26/09/14 Artigo em destaque: Medidas de luminescência para identificar defeitos de filmes finos de óxido de zinco. | SBPMat – Sociedade Brasileira de Pesqui… sbpmat.org.br/artigo-em-destaque-medidas-de-luminescencia-para-identificar-defeitos-de-filmes-finos-de-oxido-de-zinco/?print=1 1/2 Artigo em destaque: Medidas de luminescência para identificar defeitos de filmes finos de óxido de zinco. print Tweet 0 O artigo científico com participação de membros da comunidade brasileira de pesquisa em Materiais em destaque neste mês é: Fernando Stavale, Niklas Nilius, and Hans-Joachim Freund. STM Luminescence Spectroscopy of Intrinsic Defects in ZnO(0001 ) Thin Films . J. Phys. Chem. Lett., 2013, 4 (22), pp 3972–3976. DOI: 10.1021/jz401823c. Texto de divulgação: Medidas de luminescência para identificar defeitos de filmes finos de óxido de zinco. O óxido de zinco (ZnO) é um material muito presente na vida cotidiana. Pode ser encontrado em parafusos, em protetores solares,em catalisadores para a síntese de metanol e em dispositivos optoeletrônicos sofisticados, como telas flexíveis para computadores, citando apenas alguns exemplos. Entretanto, para viabilizar algumas aplicações promissoras, como transistores e novos dispositivos, é importante controlar as propriedades elétricas desse semicondutor, as quais estão relacionadas com defeitos pontuais na sua estrutura atômica. Nesse contexto, três cientistas ligados a instituições da Alemanha e do Brasil realizaram uma identificação dos defeitos pontuais de filmes de óxido de zinco por meio de uma abordagem original, aproveitando a capacidade luminescente (emissão de luz não provocada pelo aquecimento do material) do óxido de zinco. Os pesquisadores prepararam filmes finos de óxido de zinco com diferentes tipos e quantidades de defeitos pontuais. Sistematicamente, os cientistas foram medindo a luminescência de cada um dos filmes e, dessa maneira, conseguiram relacionar picos nas medidas de emissão com diversos tipos de defeitos na rede cristalina. Os resultados do trabalho foram publicados no periódico The Journal of Physical Chemistry Letters (JPCL). “Neste estudo, crescemos filmes ultrafinos de óxido de zinco de alta qualidade e alteramos a quantidade de defeitos pontuais utilizando desorção térmica, foto-desorção induzida por laser e redução por tratamentos em atmosfera controlada de hidrogênio”, detalha Fernando Stavale , pesquisador do Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas (CBPF)que assina o artigo como primeiro autor. A técnica de caracterização Para realizar os experimentos, os cientistas utilizaram um microscópio de varredura por tunelamento (STM, na sigla em inglês) em ultra-vácuo com algumas particularidades destinadas à gerar a luminescência, coletar os fótons emitidos e obter as medidas (os espectros) de luminescência. Com essa configuração, o STM é chamado de fóton-microscópio de tunelamento. De acordo com Stavale, um dos grandes expoentes no desenvolvimento e aplicação dessa técnica é o professor Niklas Nilius, autor para correspondência do artigo do JPCL com quem Stavale trabalhou diretamente durante três anos em seu pós-doutorado no Instituto Fritz-Haber da Sociedade Max-Planck, em Berlim, mais precisamente no departamento de Física Química liderado pelo professor Hans-Joachim Freund, último autor do artigo do JPCL. “O fóton-microscópio de tunelamento tem sido empregado de forma pioneira na caracterização de óxidos metálicos no departamento dirigido pelo professor Freund”, comenta Stavale. “A técnica ainda é pouco utilizada no Brasil e é parte fundamental dos projetos que desenvolvo atualmente no meu grupo de pesquisa no CBPF, localizado no Rio de Janeiro”, finaliza. Uma característica fundamental do fóton-microscópio de tunelamento é a utilização dos elétrons emitidos pela ponta do STM para excitar as amostras e, no caso do óxido de zinco, gerar a luminescência desejada. Esse fenômeno de emissão de luz gerada pelo impacto de elétrons sobre o material é chamado de catôdo-luminescência.