DGZfP-Jahrestagung 2014 – Di.1.A.3 1 Lizenz: http://creativecommons.org/licenses/by-nd/3.0/de/ CT & Metrologie Anwendung der VDI/VDE Richtlinie 2630 und Optimierung des Systems Alexander SUPPES *, Eberhard NEUSER * * GE Sensing & Inspection Technologies GmbH, Niels-Bohr-Str. 7, 31515 Wunstorf [email protected]Kurzfassung Die Computer Tomographie hat sich zu einem etablierten industriellen Prüfverfahren entwickelt. Darüber hinaus finden Methoden Anwendung, die den Anwendungsbereich in die Messtechnik erweitern. Im Rahmen dieser Entwicklung wurde eine VDI/VDE Richtlinie erstellt, die beschreibt wie ein CT System für den Einsatz in der Metrologie qualifiziert werden kann. Bei der Anwendung der VDI/VDE Richtlinie auf ein typisches CT System wurden zunächst geometrische Kenngrößen wie z.B. Längenmessabweichung und Antastabweich- ung ermittelt. Eine Untersuchung des Einflusses der wichtigen Systemkomponenten wie Röhre, Detektor oder Manipulator auf die Kenngrößen zeigt Optimierungspotential auf. Insbesondere die Korrektur von Detektor und Manipulationssystem sind interessant. Die Steigerung der messtechnischen Gesamtperformance des Systems wird final aufgezeigt.
9
Embed
CT & Metrologie Anwendung der VDI/VDE Richtlinie 2630 und ...jt2014.dgzfp.de/portals/jt2014/BB/di1a3.pdf · CT & Metrologie Anwendung der VDI/VDE Richtlinie 2630 und Optimierung des
This document is posted to help you gain knowledge. Please leave a comment to let me know what you think about it! Share it to your friends and learn new things together.
Die Computer Tomographie hat sich zu einem etablierten industriellen Prüfverfahren entwickelt. Darüber hinaus finden Methoden Anwendung, die den Anwendungsbereich in die Messtechnik erweitern. Im Rahmen dieser Entwicklung wurde eine VDI/VDE Richtlinie erstellt, die beschreibt wie ein CT System für den Einsatz in der Metrologie qualifiziert werden kann. Bei der Anwendung der VDI/VDE Richtlinie auf ein typisches CT System wurden zunächst geometrische Kenngrößen wie z.B. Längenmessabweichung und Antastabweich-
ung ermittelt. Eine Untersuchung des Einflusses der wichtigen Systemkomponenten wie Röhre, Detektor oder Manipulator auf die Kenngrößen zeigt Optimierungspotential auf. Insbesondere die Korrektur von Detektor und Manipulationssystem sind interessant. Die Steigerung der messtechnischen Gesamtperformance des Systems wird final aufgezeigt.
Imagination at work.Inspection Technologies 1
DGZfP Jahrestagung Potsdam 27. Mai 2014
Dr. Eberhard NeuserDr. Alexander Suppes
CT & MetrologieAnwendung der VDI/VDE Richtlinie 2630 und Optimierung des Systems
• Kugelabstandsabweichung bei einer Voxelgröße von 80µmnicht kompensiert 15 µmKompensiert 2 µm
• Kompensation des Detektors und der Vergrößerungsachse führen zu sehr guten metrologischen Eigenschaften
• System-Kenngrößen nach VDI 2630-1.3 im Modus „Messung im Bild“ (Statisch):SDMPE(TS) = 4µm+L/100PSMPE(TS) = 3µmPFMPE(TS) = 3µm
• Detailkenntnisse über die Anlagenkomponenten wie Detektor, Manipulator und Röntgenröhre ermöglichen mittels Kompensation eine Optimierung der metrologischen Kenngrößen nach VDI 2630