18 分 類 Ⅱ類 必修・選択 選択 期 間 後期 単 位 数 2 コ ー ス ☑ 起業実践コース ☑ 新事業開発コース 科 目 名 光計測センシング特論 担 当 者 石井勝弘、花山良平 遠隔授業 対応可能 ねらい・ 到達目標 さまざまな光計測センシング技術の原理について理解し、光計測システム、装置の設 計・製作ができるようになる。光のさまざまな性質、現象を理解する。 概 要 さまざまな光計測センシング技術について、その背景となっている光の性質、物理量測 定のための解析モデル、測定原理、測定システム・装置の概要、物理量測定の応用例を について講義する。 内 容 第 1 回 光計測入門 光計測の基礎 石井 第 2 回 幾何光学計測(三角法、光切断) 石井 第 3 回 幾何光学計測(モアレ、TOF) 石井 第 4 回 フーリエ光学と空間周波数フィルター、情報処理 石井 第 5 回 光干渉計測(マイケルソン、フィゾー、ヘテロダイン) 花山 第 6 回 光干渉計測(白色干渉、OCT) 石井 第 7 回 ホログラフィー計測 花山 第 8 回 スペックル計測(スペックル干渉) 石井 第 9 回 分光計測(分光器、波長走査、FTIR、ラマン分光) 石井 第 10 回 偏光計測(エリプソメトリ、ポラリメトリ) 石井 第 11 回 散乱計測(SLD、DLS、DOT) 石井 第 12 回 非線形光学計測(蛍光、SHG、ラマン、) 石井 第 13 回 光ファイバー計測(OTDR、ブリルアン、FBG) 石井 第 14 回 超高速光計測 石井 第 15 回 量子光学とその性質を用いた光計測、情報処理 石井 成績評価 方法・基準 毎回課す小レポートにより評価する。 成績評価基準:成績は以下の基準により評価し、60 点(C評価)以上を合格とします。 ・A:100~80 点:到達目標を十分に達成できている優れた成績:合格 ・B:79~70 点:到達目標を達成できている成績:合格 ・C:69~60 点:到達目標を最低限達成できている成績:合格 ・D:59 点以下:到達目標を達成できていない成績:不合格 教科書・ 参考文献 毎回資料を配布する その他 谷田貝豊彦:応用光学-光計測入門(丸善) 光計測のニーズとシーズ(コロナ社) 履修上の 必要要件 準備学修等 内容・時間 担当教員 メッセージ