6953 202.4541
TOX (cm) 1.4100 x 10 6 1.4100 x 10 6
EOX (F/cm) 4.3385 x 10 13 4.3385 x 10 13
COX (F/𝒄𝒎𝟐) 3.0769 x 10 7 3.0769 x 10 7
M1
R1
Vdd
Vin
0 00
Vo
21
Asumiendo Vo = VL = 0,2V se puede obtener el tamaño del transistor M1:
Ahora realizamos el cálculo del valor de la resistencia R1:
Una vez realizado el diseño teórico se procedió con una primera
simulación para verificar la validez del diseño realizado (Ver figura 4).
Figura 4. Curva de transferencia inversor con carga resistiva diseñado teóricamente.
Al realizar la simulación fue necesario disminuir el valor de la
resistencia R1 hasta 1kΩ para mejorar el tiempo de respuesta del
inversor.
Time
0s 1ns 2ns 3ns 4ns 5ns 6ns 7ns 8ns 9ns 10ns
V(Vin) V(Vout)
0V
1.0V
2.0V
3.0V
22
5.1.2. Inversor PseudoNmos
El esquemático del inversor PseudoNmos se muestra en la figura 5.
Figura 5. Circuito esquemático inversor PseudoNmos.
En este caso, definiendo los tiempos de respuesta del dispositivo se hallaron los
tamaños de los transistores usando las expresiones de la referencia [6].
Tomando
El valor del condensador C representa la carga equivalente conectada a la
salida dl inversor (Fanout = 10).
Vin = VH = Vdd = 5 V, para Mn
Para Mp
Mn
Vdd
Vin1
0 00
Vo
Mp
0
23
Una vez realizado el diseño teórico se procedió con una primera
simulación para verificar la validez del diseño realizado (Ver figura 6).
Figura 6. Curva de transferencia inversor PseudoNmos diseñado teóricamente.
Al realizar la simulación fue necesario disminuir el valor de Mp para
disminuir el nivel lógico “cero” del inversor, así
.
5.1.3. Inversor CMOS
El esquemático del inversor CMOS se muestra en la figura 7.
Figura 7. Circuito Esquemático de un Inversor CMOS.
Para una entrada Vin = Vdd = 5V, VGS = 5V para Mn y VGS = 0V para Mp. De
esta forma, para Mn existe canal, mientras Mp estaría apagado debido a la
ausencia de canal. Así, la carga conectada a la salida Vo del circuito,
representada mediante un capacitor C, se descarga a través de Mn y Vo tiende
a Cero (0). Para una entrada Vin = 0V, VGS = 0V para Mn y VGS = -5V para Mp.
De esta forma, para Mp existe canal, mientras Mn estaría apagado debido a la
ausencia de canal. Así, la carga C conectada a la salida Vo del circuito, se carga
a través de Mp y Vo tiende a alcanzar un valor igual a Vdd = 5V.
Para obtener una curva de transferencia simétrica del inversor, se debe
satisfacer:
Time
0s 0.5ns 1.0ns 1.5ns 2.0ns 2.5ns 3.0ns 3.5ns 4.0ns 4.5ns
V(Vin) V(Vout)
0V
2.0V
4.0V
6.0V
Mn
Vdd
00
Vin
0
Mp
Vo
24
Siguiendo el planteamiento teórico realizado en la referencia [6], podemos
caracterizar el comportamiento del inversor mediante las siguientes ecuaciones:
(2)
(3)
Donde , es el voltaje de alimentación del inversor, en este caso 5V
, es el voltaje de umbral del transistor NMOS
, es el voltaje de umbral del transistor PMOS
, es la movilidad del electrón
, es la capacitancia de la capa de óxido
, es la capacitancia de carga del inversor
, el tiempo de respuesta del inversor
Con estas ecuaciones (1), (2) y (3), se pueden hallar los tamaños de los
transistores, asegurando la simetría de la curva de transferencia, obteniéndose
los siguientes tamaños de los Mosfets.
Una vez calculados estos tamaños, se realizó la simulación en texto del
dispositivo con las características diseñadas en Spice AD para verificar el
cumplimiento de las especificaciones. El resultado de ésta simulación se
muestra en la figura siguiente, donde se observa un comportamiento simétrico
de la curva de transferencia.
25
Figura 8. Curva de transferencia inversor CMOS diseñado teóricamente.
5.1.4. Oscilador en anillo
Para conformar el oscilador en anillo se usaron cinco inversores CMOS
idénticos a los diseñados en el numeral anterior (Vdd = 5 V). De esta
forma el esquemático y el resultado de la simulación se muestran a
continuación.
Figura 9. Circuito esquemático de un oscilador en anillo.
Figura 10. Respuesta en simulación de un oscilador en anillo.
Vin
0V 0.5V 1.0V 1.5V 2.0V 2.5V 3.0V 3.5V 4.0V 4.5V 5.0V
V(Vout)
0V
2.0V
4.0V
6.0V
Mn1
0
Vo
Mp1
Mn2
0
Mp2
Mn3
0
Mp3
Mn4
0
Mp4
Mn5
0
Mp5
0
Vdd
Time
0s 1ns 2ns 3ns 4ns 5ns 6ns 7ns 8ns 9ns 10ns
V(Vin)
0V
2.0V
4.0V
6.0V
26
5.1.5. Compuerta de Transmisión
En este caso, basados en las recomendaciones dadas en la referencia [4],
se organizó el esquemático de la figura 11, con dos transistores de igual
tamaño e igual al tamaño del transistor NMOS usado en el inversor
CMOS.
Figura 11. Circuito esquemático de una compuerta de transmisión.
Figura 12. Resultado simulación de una compuerta de transmisión.
Como puede verse en la figura 12 cuando la señal A se encuentra en
nivel alto (1 lógico), ambos transistores se encienden y la señal de salida
es igual a la entrada. Por otro lado, NA se encuentra en bajo (0 lógico) el
transistor MN se apaga al igual que el transistor Mp.
5.1.6. Buffer tres estados
En este caso, basados en la referencia [4] se armó el esquemático de la
figura 13, a partir de los esquemáticos realizados para el inversor CMOS
y la compuerta de transmisión (Vdd = 5V).
Mn
Vo
Mp
A
NA
Vin Vout
Time
0s 2ns 4ns 6ns 8ns 10ns 12ns 14ns 16ns 18ns 20ns 22ns 24ns 26ns 28ns 30ns
V(Vin) V(Vout) V(NA) V(A)
-5.0V
0V
5.0V
27
Figura 13. Circuito esquemático de un buffer tres estados.
En este circuito cuando la señal A se encuentra en nivel alto (1 lógico),
ambos transistores se encienden y la señal de salida es igual al inversor
CMOS. Por otro lado, NA se encuentra en bajo (0 lógico) el transistor MN
se apaga al igual que el transistor Mp, obteniéndose un estado de alta
impedancia.
5.1.7. Compuerta NOR de dos entradas
El esquemático de la compuerta NOR se muestra en la figura 14 (Vdd =
5V). Este diseño se basó en diseños de ejemplo realizados en la
referencia [6].
Figura 14. Circuito esquemático de una compuerta NOR de dos entradas.
Mn
Vdd
0 0
Vin
0
MpMn
Vo
Mp
A
NA
Vout
Vin1
Vin2Vin1
Vin2
Vout
Mp6
Mp7
Mn6 Mn7
0 0
Vdd
28
Figura 15. Resultado simulación compuerta NOR de dos entradas.
5.1.8. Compuerta NAND de dos entradas
El esquemático de la compuerta NAND se muestra en la figura 16 (Vdd
= 5V). Este diseño se basó en diseños de ejemplo realizados en la
referencia [6].
Figura 16. Circuito esquemático de una compuerta NAND de dos entradas.
A continuación se muestra un resumen con los tamaños de los
transistores en cada uno de los dispositivos.
Time
0s 1ns 2ns 3ns 4ns 5ns 6ns 7ns 8ns 9ns 10ns
V(Vin1) V(Vin2) V(Vout)
-2.0V
0V
2.0V
4.0V
6.0V
Vin1
Vin2
Vin1
Vin2
Vout
Mp1 Mp2
Mn1
Mn2
00
Vdd
29
Tabla 1. Resumen tamaño transistores del circuito integrado digital
5.2. CIRCUITO INTEGRADO ANALÓGICO
El procedimiento de diseño teórico de los dispositivos del circuito integrado
analógico se realizó tomando como especificaciones las corrientes de
polarización que fluirían por los dispositivos de acuerdo con los valores típicos
de corriente manejados en la clase y en las prácticas de laboratorio de
electrónica análoga.
5.2.1. Espejo de corriente simple simétrico
El circuito esquemático de un espejo de corriente simétrico se muestra en
la siguiente figura.
Circuito Integrado Digital
Dispositivo Tamaño
Transistores diferentes tamaños W/LN1 7.5um/1.2um
W/LN2 3.9um/1.2um
W/LN3 7.5um/0.6um
W/LN4 3.9um/0.6um
Inversor carga resistiva W/LN1 5.4um/0.6um
Inversor PseudoNmos W/LP1 6.6um/0.6um
W/LN2 6.6um/0.6um
Inversor CMOS W/LP1 16.8um/0.6um
W/LN2 6.6um/0.6um
Oscilador en anillo (5 inversores) W/LP1 9um/1.2um
W/LP2 9um/1.2um
W/LN3 6.6um/0.6um
W/LN4 6.6um/0.6um
W/LP5 9um/1.2um
W/LN6 6.6um/0.6um
W/LP7 9um/1.2um
W/LP8 9um/1.2um
W/LN9 6.6um/0.6um
W/LN10 6.6um/0.6um
Compuerta de transmisión W/LP1 6.6um/0.6um
W/LN2 6.6um/0.6um
Buffer tres estados W/LP1 6.6um/0.6um
W/LN2 6.6um/0.6um
W/LP3 16.8um/0.6um
W/LN4 6.6um/0.6um
Compuerta NAND W/LP1 6.6um/1.2um
W/LP2 6.6um/1.2um
W/LN3 7.2um/2.4um
W/LN4 7.2um/2.4um
Compuerta NOR W/LP1 6.6um/2.4um
W/LP2 6.6um/2.4um
W/LN3 7.2um/2.4um
W/LN4 7.2um/2.4um
Todos los dispositivos son alimentados entre Vcc = 5V y Gnd = 0V.
