5/19/2010 1 CÁC PHƯƠNG PHÁP PHÂN TÍCH VẬT LIỆU TÍCH VẬT LIỆU (Materials Characterization) TS. Nguyễn Quốc Chính [email protected]Bài 1: Giới thiệu chung Sự cần thiết của phân tích vật liệu Thành phần Cấu trúc Thành phần nguyên tố Thành phần pha Hình thái Điều chế Xử lý Tính chất Hình thái bề mặt Vi cấu trúc Cơ Quang Điện Từ Nhiệt Hoạt tính xúc tác Phản ứng dung dịch Phản ứng pha rắn Sol gel CVD PVD ALD …
17
Embed
Bai 1-PhuongPhapPTVL-Gioi Thieu Chung [Compatibility Mode]
This document is posted to help you gain knowledge. Please leave a comment to let me know what you think about it! Share it to your friends and learn new things together.
Nguyên tắc phân tích vật liệuTương tác giữa ‘tác nhân thử” với vật liệu tạo ra “tín hiệu”
Vậtliệu
Tác nhân thử(Probe)
Tín hiệu(Signal)
IR, VIS, UVX-RayElectronNeutron…
Thu nhận và phân tích tín hiệu cho thông tin về tính chất của vật liệu
Xu hướng phát triển của quá trình nghiên cứu vật liệu
Đặt hàng
Người ứngdụng
Ngườinghiên cứuNghiên cứu theo
đơn đặt hàng
Lựa chọn
Người ứngdụng
Ngườinghiên cứu
ự ọ
Vật liệu mới
5/19/2010
3
Các loại tương tác
• Tương tác đàn hồi (Elastic)ổ– Không hoặc ít có sự thay đổi năng lượng của tác
nhân thử
• Tương tác không đàn hồi (Inelastic)– Có sự trao đổi năng lượng của tác nhân thử với vật liệu, tạo ra các tín hiệu có năng lượng khác nhau (năng lượng của tác nhân thử bị chuyển một phần thành dạng khác)
Tương tác của dòng electron
EDS WDS thành phần nguyên tốBản đồ phân bố nguyên tố
Ảnh SEM
EDS, WDS, thành phần nguyên tốBản đồ phân bố nguyên tố
Ảnh TEMNhiễu xạ electron (thành phần pha)
5/19/2010
4
Á Ỹ Â ÍCÁC KỸ THUẬT PHÂN TÍCH PHỔ BiẾN
KÍNH HiỂN VI
Quang học: Light MicroscopyĐiện tử quét: Scanning Electron Microscopy (SEM)Điện tử truyền suốt: Tramsmission Electron Microscopy (TEM)Điệ tử l ê tử At i FĐiện tử lực nguyên tử: Atomic Force Microscopy (AFM)
5/19/2010
5
Kính quang học
Alloy Carbides in Iron G3,
5/19/2010
6
SEM
5/19/2010
7
Hình SEM (SE)The image cannot be displayed. Your computer may not have enough memory to open the image, or the image may have been corrupted. Restart your computer, and then open the file again. If the red x still appears, you may have to delete the image and then insert it again.
Hình SEM (BSE)
5/19/2010
8
Phổ EDSNăng lượng (vị trí peak) : đặc trưng cho nguyên tốCường độ (diện tích peak): tỷ lệ với hàm lượng
TEM
5/19/2010
9
TEM
Ảnh TEM
Magnetite nano-monocrystal TiO2 Nanorod made of small precursor particles. The nanorods often present an imperfect oriented attachment along the [001] axis.
5/19/2010
10
AFM
mirror
tipholder
motor control
SPM tip
sample
piezo translat
or
laser beamphotodiode
fluid in fluid out
fluid cell
O-ring
control samplex,y,z piezo translator
AFM
500nm Nano Au MFM Hard Disk
5/19/2010
11
Phương pháp nhiễu xạ
Nhiễu xạ tia X dạng bột: X-Ray Powder Diff ti (XRD d )Diffraction (XRD-powder)Nhiễu xạ tia X đơn tinh thể: X-Ray Single Crystal Diffraction (XRD-single crystal)Nhiễu xạ Electron (thường kết hợp chung với TEM)TEM)
2 XRF x 10 um mm 0.1% all USD 50‐300 K3 EDS x 1 um 0.5 um 500
ppmAll, Z>5 USD 50‐300 K
4 XPS x x 3 nm 150 um 1% All >USD 300 K5 FTIR x x Vài um 20 um all USD 50‐300 K6 Raman x x Vài um 1 um all USD 50‐300 K7 NMR rắn x x x Khối ‐ ‐ all >USD 300 K8 Kính hiển vi
quangx x ‐ 0.2 um ‐ all < USD 50 K
9 SEM x x Sub um 10 nm ‐ all USD 50‐300 K10 AFM, STM x x x Sub A 1 nm ‐ all USD 50‐300 K11 TEM x x x x 200 nm 5 nm ‐ <200
nm dàyUSD 50‐300 K
Nôi dung khóa học 1. Nhiễu xạ tia X: Phân tích định tính và định
lượng phalượng pha 2. Huỳnh quang tia X: Phân tích định tính và
định lượng nguyên tố 3. Phân tích nhiệt 4. Kính hiển vi quang học4. Kính hiển vi quang học5. Kính hiển vi điện tử (SEM, TEM)6. Kính hiển vi đầu dò (STM, AFM)7. Phổ photon tia X (XPS)
5/19/2010
17
Tài liệu tham khảo1. B. D Cullity; S. R. Stock. Elements of X-Ray Diffraction.