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1. Portabilità e robustezza 2. Qualità di spettri a T ambiente 3. Riconoscimenti di picchi deboli 4. Costi contenuti 5. Software di identificazione mePix Calibration Supervisors: Samir Arfaoui Mathieu Benoit Student: Damiano Celeste
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1.Portabilità e robustezza 2.Qualità di spettri a T ambiente 3.Riconoscimenti di picchi deboli 4.Costi contenuti 5.Software di identificazione TimePix.

Dec 22, 2015

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Sharyl Hawkins
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Page 1: 1.Portabilità e robustezza 2.Qualità di spettri a T ambiente 3.Riconoscimenti di picchi deboli 4.Costi contenuti 5.Software di identificazione TimePix.

1. Portabilità e robustezza

2. Qualità di spettri a T ambiente

3. Riconoscimenti di picchi deboli

4. Costi contenuti

5. Software di identificazione

TimePix Calibration

Supervisors: Samir ArfaouiMathieu Benoit

Student: Damiano Celeste

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ProcedureProcedure: Sources and XRF spectra acquisitions to obtain a fit to the surrogate function.

Goal: 1) Average calibration of detectors.2) Study of the sensor uniformity and

single pixel calibration.3) Use energy values instead of TOT for

test-beam analysis.

Detectors: Sources:1) A06-W0110: 50μm, V=15V - 55Fe: 5.8 keV2) L04-W0125: 100μm, V=35V - 109Cd: 22.9 keV3) C04-W0110: 50μm, V=15V - 241Am 26.2 keV; 60 keV4) D09-W0126: 300μm, V=35V X-ray fluorescence:5) B06-W0125: 100μm, V=-50V - Indium: 24 kev6) B07-W0125: 100μm, V=40V - Copper: 8 kev

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Previous tate of workFe55 Cd109 Am241 In(XRF) CuZn(XRF)

Av. SPC Av SPC Av. SPC Av. SPC Av. SPC

A06-W0110

L04-W0125

C04-W0110

D09-W0126

B06-W0125

B07-W0125

Done WIP Next steps

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State of workFe55 Cd109 Am241 In(XRF) Cu(XRF)

Av. SPC Av SPC Av. SPC Av. SPC Av. SPC

A06-W0110

L04-W0125

C04-W0110

D09-W0126

B06-W0125

B07-W0125

Done WIP Next steps

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C04-W0110

RECONNECT

RECONNECT

CLOSER SAMPLE

CLOSER SAMPLE

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B07-W0125

COPPER MASK

COPPER MASK

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D09-W0126

COPPER MASK

COPPER MASK

NO MASK

NO MASK

MASK + RECONNECT

MASK + RECONNECT

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C04-W0110: χ2

Source <TOT> Energy Fe55 233 5.9

Cd109 591 ≈22

Am241 635 26.3

1130 59.5

Copper 339 8

Indium 626 24

Source <TOT> Energy Fe55 233 5.9

Cd109 591 ≈22

Am241 633 26.3

1128 59.5

Copper 339 8

Indium 626 24

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Questions and next stepsQuestions:

1. Why and how does the reconnection of the device affect measurements?

2. Which is the best set-up for XRF flourescence?

3. Should we take into account the χ2 factor? How?

4. Does the great amount of events on the detector affect measurements?

Next steps:

5. To try to understand what happens to DAC when reconnecting

6. Using a Co57 source, gamma emission around 8 keV

7. Once obtained good global results Single Pixel Calibration

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-NO RECONNECT-NO MASK-CLOSER SAMPLE

-NO RECONNECT-NO MASK-CLOSER SAMPLE

-NO RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE

-NO RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE

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-RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE

-RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE