Mikrofalowy nanooscylator oparty na magnetycznym zlączu tunelowym: symulacja i eksperyment M. Czapkiewicz, M. Frankowski, W. Skowroński, T. Stobiecki Katedra Elektroniki, Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie Cel Wstęp Mikrofalowy nanooscylator oparty na magnetycznym złączu tunelowym (Magnetic Tunnel Junction MTJ) generuje sygnal dzięki precesji wektora namagnesowania warstwy swobodnej. Detekcja sygnalu odbywa się poprzez zjawisko spinowo-zależnego tunelowania przez cienką barierę izolatora. Tunelowa magnetorezystancja zlącza zależy od kąta między wektorem namagnesowania warstwy swobodnej i twardej magnetycznie warstwy referencyjnej. Precesja może być wzbudzona zewnętrznym zmiennym polem magnetycznym bądź, wykorzystując spinową polaryzację prądu, transferem spinowego momentu pędu. Podziękowania/acknowledgements: The study was co-financed through the Swiss Contribution, project NANOSPIN-PSPB-045/2010, National Science Centre, grant 11.11.230.016 and Ministry of Science and Higher Education, Diamond Grant, project DI2011001541. Zasada dzialania nanooscylatorów • Stworzone na bazie pakietu OOMMF narzędzie do symulacji swobodnych i wymuszonych oscylacji namagnesowania warstwy swobodnej w nanooscylatorach MTJ, po dopasowaniu parametrów symulacji, prawidlowo odtwarza obserwowaną odpowiedź magnetorezystancyjną zlącza. Ponadto umożliwia ono analizę lokalnych zmian wektorów magnetyzacji, które nie są obserwowane bezpośrednio w eksperymencie. Metody pomiarowe precesji spinu Wnioski • Częstotliwość mikrofalowa nanozlącza może być przestrajana zarówno polem magnetycznym jak też i prądem stalym przeplywającym przez zlącze. Ponieważ oscylacje wektorów namagnesowania odbywają się wokól lokalnego efektywnego pola, które może być niejednorodne, dobroć rezonatora i czystość widmowa zależą nie tylko od stalych materialowych, ale też od wzajemnej orientacji wektorów magnetyzacji warstwy swobodnej i referencyjnej. Symulacje mikromagnetyczne ( ) ( ) s s eff s s s s p s p J J dm dm m H m am m m b m m dt dt γ α γ γ =- × + × - × × - × ur ur ur uur ur ur ur ur ur ur Precesja magnetyzacji pod wplywem efektywnego pola magnetycznego + transfer spinowego momentu pędu wskutek przeplywu spinowo- spolaryzowanego prądu (Spin Transfer Torque STT) – równanie LLG z poprawką Slonczewskiego J. C. Slonczewski, J. Magn. Magn. Mater. 159, L1 (1996) PIMM – uklad cienkowarstwowy przed nanofabrykacją Narzędzie – OOMMF – patrz poster MN|p–29 (M.Frankowski) PIMM pojedynczej warstwy Parametry: 100x100 nm, komórka 2x2x2 nm, Ku = 40 kJ/m 3 A = 13*10 -12 J/m, α= 0.01, t step =1 fs B ex = 10 mT, t w =100 ps 0 5 10 15 20 0.0000 0.0005 0.0010 0.0015 0.0020 0.0025 Frequency (Hz) Amplitude Problem: artefakty z powodu dyskretyzacji brzegu 0 5 10 15 20 0.0000 0.0005 0.0010 0.0015 0.0020 0.0025 0.0030 0.0035 0.0040 Frequency (GHz) Amplitude Rozwiązanie: rozmycie magnetyzacji na brzegu B ex = 10 mT t w =100 ps PIMM ukladu dwóch różnych warstw ferromagnetyka z przekladką (PSV) Parametry: 300x300 nm, komórka 2x2x1 nm, Ku1 = 40 kJ/m 3 , Ku2 =600 kJ/m 3 J EB = +0.0 mJ/m 3 , A = 13*10 -12 J/m, α = 0.01, t step =1 fs Konfiguracja magnetyzacji antyrównolegla (AP) – jeden mod drgań 0 5 10 15 20 25 Frequency (GHz) M y FFT Amplitude [a. u.] 0 5 10 15 20 25 TMR FFT Amplitude [a.u.] f [GHz] AP, H y 10mT/100ms -0.20 -0.15 -0.10 -0.02 0.00 0.02 0.0 0.2 0.4 m z m y m x 0.26 0.28 0.30 0.32 -4.0x10 -13 -2.0x10 -13 0.0 2.0x10 -13 0.0 2.0x10 -12 4.0x10 -12 m z m y m x 0 1 2 -0.1 0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 m y [a.u.] time [ns] 50 51 52 0 100 400 R [Ohm] time [ns] ST-FMR – nanozlącza z kontaktami RF Parametry: • częstotliwość rezonansowa • tlumienie 0 5 10 15 20 25 Frequency (GHz) M x FFT Amplitude [a. u.] 0 5 10 15 20 25 Frequency (GHz) M y FFT Amplitude [a. u.] 0 5 10 15 20 25 Frequency (GHz) M x FFT Amplitude [a. u.] 0 5 10 15 20 25 TMR FFT Amplitude [a.u.] f [GHz] AP, H y 10mT/100ms Konfiguracja magnetyzacji równolegla (P) – dwa mody drgań Porównanie z eksperymentem ST FMR MTJ SAF: CoFeB/MgO/CoFeB/Ru/CoFe/PtMn 3 4 5 6 7 250 350 450 550 650 FFT [a.u.] Frequency [GHz] External magnetic field (Oe) Parametry: 250x125 nm, komórka 2x2x1 nm, Ku FL = 1 kJ/m 3 , Ku RL = 20 kJ/m 3 Ku SAF = 60 kJ/m 3 , J EB(MgO) = +0.006 mJ/m 3 , J EB(Ru) = -0.19 mJ/m 3 EB = 80 mT A = 13*10 -12 J/m, α = 0.017 STO MTJ SAF: 2 4 6 8 10 0 2 4 6 f [GHz] Power (nV/Hz 0.5 ) External H 1000 Oe 500 Oe 200 Oe 0 Oe -200 Oe -500 Oe - 1000 Oe Stworzenie narzędzia mikromagnetycznego opartego na metodzie elementów skończonych (Finite Elements Method FEM) do analizy widma odpowiedzi rezystancyjnej generowanej wskutek precesji swobodnej bądź wymuszonej lokalnych wektorów magnetyzacji w rzeczywistych zlączach MTJ przeznaczonych do pracy jako nanooscylatory. Dopasowanie parametrów w celu otrzymania zgodności z eksperymentem. ( 29 θ sin = y m ( 29 θ - - + = 1 cos 2 P AP P TMR R R R R 2 4 6 8 10 TMR FFT amplitude [a.u.] f [GHz] CoFeB/MgO/CoFeB/Ru/CoFe/PtMn Ku FL = 1 kJ/m 3 , V = 1.0 V (I = 2.4 mA), τ || +τ ⊥ +F Oe H ext >0, AP state H ext <0, P state RL FL SAF 1.0 1.5 2.0 2.5 0 2 4 6 8 10 Power [nV/Hz 0.5 ] Frequency [GHz] DC current -0.5 mA -1 mA -1.5 mA -1.7 mA Tlumiona precesja ← magnetyzacji Oscylacje magnetyzacji modulujące rezystancję → W. Skowroński et al. APEX, 5 (2012) 063005