30
Figura 17. Circuito esquemático de un espejo de corriente simétrico
Para dimensionar los transistores se partió de la expresión para la
corriente Iref cuando M1 está activo, región de operación de este
dispositivo. Así,
Ajustando se asumió
se obtuvo:
Ahora se halla el valor de R para asegurar el valor de la corriente de
referencia:
Al realizar la simulación para verificar el diseño realizado, se ajustó el
valor de R = 1,8 y los tamaños de M1 y M2 fueron
.
Figura 18. Resultado simulación espejo de corriente simétrico (IR1 = Iref; IR2 = Iout)
R11.8k
V1
5Vdc
0
M1 M2
0
R21k
V2
IoutIref
Time
0.20ns 0.40ns 0.60ns 0.80ns 1.00ns 1.20ns 1.40ns 1.60ns 1.76ns
I(R1) I(R2)
2.00030mA
2.00035mA
2.00040mA
2.00045mA
2.00050mA
31
5.2.2. Espejo de corriente simple asimétrico
En este caso solo se modificó el tamaño del transistor M2 en la figura 17
a la mitad para limitar a ½ la relación entre Iref y Iout.
Así, las dimensiones definitivas luego de realizar ajustes en la
simulación, fueron:
Figura 19. Resultado simulación espejo de corriente asimétrico (IR1 = Iref; IR2 = Iout)
5.2.3. Fuente de corriente Wildar
El circuito esquemático de una fuente de corriente Wildar se muestra en
la siguiente figura.
Figura 20. Circuito esquemático de una fuente de corriente tipo Wildar
Time
0s 0.5ns 1.0ns 1.5ns 2.0ns 2.5ns 3.0ns 3.5ns 4.0ns 4.5ns 5.0ns
I(R1) I(R2)
1.0mA
1.5mA
2.0mA
2.5mA
R5V3
5Vdc
0
M5 M6
0
V2
IoutIref
R7
32
Para dimensionar los transistores se consideró de la expresión para la
corriente Iref cuando M1 está activo, región de operación de este
dispositivo. Así, (Iref = 2mA)
Para Iref = 2mA se fijó
y se obtuvo
Podemos hallar R7 mediante la siguiente expresión, fijando
Al realizar la simulación para verificar el diseño realizado, se ajustó el
valor de R7 = y los tamaños de M1 y M2 fueron
(Ver
figura 21).
Figura 21. Resultado simulación fuente de corriente tipo Wildar (IR1 = Iref; IR2 = Iout)
Time
0s 0.5ns 1.0ns 1.5ns 2.0ns 2.5ns 3.0ns 3.5ns 4.0ns 4.5ns 5.0ns
I(R2) I(R1)
0A
1.0mA
2.0mA
2.5mA
33
5.2.4. Fuente de corriente Wilson
El circuito esquemático de una fuente de corriente Wilson se muestra en
la siguiente figura (Iref = 2mA).
Figura 22. Circuito esquemático de una fuente de corriente tipo Wilson
Para dimensionar los transistores se consideraron los resultados
obtenidos en el espejo de corriente simétrico.
Al realizar la simulación para verificar el diseño realizado, se ajustó el
valor de R = y los tamaños de M1, M2 y M3 fueron
.
Figura 23. Resultado simulación fuente de corriente tipo Wilson (IR1 = Iref; IR2 = Iout)
5.2.5. Fuente de corriente cascodo
El circuito esquemático de una fuente de corriente cascodo se muestra en
la siguiente figura.
0
M2 M1
IoutIref
M3
R
Vdd
5Vdc
0
Time
0s 0.5ns 1.0ns 1.5ns 2.0ns 2.5ns 3.0ns 3.5ns 4.0ns 4.5ns 5.0ns
I(R1) I(R2)
0A
1.0mA
2.0mA
2.6mA
34
Figura 24. Circuito esquemático de una fuente de corriente cascodo
El dimensionamiento de los transistores se realizó con base en las
ecuaciones empleadas en la fuente de corriente Wildar, obteniéndose lo
siguiente (Iref = 2mA):
y R = 697,629
Al realizar la simulación para verificar el diseño realizado, se ajustó el
valor de R =
Figura 25. Resultado simulación fuente de corriente cascodo (IR1 = Iref; IR2 = Iout)
5.2.6. Par diferencial con carga resistiva
El circuito esquemático de un par diferencial con carga resistiva se
muestra en la figura 26.
Vdd
5Vdc
0
M1 M2
0
IoutIref
R
M3 M4
V2
Time
0s 0.5ns 1.0ns 1.5ns 2.0ns 2.5ns 3.0ns 3.5ns 4.0ns 4.5ns 5.0ns
I(R1) I(R2)
0A
1.0mA
2.0mA
2.5mA
35
Figura 26. Circuito esquemático de un par diferencial con carga resistiva
En DC la corriente a través de M1 se ajustó en 1mA y se tomo como
referencia un factor λ=0,01 V-1. De esta forma para una relación
, se determinó que Vs1 = -1,8023V por lo que si existe canal
para M1.
Por otro lado el valor de la resistencia R para asegurar un offset de 0V a
la salida es R = .
Con estos parámetros se halló en AC una ganancia en modo diferencial
de 8,6 y en modo común aproximadamente nula.
La fuente de corriente DC Iss tiene un valor de 2mA y será
implementada mediante las fuentes de corrientes diseñadas
anteriormente. A continuación se muestran las simulaciones de este
circuito en donde la ganancia diferencial estuvo cercana a 4.
Figura 27. Resultado simulación par diferencial con carga resistiva
V2V1
Iss
-Vdd
Vd1 Vd2
Vdd
5Vdc M1 M2
0
Rd Rd
Time
0s 0.5us 1.0us 1.5us 2.0us 2.5us 3.0us 3.5us 4.0us 4.5us 5.0us
V(Vd2)- V(Vd1) V(VG1)- V(VG2)
-800mV
-400mV
0V
400mV
800mV
(1.2301u,740.135m)
36
5.2.7. Par diferencial con carga activa
El circuito esquemático de un par diferencial con carga activa se muestra
en la siguiente figura.
Figura 28. Circuito esquemático de un par diferencial con carga activa
Siguiendo un diseño preliminar realizado en la referencia [6] se
ajustaron los tamaños de los diferentes MOSFETs de la siguiente
manera:
La fuente de corriente DC Iss tiene un valor de 2mA y será
implementada mediante las fuentes de corrientes diseñadas
anteriormente. A continuación se muestran las simulaciones de este
circuito en donde la ganancia diferencial estuvo cercana a 7,68 (Ver
figura 29).
V2V1
Iss1
Vd1
-Vdd
Vd2
Vdd1
5Vdc M1 M2
0
M3 M4
37
Figura 29. Resultado simulación par diferencial con carga activa
A continuación se muestra un resumen con los tamaños de los transistores en
cada uno de los dispositivos.
Tabla 2. Resumen tamaño transistores del circuito integrado análogo
Time
0s 0.5us 1.0us 1.5us 2.0us 2.5us 3.0us 3.5us 4.0us 4.5us 5.0us
V(VG1)- V(VG2) V(Vd2)- V(Vd1)
-1.0V
-0.5V
0V
0.5V
1.0V
Circuito Integrado Analógico
Dispositivo Tamaño
Transistores diferentes tamaños W/LN1 7.5um/1.2um
W/LN2 3.9um/1.2um
W/LN3 7.5um/0.6um
W/LN4 3.9um/0.6um
Espejo de corriente simétrico W/LN1 12um/1.2um
W/LN2 12um/1.2um
Espejo de corriente asimétrico W/LN1 4.8um/1.2um
W/LN2 12um/1.2um
Fuente de corriente Wildar W/LN1 12um/1.2um
W/LN2 12um/1.2um
Fuente de corriente Wilson W/LN1 12um/1.2um
W/LN2 12um/1.2um
W/LN3 12um/1.2um
Fuente de corriente Cascodo W/LN1 24um/1.2um
W/LN2 24um/1.2um
W/LN3 24um/1.2um
W/LN4 24um/1.2um
Par diferencial carga resistiva W/LN1 24um/2.4um
W/LN2 24um/2.4um
Par diferencial carga activa W/LN1 24um/2.4um
W/LN2 24um/2.4um
W/LN3 24um/2.4um
W/LN4 24um/2.4um
Se utilizaron solo MOSFETS de canal N.
Todos los dispositivos son alimentados entre Vcc = 5V y Gnd = 0V.
38
6. DISEÑO LAYOUT DE LOS DISPOSITIVOS
ELECTRÓNICOS SELECCIONADOS
Para el diseño del layout de los diferentes dispositivos de los dos circuitos
integrados, relacionados con aplicaciones analógicas y digitales, se empleó la
herramienta L-Edit de Tanner. En este caso los diseños se realizaron con base
en al referencia [4]. A continuación se muestra el Layout realizado para cada
dispositivo con base en los cálculos realizados con anterioridad; estos diseños
se simularon y luego se simularon para poder ser organizados dentro de cada
circuito integrado.
6.1. CIRCUITO INTEGRADO DIGITAL
6.1.1. Inversor con carga resistiva
Figura 30. Layout Inversor con carga activa
6.1.2. Inversor PseudoNmos
Figura 31. Layout Inversor PseudoNmos
39
6.1.3. Inversor CMOS
Figura 32. Layout Inversor CMOS
6.1.4. Oscilador en anillo
Figura 33. Layout Oscilador en anillo
6.1.5. Compuerta de Transmisión
Figura 34. Layout Compuerta de Transmisión
40
6.1.6. Buffer tres estados
Figura 35. Layout Buffer tres estados
6.1.7. Compuerta NOR de dos entradas
Figura 36. Layout Compuerta NOR de dos entradas
41
6.1.8. Compuerta NAND de dos entradas
Figura 37. Layout Compuerta NAND de dos entradas
6.2. CIRCUITO INTEGRADO ANALÓGICO
6.2.1. Transistores aislados
Figura 38. Layout transistores aislados
42
6.2.2. Espejo de corriente simple simétrico
Figura 39. Layout Espejo de corriente simétrico
6.2.3. Espejo de corriente simple asimétrico
Figura 40. Layout Espejo de corriente asimétrico
6.2.4. Fuente de corriente Wildar
Figura 41. Layout Fuente de corriente Wildar
43
6.2.5. Fuente de corriente Wilson
Figura 42. Layout Fuente de corriente Wilson
6.2.6. Fuente de corriente Cascodo
Figura 43. Layout Fuente de corriente Cascodo
44
6.2.7. Par diferencial con carga resistiva
Figura 44. Layout Par diferencial con carga resistiva
6.2.8. Par diferencial con carga activa
Figura 45. Layout Par diferencial con carga activa
45
7. RESULTADO FINAL CIRCUITOS INTEGRADOS
DISEÑADOS
Siguiendo con la metodología de diseño adoptada para este proyecto, se
organizaron los diferentes dispositivos dentro de cada circuito integrado.
Uno orientado hacia el área de la electrónica digital y el otro hacia la
electrónica análoga. En seguida se muestra la organización realizada.
7.1. CIRCUITO INTEGRADO DIGITAL
Figura 46. Organización Layout circuito integrado digital
46
7.2. CIRCUITO INTEGRADO ANÁLOGO
Figura 47. Organización Layout circuito integrado análogo
47
8. PRÁCTICAS DE LABORATORIO DISEÑADAS
8.1. ESTRUCTURA GENERAL DE LAS PRÁCTICAS DE
LABORATORIO Las prácticas de laboratorio, fueron diseñadas de tal forma que el estudiante pueda
realizar una comprobación de los resultados teóricos. Estos resultados teóricos deberán
ser encontrados antes de la sesión práctica, y serán calificados mediante un
preinforme o pre-laboratorio. Para la escogencia de esta estructura se analizó la
topología actual de las prácticas de laboratorio en la Universidad de los Andes para las
asignaturas de electrónica Básica, Análoga y Digital y las prácticas de Laboratorio de
la Universidad de Berkeley para el área de Dispositivos y Circuitos Microelectrónicos,
debido a que en esta asignatura se está implementando un conjunto de circuitos
integrados como los que se han diseñado con este proyecto.
Figura 48. Estructura general de las prácticas de laboratorio diseñadas
PRACTICA 1: TITULO
OBJETIVOS
PRELABORATORIO
PROCEDIMIENTO
DATASHEETS
ESQUEMA DE CONEXIONES
USANDO LOS CIRCUITOS
INTEGRADOS CI1 Y/O CI2
INFORME DE RESULTADOS
MATERIALES
REFERENCIAS
48
De esta manera, se definió la estructura general mostrada en la figura 48, descrita
a continuación: inicialmente, se presenta en título de la práctica de laboratorio seguido
de los objetivos que se deben alcanzar al finalizar la misma, seguido de la lista de
materiales que se requieren para desarrollarla. Luego se presenta el prelaboratorio,
que consiste en un trabajo que debe realizarse de manera previa a la sesión practica
que se lleva a cabo en el laboratorio. Este trabajo, le permitirá al estudiante realizar
comparaciones entre resultados teóricos y resultados experimentales encontrados a lo
largo del desarrollo del experimento. El procedimiento está conformado por los
diferentes pasos que deben seguirse para observar resultados importantes y alcanzar
los objetivos planteados. Este procedimiento requiere la consulta de los datasheets de
los diferentes dispositivos empleados, así como el esquema de conexiones para realizar
los diferentes montajes a partir de los dos circuitos integrados diseñados. También se
presentan algunas tablas para consignar los resultados a lo largo del procedimiento.
Estos resultados deben ser mostrados y analizados teóricamente en un informe
completo de la práctica que se presenta con posterioridad a la finalización de la misma.
Por último, se citan algunas referencias bibliográficas, que servirán como material de
consulta acerca de la temática estudiada con los experimentos.
8.2. MUESTRA PRÁCTICAS REALIZADAS
Usando la estructura descrita anteriormente, se realizaron una serie de prácticas
académicas de muestra utilizando los circuitos integrados diseñados.
8.2.1. Caracterización transistores MOS
Practica 1
Caracterización Transistores NMOS
_________________________________
José G. Daza
Universidad de los Andes
Electrónica Digital
2010
49
1.0 Objetivos
A partir de la utilización de modelos SPICE, simular el
comportamiento de transistores NMOS para el análisis de
sus características.
Familiarizar al estudiante con el manejo de herramientas
de software que le permitan el diseño y simulación de
circuitos microelectrónicos.
Caracterizar dispositivos NMOS, en su comportamiento
estático y dinámico, con ayuda de instrumentos de
laboratorio
2.0 Materiales
Circuito Integrado 2 (Digital)
3.0 Prelaboratorio
Diseñe un mecanismo que le permita visualizar
simultáneamente la curva IDS vs. VDS para diferentes
valores de VGS utilizando las herramientas del laboratorio,
y simule el diseño con ayuda de SPICE para validar su
funcionamiento.
Explicar los principales parámetros requeridos para
caracterizar un transistor NMOS y la forma de obtención
de tales parámetros a partir de las curvas anteriores.
4.0 Procedimiento
4.1 Caracterización transistores NMOS
1. Implemente el circuito propuesto durante el
prelaboratorio para la caracterización de los
transistores.
2. En el osciloscopio deberá visualizar la curva VDS Vs IDS
de un transistor simultáneamente para diferentes
valores de VGS, generando un resultado similar a la
siguiente gráfica:
50
Figura 1. Curva característica Id vs. Vds de un MOSFET
para diferentes valores de Vgs.
3. Realice las gráficas de Iout vs. Vout y Iout vs. Vcc-
Vout. Compare sus resultados con simulaciones
realizadas en PSPICE para obtener éstas gráficas.
4. Realice el procedimiento anterior para caracterizar
tres de los cuatro dispositivos NMOS aislados
contenidos en el circuito integrado digital (CI2).
5. Compare los resultados de cada una de las
caracterizaciones. Qué diferencias encuentra entre los
transistores?
6. Confronte los valores obtenidos para cada parámetro
con la información técnica suministrada en esta guía
para cada dispositivo.
7. Analice los resultados y compare con las simulaciones.
5.0 Esquema de conexiones
A continuación se muestran los pines del CI2
correspondientes a cada uno de los transistores incluidos.
51
Figura 2. Pines de los transistores aislados dentro de circuito
integrado digital.
6.0 Informe de Resultados
1. Responda las preguntas planteadas en el desarrollo de la
práctica.
2. Describa los resultados obtenidos en los pasos del
procedimiento, incluyendo las gráficas.
3. Presente simulaciones.
4. Compare las mediciones con las simulaciones.
7.0 Referencias
1. R. C. Jaeger, Travis N. Blalock. Microelectronic Circuit
Design. Third Edition. 2008.
2. A. S. Sedra, Kenneth C. Smith. Circuitos
Microelectronicos. Quinta Edición. 2006.
3. Donald Neamen. Electronic Circuit Analysis and Design.
Mc.Graw Hill. 2a Edition.
M1
M2
M3
M4
Pin 28
Pin 27
Pin 26
Pin 25
Pin 24
Pin 23
Pin 34
Pin 32
Pin 33
Pin 30
Pin 31
Pin 29
52
8.2.2. Fuentes de corriente (I)
Practica 2
Fuentes de Corriente (I)
_________________________________
José G. Daza
Universidad de los Andes
Electrónica Análoga
2010
1.0 Objetivos
Estudiar el comportamiento de diferentes tipos de fuentes
de corriente.
Analizar los requerimientos básicos de las fuentes de
corriente como son una alta resistencia de salida e
independencia con la alimentación y la temperatura.
Observar las diferencias entre los diferentes tipos de
fuentes de corriente.
Determinar el rango adecuado de operación para los
diferentes tipos de fuentes de corriente.
2.0 Materiales
Circuito Integrado 1 (Analógico)
Una resistencia de 1 Ω
Una resistencia de 6 Ω
Una resistencia de 50 Ω
Una resistencia de 100 Ω
Una resistencia de 1 kΩ
Tres resistencias de 1.8 kΩ
Una resistencia de 10 kΩ
Una resistencia de 100 kΩ
3.0 Prelaboratorio
53
Realizar una revisión bibliográfica acerca del
funcionamiento de los siguientes tipos de fuentes de
corriente:
o Espejo de corriente simple simétrico
o Espejo de corriente simple asimétrico
o Fuente de corriente Wildar
Para las fuentes de corriente mostradas en las figuras 1 y
2, hallar el valor de IREF, IOUT y ROUT. Asuma RREF = 1.8
kΩ.
Para la fuente de corriente mostrada en la figura 3, hallar
el valor de IREF, IOUT y ROUT. Asuma RREF = 1.8 kΩ y RE =
6Ω.
Cuál es la función de RE en el circuito de la figura 3?
4.0 Procedimiento
4.1 Espejo de corriente simple simétrico
8. Implemente el circuito mostrado en la figura 1 con V2
= 5V.
Observe y registre el valor de la corriente IREF: ________
Figura 1. Espejo de corriente simple simétrico
9. Varíe el voltaje de salida V2 entre 0 y 5V y en cada
caso registre el valor de la corriente Iout e Iref y del
voltaje Vout (Pin 16).
10. Realice las gráficas de Iout vs. Vout y Iout vs. Vcc-
Vout. Compare sus resultados con simulaciones
realizadas en PSPICE para obtener éstas gráficas.
11. Encuentre la resistencia de salida del circuito a partir
de las gráficas experimentales y compare con SPICE.
12. Cambie la resistencia R2 por valores de 10 Ω, 1 kΩ, 10
kΩ y 100 kΩ y en cada caso registre el valor de la
corriente Iout e Iref y del voltaje Vout (Pin 16). Analice
sus resultados
R11.8k
V1
5Vdc
0
M1 M2
0
R21k
Pin 8
Pin 15
Pin 21
Pin 16
Pin 21
V2
IoutIref
Rout
54
13. Cuáles son las características más relevantes de este
tipo de fuente de corriente?
4.2 Espejo de corriente simple asimétrico
1. Implemente el circuito mostrado en la figura 2 con V2
= 5V.
Observe y registre el valor de la corriente IREF: ________
Figura 2. Espejo de corriente simple asimétrico
2. Varíe el voltaje de salida V2 entre 0 y 5V y en cada
caso registre el valor de la corriente Iout e Iref y del
voltaje Vout (Pin 19).
3. Realice las gráficas de Iout vs. Vout y Iout vs. Vcc-
Vout. Compare sus resultados con simulaciones
realizadas en PSPICE para obtener éstas gráficas.
4. Encuentre la resistencia de salida del circuito a partir
de las gráficas experimentales y compare con SPICE.
5. Cambie la resistencia R4 por valores de 10 Ω, 1 kΩ, 10
kΩ y 100 kΩ y en cada caso registre el valor de la
corriente Iout e Iref y del voltaje Vout (Pin 19).
Analice sus resultados
6. Cuáles es la diferencia más relevante de este tipo de
fuente de corriente en comparación con la anterior?
Demuestre teóricamente la justificación de tal
diferencia.
4.3 Fuente de corriente tipo Wildar
1. Implemente el circuito mostrado en la figura 3 con V2
= 5V.
Observe y registre el valor de la corriente IREF: ________
R31.8k
V2
5Vdc
0
M3 M4
0
R41k
Pin 8
Pin 20
Pin 21
Pin 19
V2
Pin 21
IoutIref
Rout
55
Figura 3. Fuente de corriente tipo Wildar
2. Varíe el voltaje de salida V2 entre 0 y 5V y en cada
caso registre el valor de la corriente Iout e Iref y del
voltaje Vout (Pin 13).
3. Realice las gráficas de Iout vs. Vout y Iout vs. Vcc-
Vout. Compare sus resultados con simulaciones
realizadas en PSPICE para obtener éstas gráficas.
4. Encuentre la resistencia de salida del circuito a partir
de las gráficas experimentales y compare con SPICE.
5. Varíe la resistencia R6 para valores de 10 Ω, 10 kΩ y
100 kΩ y en cada caso registre el valor de la corriente
Iout e Iref y del voltaje Vout (Pin 13). Analice sus
resultados
6. Cuáles es la diferencia más relevante de este tipo de
fuente de corriente en comparación con las anteriores?
5.0 Esquema de conexiones
En cada figura se indican los pines del circuito integrado
analógico (CI1) y su conexión para la implementación de
los diferentes circuitos.
6.0 Informe de Resultados
5. Responda las preguntas planteadas en el desarrollo de la
práctica.
6. Describa los resultados obtenidos en los pasos del
procedimiento, incluyendo las gráficas.
7. Presente simulaciones.
8. Compare las mediciones con las simulaciones.
R51.8k
V3
5Vdc
0
M5 M6
0
R61k
Pin 13
Pin 8
Pin 14
Pin 21 Pin 21
V2
IoutIref
Rout
R7
6
Pin 12
56
7.0 Referencias
4. R. C. Jaeger, Travis N. Blalock. Microelectronic Circuit
Design. Third Edition. 2008.
5. A. S. Sedra, Kenneth C. Smith. Circuitos
Microelectronicos. Quinta Edición. 2006.
8.2.3. Fuentes de corriente (II)
Practica 3
Fuentes de Corriente (II)
_________________________________
José G. Daza
Universidad de los Andes
Electrónica Análoga
2010
8.0 Objetivos
Estudiar el comportamiento de diferentes tipos de fuentes
de corriente.
Analizar los requerimientos básicos de las fuentes de
corriente como son una alta resistencia de salida e
independencia con la alimentación y la temperatura.
Observar las diferencias entre los diferentes tipos de
fuentes de corriente.
Determinar el rango adecuado de operación para los
diferentes tipos de fuentes de corriente.
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9.0 Materiales
Circuito Integrado 1 (Analógico)
Una resistencia de 1,1 kΩ
Una resistencia de 1,4 kΩ
Un potenciómetro de 10 kΩ
10.0 Prelaboratorio
Realizar una revisión bibliográfica acerca del
funcionamiento de los siguientes tipos de fuentes de
corriente:
o Fuente de corriente Wilson
o Fuente de corriente cascodo
Para la fuente de corriente mostrada en las figura 1, hallar
el valor de IREF, IOUT y ROUT. Asuma R = 1.4 kΩ.
Para la fuente de corriente mostrada en la figura 2, hallar
el valor de IREF, IOUT y ROUT. Asuma R = 1.1 kΩ.
11.0 Procedimiento
11.1 Fuente de corriente Wilson
14. Implemente el circuito mostrado en la figura 1 con V2
= 5V.
Observe y registre el valor de la corriente IREF: ________
Figura 1. Fuente de corriente Wilson
15. Varíe el voltaje de salida V2 entre 0 y 5V y en cada
caso registre el valor de la corriente Iout e Iref.
16. Encuentre experimentalmente la resistencia de salida
del circuito y compare con SPICE.
0
M2 M1
IoutIref
M3
R
Vdd
5Vdc
0
V2V2
Pin 35
Pin 22
Pin 21 Pin 21
Pin 8
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17. Coloque una resistencia en el punto V2 y conecte a
una fuente de 5V. Varíe dicho valor de resistencia
entre 10Ω y 10 kΩ y en cada caso registre el valor de
la corriente Iout e Iref. Analice sus resultados
18. Cuáles son las características más relevantes de este
tipo de fuente de corriente?
11.2 Fuente de corriente cascodo
1. Implemente el circuito mostrado en la figura 2 con V2
= 5V.
Observe y registre el valor de la corriente IREF: ________
Figura 2. Fuente de corriente cascodo
2. Varíe el voltaje de salida V2 entre 0 y 5V y en cada
caso registre el valor de la corriente Iout e Iref.
3. Encuentre experimentalmente la resistencia de salida
del circuito y compare con SPICE.
4. Coloque una resistencia en el punto V2 y conecte a
una fuente de 5V. Varíe dicho valor de resistencia
entre 10Ω y 10 kΩ y en cada caso registre el valor de
la corriente Iout e Iref. Analice sus resultados
5. Cuáles son las características más relevantes de este
tipo de fuente de corriente?
6. Qué diferencias encuentra entre estos dos tipos de
fuentes de corriente? En qué caso conviene usar cada
tipo?
Vdd
5Vdc
0
M1 M2
0
IoutIref
R
M3
Pin 21Pin 21
M4
Pin 8
Pin 17 Pin 18
V2
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12.0 Esquema de conexiones
En cada figura se indican los pines del circuito integrado
analógico (CI1) y su conexión para la implementación de
los diferentes circuitos.
13.0 Informe de Resultados
9. Responda las preguntas planteadas en el desarrollo de la
práctica.
10. Describa los resultados obtenidos en los pasos del
procedimiento, incluyendo las gráficas.
11. Presente simulaciones.
12. Compare las mediciones con las simulaciones.
14.0 Referencias
6. R. C. Jaeger, Travis N. Blalock. Microelectronic Circuit
Design. Third Edition. 2008.
7. A. S. Sedra, Kenneth C. Smith. Circuitos
Microelectronicos. Quinta Edición. 2006.
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9. FABRICACIÓN DE LOS CIRCUITOS INTEGRADOS
La fabricación de los circuitos integrados diseñados será realizada mediante
la Empresa norteamericana de fabricación de circuitos integrados MOSIS.
MOSIS [3] es un proveedor de prototipos de circuitos VLSI y de volúmenes
pequeños de esos circuitos. MOSIS mantiene los precios de sus ofertas a
bajos niveles por su modo de operación, usando el poder de los computadores
en la mayor parte del trabajo, fue uno de los primeros ejemplos de este tipo
de empresas en el comercio. Desde 1981, MOSIS ha fabricado más de 50.000
circuitos integrados para firmas comerciales, agencias del gobierno,
laboratorios de investigación y desarrollo e instituciones académicas sobre
todo el mundo.
Esta empresa tiene un programa especial de fabricación para instituciones
académicas El Programa de Educación Mosis (MEP) se compone de dos
divisiones: (1) un programa de instrucción, y (2) un programa de
investigación.
Programa de Instrucción
El programa prevé información acerca de la fabricación de los circuitos
integrados diseñados por los estudiantes en las clases asociadas con una
universidad acreditada.
Programa de Investigación
El programa apoyo para investigaciones adscritas a las universidades
acreditadas como por ejemplo trabajos de tesis, proyectos de investigación y
estudios individuales dirigidos.
Para el registro de la Universidad de los Andes con MOSIS, ya fue
diligenciado y enviado por e-mail al área de soporte, el formulario con toda
la información requerida. Se espera tener un resultado exitoso en este
proceso y realizar la fabricación de los diseños realizados.
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10. CONCLUSIONES
Por tratarse de un diseño realizado a partir de los contenidos temáticos
estudiados en la Universidad de los Andes en las asignaturas de electrónica
análoga y digital, esto incentiva entre los estudiantes de pregrado el interés por
aplicar los conocimientos adquiridos y proponer nuevos dispositivos en el área
del diseño microelectrónico.
Se actualizaron las prácticas de laboratorio de la Universidad de los Andes
mediante la inclusión de nuevos experimentos y dispositivos, teniendo en
cuenta importantes instituciones como la Universidad de California en
Berkeley y el Centro Nacional de Microelectrónica de Barcelona.
Se desarrollaron una serie de prácticas de laboratorio en las cuales se
utilizan los circuitos integrados diseñados, introduciendo nuevos experimentos
dentro de los laboratorios académicos en la Universidad de los Andes.
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11. TRABAJO FUTURO
El tema de diseño de circuitos integrados y su inclusión dentro de los procesos
de la enseñanza de la microelectrónica en nuestro continente, tiene tareas
pendientes y por lo tanto este trabajo se convierte en un punto de partida para
nuevas propuestas y diseños.
Por otro lado, como continuación de este trabajo se considera la realización de
las siguientes tareas:
Mejorar la distribución y organización de los dispositivos dentro de cada
circuito integrado para optimizar el área utilizada e incluir nuevos
bloques.
Realizar y oficializar el registro de la Universidad de los Andes con
MOSIS para poder fabricar los diseños propuestos.
Generar los archivos correspondientes al PADFRAME de cada circuito
con el fin de poder llevar a cabo la fabricación.
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REFERENCIAS
[1] R. T. Howe. Micro Linear BiCMOS Chip Set for Undergraduated
Laboratories in Microelectronic Devices and Circuits. Dept. of Electrical
Engineering and Computer Sciences. Articulo. January 2005.
[2] E. Farrés, F. Serra-Graells. Chip Educacional CNM97. Centro Nacional de
Microelectrónica. Instituto de Microelectrónica de Barcelona. Artículo en
desarrollo. Manual. 1997.
[3] MOSIS Integrated Circuit Fabrication Service. [Online]. Available:
http://www.mosis.com/
[4] R. J. Baker. CMOS: Circuit Design, Layout and Simulation. IEEE Press
Series on Microelectronic Systems. Second Edition. Vol 1. 2005.
[5] R. J. Baker. CMOS: Circuit Design, Layout and Simulation. IEEE Press
Series on Microelectronic Systems. Second Edition. Vol 2. 2005.
[6] R. C. Jaeger, Travis N. Blalock. Microelectronic Circuit Design. Third
Edition. 2008.
[7] A. S. Sedra, Kenneth C. Smith. Circuitos Microelectronicos. Quinta Edición.
2006.
[8] L. A. Glasser. SPICE. Microsystems Program Office. Massachusetts
Institute of Technology. Cambridge Massachusetts. March 1982.